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SFT9400系列南京鍍層厚度測量儀，X射線熒光鍍層厚度測量儀（SFT9400系列）,

產品簡介

　　產品副名稱：可滿足所有度層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層厚度測量儀　　產品型號：SFT9400、SFT9450、SFT9455 　　產品特點：　　★搭載有高功率X射線管及雙檢測器（半導體檢測器＋比例計數管）　　可對應組合復雜的應用程序，特別是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。　　能夠對Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量　　對于含Br的電路板，可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高精度的測量　　可測量0.01μm以下的超薄的Au鍍層厚度　　★搭載塊體FP發軟件和薄膜FP法軟件　　對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域　　★適用超微小面積的測量　　標準配備的15μmΦ的準直器，可對超微小面積進行測量。　　★搭載了可3段切換的變焦距光學系統　　★擁有防沖撞功能　　★搭載高精度樣品平臺，更可測量大型線路板（SFT9455）　　★搭載激光對焦系統　　★搭載測試報告自動生成軟件　　　　產品特征：　　　　為了對應電子工業當中越來越復雜的鍍金工藝而設計，是在以往的SFT9300的基礎上升級的產品。他繼承了SFT9300的75W高功率X射線管，還配備雙檢測器（半導體檢測器＋比例計數管）。是SFT9000系列里級的機型，能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“超微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的高性能鍍層厚度測量儀。此外，SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎上，新增了可對不同被測物體積材料進行定性分析和成分分析的功能。　　產品介紹：　　SFT9400系列產品規格　　型號：SFT9400／SFT9450／SFT9455 　　儀器的特長：微小面積對應及高性能型　　可測量元素：原子序號22（Ti）～83（Bi）　　X射線源：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（Mo靶）　　管電壓：50kV管電流：1.5mABe窗　　濾波器：一次濾波器：Mo-自動切換　　二次濾波器：無　　照射方式:上方垂直照射方式　　檢測器:半導體檢測器＋比例計數管（不需液氮的檢測器）　　儀器校正:自動校正＋手動校正　　準直器（標準配置）:○型（4種）　　安全性能:樣品室門鎖，樣品防沖撞功能　　樣品圖像對焦:有（激光對焦）　　樣品觀察:CCD攝像頭＋倍率光學器＋鹵素燈照明　　焦點切換功能:3段切換9400：10／40／70mm 　　9450：10／25／40mm 　　X-rayStation 臺式電腦　　（OS；MS-WindowsXP®）　　打印噴墨打印機　　應用單層、雙層、多成分合金薄膜、成分比同時測量、化學鎳　　軟件塊體FP法軟件、薄膜FP法軟件　　測量功能：自動測量、中心搜索、圖像識別處理　　修正功能：基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正　　統計處理功能：MS-EXCEL® 　　報告制作功能：MS-WORD®

該公司產品分類：熒光分析熱分析表面分析拉拔儀環境箱測厚儀建工量具無損檢測制樣設備硬度計試驗機元素分析儀器附配件分析儀器檢測儀器試驗機

SFT9300南京X射線熒光鍍層厚度測量儀

產品簡介

　　適用于手機零件等微小的電子部件等樣品，專門配備了微型準直器（最小15μm）和75W（50kV，1mA）高功率X射線管，滿足測量微小區域及高精度的需求。測量樣品的微小部時與以往的機種相比，得出相同度的前提下大大縮短了測量時間。（SFT9300、SFT9350、SFT9355）　　　　產品介紹：　　SFT9300系列產品規格　　型號：SFT9300／SFT9350／SFT9355 　　儀器的特長：微小面積對應型　　可測量元素：原子序號22（Ti）～83（Bi）　　X射線源：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（Mo靶）　　管電壓：50kV管電流：1.5mABe窗　　濾波器：一次濾波器：Mo-自動切換　　二次濾波器：Co-自動切換　　照射方式：上方垂直照射方式　　檢測器：比例計數管　　儀器校正：自動校正　　準直器（標準配置）：○型（三種）　　□型（三種）　　安全性能：樣品室門鎖，樣品防沖撞功能　　樣品圖像對焦：有（激光對焦）　　樣品觀察：CCD攝像頭＋倍率光學器＋鹵素燈照明　　焦點切換功能：3段切換9300：10／40／70mm 　　9350：10／25／40mm 　　應用單層、雙層、多成分合金薄膜、成分比同時測量、化學鎳　　軟件塊體FP法軟件、薄膜FP法軟件　　測量功能：自動測量、中心搜索、圖像識別處理　　修正功能：基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正　　統計處理功能：MS-EXCEL® 　　報告制作功能：MS-WORD®

該公司產品分類：熒光分析熱分析表面分析拉拔儀環境箱測厚儀建工量具無損檢測制樣設備硬度計試驗機元素分析儀器附配件分析儀器檢測儀器試驗機

SFT9200南京X射線熒光鍍層厚度測量儀，SEIKOSFT3000改進機型

產品簡介

　　是改進SEIKOSFT3000而上市的一種新產品，添加了SFT3000系列沒有的激光對焦，自動樣品臺等功能，使使用者操作更簡便更快捷的儀器。與他社儀器相比具有2048通道的MCA采樣分析電路，大大減小了分析誤差并配備了5種圓形，方形準直器，不受樣品形狀的影響能夠更地進行測量。　　　　產品介紹：　　型號：SFT9200／SFT9250／SFT9255 　　儀器的特長：廣泛應用型　　可測量元素：原子序號22（Ti）～83（Bi）　　X射線源：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）　　管電壓：45kV管電流：1mABe窗　　濾波器：一次濾波器：A1-自動切換　　二次濾波器：Co-自動切換　　照射方式：上方垂直照射方式　　檢測器：比例計數管　　儀器校正：自動校正　　準直器（標準配置）：○型（三種）　　□型（三種）　　安全性能：樣品室門鎖，樣品防沖撞功能　　樣品圖像對焦：有（激光對焦）　　樣品觀察：CCD攝像頭固定倍率、鹵素燈照明　　焦點切換功能：3段切換9200：10／40／70mm 　　9250：10／25／40mm 　　應用單層、雙層、多成分合金薄膜、成分比同時測量、無電解鎳（最多可測5層）　　軟件薄膜FP法軟件　　測量功能：自動測量、中心搜索、圖像處理　　修正功能：基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正　　統計處理功能：MS-EXCEL® 　　報告制作功能：MS-WORD®

該公司產品分類：熒光分析熱分析表面分析拉拔儀環境箱測厚儀建工量具無損檢測制樣設備硬度計試驗機元素分析儀器附配件分析儀器檢測儀器試驗機

SFT-110型南京X射線熒光鍍層厚度測量儀

［SFT-110的主要特征］1. 通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大提高樣品定位的操作性。2. 微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。3. 多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。4. 廣域觀察系統（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像測量位置。5. 對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。6. 低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。［主要產品規格］檢測器：比例計數管X射線源：空冷式小型X射線管準直器： 0.1、0.2mmφ2種樣品觀察： CCD攝像頭樣品臺移動量：250（X）×200（Y）mm樣品最大高度：150mm

該公司產品分類：熒光分析熱分析表面分析拉拔儀環境箱測厚儀建工量具無損檢測制樣設備硬度計試驗機元素分析儀器附配件分析儀器檢測儀器試驗機

SII日本精工X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT110那家最便宜

產品說明

概述：

即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量；

可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

主要特點：

1.通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大

提高樣品定位的操作性。 2.微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

度提高膜厚測量的精度。 3.多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4.廣域觀察系統（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5.對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6.低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

SII日本精工X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9400系列價格多少

產品說明

概述：

SFT9000系列里最好的機型“SFT9455”，搭載75W高速X射線管和雙重檢驗裝置（半導體檢驗裝置十比

例計數管）。適用“薄膜”、“金屬膜”、“極微小部分測定”等所有鍍膜膜厚測定要求的高性能膜

厚測量儀器。而且 “SFT9455”在鍍膜厚度測量功能的基礎上還可以用作異物定性分析和材料成分分析。

主要特點：

搭載雙向分離工檢測器（半導體檢測器+比例計數管）：搭載在X射線能量分辨率上，優秀的半導體檢測器

（起作用液化氮）和計數率優秀的比例計數管，能夠根據運用需要對應使用。特點是半導體檢測器，能夠

區分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點：

1.能夠對Ni/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進行測定。

2.對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進行高精度的Au鍍膜厚度測定。　　　

3.能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。

4.薄膜FP軟件：對應含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領域。

5.適用測定極微小部分,15μmΦ的準直管為標準裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度。　　

6.搭載75W高性能X射線管。

7.容易對微小領域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統。

8.能夠測定大型打印基板的大型平臺。

9.依據照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。

10.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。

11.利用伺服馬達精確的驅動平臺。

12.正確的對焦,利用激光能夠正確得對焦測試樣品。

13.報告制作軟件,運用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數據制作成書面材料。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

SII日本精工X射線熒光鍍層厚度測量儀華南區總代特優價

產品說明

概述：

X射線發生系統為X射線聚焦光學系統（聚焦導管）與X射線源相結合，并且可以照射出實際照射直徑

為 0.1mmφ以下高強度的X射線束。為此，可以對以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強度不足而

無法得到理想精度的導線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進行測量。同時搭載高計數率、

高分辨率的半導體檢測器，在測量鍍層厚度的同時，也能對RoHS、ELV、中國版RoHS等法規所管制的

有害物質進行分析測量。

主要特點：

1.X射線發生系統采用了聚光導管由于采用了X射線聚光導管方式，可得到以往十倍以上的X射線強度，

從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質測量的精度。

2.無需液氮的半導體檢測器在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時，高分辨率的檢測器是必不可少的。

SFT9500的檢測器不但可以達到高分辨率，而且可以實現高計數率。同時，由于使用了電子冷卻方式，

所以無需液氮。

3.能譜匹配軟件（選配件）可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。

對識別材料十分有效。

4.塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析）（選配件）可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。

5.繪圖軟件（選配件）將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。

6.電鍍液容器（選配件）

7.各種標準物質（選配件）

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

SII日本精工X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9300系列專注金屬鍍層測量

產品說明

概述：

高速X射線管球的搭載，實現了高精度的測定。而且配合極微小準直器和光學變焦鏡頭可以實現

極微小部分的測定。更可以對有高低平面差異的樣品進行測定。

主要特點：

1.搭載了75W高性能X射線管。

2.搭載標準的Φ50μm微小準直管（最小Φ15μm）。

3.容易對微小領域進行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學系統。

4.依據照明能很容易對以前觀察困難的樣品進行觀察。

5.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。

6.搭載了焦點切換功能，能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。

7.利用伺服馬達精確的驅動平臺。

8.運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

SII日本精工X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9200系列華南區總代理特優價

產品說明

概述：

是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。SFT系列是本公司標準機型。有適用小型部件的SFT9200、

有適用大型印刷基板的SFT9255。防止樣品和儀器裝備結構不吻合的功能是本系列的標準裝備。

主要特點：

是SFT3000系列的后續機型。

1.依據照明，可以看到以前觀察困難的樣品。

2.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。

3.運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。

4.微小領域的觀察也很容易。搭載了能4階段切換的可變焦距透鏡。（任選）

5.搭載了焦點切換功能，能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。（任選）

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

日本無損膜厚儀檢測，X射線熒光鍍層厚度測量儀潤道精密華南區總代理特價

產品說明

概述：

即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量；

可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

主要特點：

1.通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大

提高樣品定位的操作性。 2.微區膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅

度提高膜厚測量的精度。 3.多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4.廣域觀察系統（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5.對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6.低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

產品規格：

該公司產品分類：尼康卡規、角度尺、水平儀步距規、量塊、測厚規測長儀數碼工程打印機其他各種常用量具數顯表、百分表、杠桿表卡尺、千分尺、微分頭材料試驗機除銹油美國施泰力東京精密三坐標測量機涂層測厚儀鍍層測厚儀測量投影儀、影像測量儀電子天平、水分測試儀色差、光澤計齒輪測量儀顯微鏡、內窺鏡

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SFT9400系列南京鍍層厚度測量儀，X射線熒光鍍層厚度測量儀（SFT9400系列）,

SFT9300南京X射線熒光鍍層厚度測量儀

SFT9200南京X射線熒光鍍層厚度測量儀，SEIKOSFT3000改進機型

SFT-110型南京X射線熒光鍍層厚度測量儀

SII日本精工X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT110那家最便宜

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