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日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測量儀潤道精密華南華中區總代出廠價

產品說明

概述：

是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。SFT系列是本公司標準機型。有適用小型部件的SFT9200、

有適用大型印刷基板的SFT9255。防止樣品和儀器裝備結構不吻合的功能是本系列的標準裝備。

主要特點：

是SFT3000系列的后續機型。

1.依據照明，可以看到以前觀察困難的樣品。

2.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。

3.運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。

4.微小領域的觀察也很容易。搭載了能4階段切換的可變焦距透鏡。（任選）

5.搭載了焦點切換功能，能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。（任選）

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110潤道總代批發價

產品說明

概述：

即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量；

可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

主要特點：

1.通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大

提高樣品定位的操作性。 2.微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

度提高膜厚測量的精度。 3.多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4.廣域觀察系統（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5.對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6.低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110，專注金屬厚度測量

概述：

即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量；

可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

主要特點：

1.通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大

提高樣品定位的操作性。 2.微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

度提高膜厚測量的精度。 3.多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4.廣域觀察系統（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5.對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6.低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9300系列，潤道華南華中總代價格

概述：

高速X射線管球的搭載，實現了高精度的測定。而且配合極微小準直器和光學變焦鏡頭可以實現

極微小部分的測定。更可以對有高低平面差異的樣品進行測定。

主要特點：

1.搭載了75W高性能X射線管。

2.搭載標準的Φ50μm微小準直管（最小Φ15μm）。

3.容易對微小領域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統。

4.依據照明能很容易對以前觀察困難的樣品進行觀察。

5.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。

6.搭載了焦點切換功能，能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。

7.利用伺服馬達精確的驅動平臺。

8.運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

日立儀器X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110華南區授權總代理報價

產品說明

概述：

即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量；

可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

主要特點：

1.通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大

提高樣品定位的操作性。 2.微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

度提高膜厚測量的精度。 3.多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4.廣域觀察系統（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5.對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6.低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

日立儀器X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110，華南區總代理

產品說明

概述：

即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量；

可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

主要特點：

1.通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大

提高樣品定位的操作性。 2.微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

度提高膜厚測量的精度。 3.多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4.廣域觀察系統（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5.對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6.低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

日本日立FT9500X型X射線熒光鍍層厚度測量儀日本日立FT9500X型X射線熒光鍍層厚度測量儀

日本日立FT9500X型X射線熒光鍍層厚度測量儀

日立（EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT9500系列產品,搭載了高性能X射線管，實現了高精度的測定。FT110A極微小準直管和可變焦距光學系統的組合，實現了對極微小部分的測定。對有段差的樣品也適用。

1．FT9500X搭載了50W高性能X射線管。2．FT9500X搭載毛細聚焦導管。3．容易對微小領域進行觀察，FT9500X搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統。4．依據照明能很容易對以前觀察困難的樣品進行觀察。5．FT9500X搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。6．搭載了焦點切換功能，FT9500X能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。7．FT9500X利用伺服馬達精確的驅動平臺。7．FT9500X運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。

該公司產品分類：離子色譜儀 X熒光光譜儀

日本日立FT110A型X射線熒光鍍層厚度測量儀日本日立FT110A型X射線熒光鍍層厚度測量儀

日本日立FT110A型X射線熒光鍍層厚度測量儀

日立（主營EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）FT110A系列產品,搭載了高性能X射線管，實現了高精度的測定。FT110A極微小準直管和可變焦距光學系統的組合，實現了對極微小部分的測定。對有段差的樣品也適用。

1．FT110A搭載了50W高性能X射線管。2．FT110A搭載標準的Φ50μm微小準直管（最小Φ15μm）。3．容易對微小領域進行觀察。FT110A搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統。4．依據照明能很容易對以前觀察困難的樣品進行觀察。5．FT110A搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。6．搭載了焦點切換功能，FT110A能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。7．FT110A利用伺服馬達精確的驅動平臺。7．FT110A運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。

該公司產品分類：離子色譜儀 X熒光光譜儀

FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射線熒光鍍層厚度測量儀FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射線熒光鍍層厚度測量儀

FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射線熒光鍍層厚度測量儀

日立（主營EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）,FT110A系列產品,搭載了性能X射線管，實現了高精度的測定。FT110A極微小準直管和可變焦距光學系統的組合，實現了對極微小部分的測定。對有段差的樣品也適用。1. 高速測量：通過X射線檢測機的改良，對于極具代表性的Au／Pd／Ni／Cu（金／鈀／鎳／銅）多鍍層測量，相比以前機型，效率提高了2倍以上。2. 對應超小型的芯片零部件的厚度測量（FT150h：FT150h通過最新開發的聚光導管，可以測量超小型芯片零部件（電容、電阻等）的電極部的鍍層厚度測量。3. 兼顧安全性和簡便性：采用防止X射線泄露的密集型框架和大開口且可以方便開啟和關閉的樣品門，兼顧安全性和簡便性。「FT150L」可以對應最大600×600mm的大型線路板。

X射線熒光鍍層厚度儀「FT150系列」（FT150／FT150h／FT150L）是采用聚光X射線的聚光導管，可對微小部的鍍層厚度進行高速測量的高性能儀器。通過X射線檢測儀器的改良，在線路板和連接器等使用的Au／Pd／Ni／Cu（金／鈀／鎳／銅）多鍍層檢測中，其測量速度與本公司以往機型（FT9500X，以下相同）相比，提高了2倍以上。在「FT150h」里通過新開發的聚光導管也可以測量超小型芯片零部件的端子鍍層厚度。而且跟以往機型相同，為操作員的安全和安心考慮，采用X射線泄露的可能性極小的密集型框架。新設計的樣品室門采用大開口，同時保證了開啟和關閉的便捷性。并且通過大型觀察窗口，可以方便地取放和定位樣品。另外，操作軟件通過圖標和便捷畫面在提高了操作性的同時，可通過數據自動保存功能減輕操作員的業務。通過這些改進，「FT150系列」實現了高精度?迅速的鍍層厚度測量，為測量工作的效率化和成本削減做出了貢獻。

該公司產品分類：離子色譜儀 X熒光光譜儀

SFT9400系列X射線熒光鍍層厚度測量儀

概述：

SFT9000系列里最好的機型“SFT9455”，搭載75W高速X射線管和雙重檢驗裝置（半導體檢驗裝置十比

例計數管）。適用“薄膜”、“金屬膜”、“極微小部分測定”等所有鍍膜膜厚測定要求的高性能膜

厚測量儀器。而且 “SFT9455”在鍍膜厚度測量功能的基礎上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。

主要特點：

搭載雙向分離工檢測器（半導體檢測器+比例計數管）：搭載在X射線能量分辨率上，優秀的半導體檢測器

（起作用液化氮）和計數率優秀的比例計數管，能夠根據運用需要對應使用。特點是半導體檢測器，能夠

區分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點：

1.能夠對Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進行測定。

2.對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進行高精度的Au鍍膜厚度測定。　　　

3.能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。

4.薄膜FP軟件：對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域。

5.適用測定極微小部分,15μmΦ的準直管為標準裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度。　　

6.搭載75W高性能X射線管。

7.容易對微小領域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統。

8.能夠測定大型打印基板的大型平臺。

9.依據照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。

10.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。

11.利用伺服馬達精確的驅動平臺。

12.正確的對焦,利用激光能夠正確得對焦測試樣品。

13.報告制作軟件,運用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數據制作成書面材料。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

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日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測量儀潤道精密華南華中區總代出廠價

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110潤道總代批發價

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110，專注金屬厚度測量

日本日立高科X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9300系列，潤道華南華中總代價格

日立儀器X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110華南區授權總代理報價

日立儀器X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110，華南區總代理

日本日立FT9500X型X射線熒光鍍層厚度測量儀日本日立FT9500X型X射線熒光鍍層厚度測量儀

日本日立FT110A型X射線熒光鍍層厚度測量儀日本日立FT110A型X射線熒光鍍層厚度測量儀

FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射線熒光鍍層厚度測量儀FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射線熒光鍍層厚度測量儀

SFT9400系列X射線熒光鍍層厚度測量儀

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