掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設(shè)計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-12-01
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-12-01
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-12-01
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-12-01
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-12-01
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-12-01
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-12-01
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-12-01
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-12-01
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-01
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-12-01
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-01
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-12-01
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對各類半導(dǎo)體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時間:2025-12-01
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-12-01
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0221液化石油氣密度或相對密度測定法(壓力密度計法)
更新時間:2025-12-01
標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0059潤滑油燕發(fā)損失的測定諾亞克法
更新時間:2025-12-01
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設(shè)備;工業(yè)計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū)，并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時間:2025-12-01
場發(fā)射掃描電子顯微鏡regulus8200 被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)，半導(dǎo)體?電子行業(yè)，生命科學(xué)，材料科學(xué)等領(lǐng)域的材料結(jié)構(gòu)觀察。近年來，新一代的電子器件應(yīng)用中受到廣泛期待的新型碳材料，高分子材料，復(fù)合材料等的研究作為先進科學(xué)技術(shù)的中堅技術(shù)，在全世界范圍內(nèi)受到熱捧。
更新時間:2025-12-01
nx2000新型雙束系統(tǒng)（超高精密聚焦離子束fib和高分辨場發(fā)射電鏡fe-sem），具有高效率的樣品制備能力、高精度納米微加工能力和高分辨圖像觀察能力。新的低損傷加工技術(shù)可以很好的滿足感光材料和電子束曝光應(yīng)用的需求；而新開發(fā)的微樣品取樣、樣品裝載和樣品導(dǎo)航功能則進一步提高了分析效果。
更新時間:2025-12-01
nx9000可以自動重復(fù)進行fib制備截面和掃描電鏡觀察，能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現(xiàn)特定顯微切片的三維結(jié)構(gòu)分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結(jié)構(gòu)，而不是常見的對角構(gòu)造。這種形式是進行三維結(jié)構(gòu)分析最理想的結(jié)構(gòu)，能夠穩(wěn)定收集準(zhǔn)確反映樣品的真實結(jié)構(gòu)的圖像。
更新時間:2025-12-01
su7000采用全新設(shè)計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。su7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標(biāo)配超大樣品倉，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
更新時間:2025-12-01
mi4050是高效率的聚焦離子束設(shè)備，它使用了全新的電子光學(xué)系統(tǒng)，具有世界領(lǐng)先的sim圖像分辨率，并且tem樣品制備效果優(yōu)異。mi4050廣泛用于截面觀察、微電路修復(fù)、納米圖像制備和納米沉積等。
更新時間:2025-12-01
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-12-01
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。
更新時間:2025-12-01
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-12-01
立高新技術(shù)公司于2016年4月15日在全球發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡-flexsem 1000。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時操作極其簡便，幾乎不用培訓(xùn)就可操作。緊湊型設(shè)計，分辨率為4 nm。
更新時間:2025-12-01
2014年8月4日，日立高新推出新款臺式電鏡tm3030plus。tm3030plus配置了高靈敏度的探測器，可以在低真空狀態(tài)下觀察二次電子圖像，并且無需樣品制備即可進行實時二次電子成像。
更新時間:2025-12-01
tm3030臺式顯微鏡采用標(biāo)準(zhǔn)電源插座，可在任何時候成像。僅在使用時需要電源，這是一款節(jié)約能源，生態(tài)友好型系統(tǒng)。
更新時間:2025-12-01
日立高新掃描電子顯微鏡su1510 結(jié)構(gòu)緊湊，性能高。與現(xiàn)有型號相比，減少了20%的體積。標(biāo)配可變壓力模式。保證30 kv電壓時，二次電子3.0 nm的分辨率，背散射電子4.0 nm（6帕），可滿足直徑153 mm，高60 mm的樣品，采用tmp真空系統(tǒng)，節(jié)省占地面積和電源功耗。
更新時間:2025-12-01
該顯微鏡采用可變壓力（vp）技術(shù)，除了具有高分辨率成像和樣品物性表征特性外，還支持x 射線能譜儀， x射線波譜儀以及電子背散射衍射系統(tǒng)進行各種樣品分析。在可變壓力模式下，操作者可改變樣品室的真空狀態(tài)由高真空狀態(tài)改為低真空狀態(tài)。
更新時間:2025-12-01
* 含水樣品也無需前處理即可在大氣壓下進行sem觀察* 從低真空到大氣壓（數(shù) pa～105 pa），可在大范圍壓力下進行sem觀察* 標(biāo)準(zhǔn)搭載es-corrector（電子束散射校正）圖像改善功能* 在真空模式下，除了通常的sem觀察之外，還可進行edx分析（選配）* 主機采用330 mm寬度的小型設(shè)計，實現(xiàn)節(jié)省空間和高便利性* 無需等待抽真空時間，快速實現(xiàn)從搭載樣品到觀察圖像
更新時間:2025-12-01
日立高新高畫質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡su3500, 圖象質(zhì)量更進一步。通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進科技“獨具匠心”。日立高新鎢燈絲掃描電鏡su3500具有實現(xiàn)了“3kv加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能”
更新時間:2025-12-01
hitachi´s high performance fib-sem provides unparalleled nano-analyses of devices and functional materials !!
更新時間:2025-12-01
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監(jiān)測ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產(chǎn)水水質(zhì)進水要求
更新時間:2025-12-01
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監(jiān)測ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產(chǎn)水水質(zhì)進水要求
更新時間:2025-12-01
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監(jiān)測ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產(chǎn)水水質(zhì)進水要求
更新時間:2025-12-01
最新產(chǎn)品
- 德國Pantron全品類集結(jié)！希而科代理進口安全光柵 + 紅外傳感器 + 信號處理設(shè)備，進口品質(zhì)無憂 2025/12/1 18:49:01
- 控制器MDX61B0075-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:57:20
- 模塊MDX61B0005-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:56:28
- 控制器MDX61B0370-503-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:55:39
- 控制器MDX61B0014-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:54:46
- 模塊MDX61B0040-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:53:56
- 控制器MDX61B1320-503-4-00工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:51:24
- 觸摸屏MDX61B0220-503-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:49:00
- 觸摸屏MDX61B0014-5A3-4-00工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:47:27
- 觸摸屏MDX61B0008-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:44:50
- 模塊MDX61B0022-5A3-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:44:09
- 觸摸屏MDX61B0750-503-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:43:25
- 觸摸屏MDX61B0014-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:42:32
- 觸摸屏MDX61B0750-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:41:41
- 觸摸屏MDX61B0075-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:39:19
- 控制器MDX61B0550-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:38:33
- 模塊MDX61B0450-503-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:37:40
- 控制器MDX61B0220-503-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:36:55
- 模塊MDX61B0011-5A3-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:35:10
- 觸摸屏MDX61B1320-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:34:28
- 模塊MDX61B0075-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:32:52
- 模塊MDX61B0220-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:32:03
- 觸摸屏MDX61B0450-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:31:13
- 模塊MDX61B0055-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:30:24
- 控制器MDX61B0300-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:29:36
- 控制器MDX61B0450-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:27:56
- 控制器MDX61B0015-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:27:03
- 控制器MDX61B0075-5A3-4-00工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:26:14
- 觸摸屏MDX61B0040-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:24:29
- 控制器MDX61B0040-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:22:46