掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發現。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-12-01
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統,適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設定。
更新時間:2025-12-01
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-12-01
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-12-01
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業速度。
更新時間:2025-12-01
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-12-01
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-01
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環境。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統 jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 雙束加工觀察系統 jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統，在1kv低加速電壓下,實現了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-12-01
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-12-01
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-01
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
更新時間:2025-12-01
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業需求。
更新時間:2025-12-01
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-12-01
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設備;工業計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內部結構的體積。蔡司是快速ct的先驅，并且能夠在生產周期中對組件進行完整的以體積為基礎的檢查。
更新時間:2025-12-01
場發射掃描電子顯微鏡regulus8200 被廣泛應用于納米技術，半導體?電子行業，生命科學，材料科學等領域的材料結構觀察。近年來，新一代的電子器件應用中受到廣泛期待的新型碳材料，高分子材料，復合材料等的研究作為先進科學技術的中堅技術，在全世界范圍內受到熱捧。
更新時間:2025-12-01
nx2000新型雙束系統（超高精密聚焦離子束fib和高分辨場發射電鏡fe-sem），具有高效率的樣品制備能力、高精度納米微加工能力和高分辨圖像觀察能力。新的低損傷加工技術可以很好的滿足感光材料和電子束曝光應用的需求；而新開發的微樣品取樣、樣品裝載和樣品導航功能則進一步提高了分析效果。
更新時間:2025-12-01
nx9000可以自動重復進行fib制備截面和掃描電鏡觀察，能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現特定顯微切片的三維結構分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結構，而不是常見的對角構造。這種形式是進行三維結構分析最理想的結構，能夠穩定收集準確反映樣品的真實結構的圖像。
更新時間:2025-12-01
su7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。su7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
更新時間:2025-12-01
mi4050是高效率的聚焦離子束設備，它使用了全新的電子光學系統，具有世界領先的sim圖像分辨率，并且tem樣品制備效果優異。mi4050廣泛用于截面觀察、微電路修復、納米圖像制備和納米沉積等。
更新時間:2025-12-01
在以納米技術和生物技術為主的產業領域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-12-01
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。
更新時間:2025-12-01
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續機型開發的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-12-01
立高新技術公司于2016年4月15日在全球發布了新型掃描電子顯微鏡-flexsem 1000。該產品結構緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時操作極其簡便，幾乎不用培訓就可操作。緊湊型設計，分辨率為4 nm。
更新時間:2025-12-01
2014年8月4日，日立高新推出新款臺式電鏡tm3030plus。tm3030plus配置了高靈敏度的探測器，可以在低真空狀態下觀察二次電子圖像，并且無需樣品制備即可進行實時二次電子成像。
更新時間:2025-12-01
日立高新掃描電子顯微鏡su1510 結構緊湊，性能高。與現有型號相比，減少了20%的體積。標配可變壓力模式。保證30 kv電壓時，二次電子3.0 nm的分辨率，背散射電子4.0 nm（6帕），可滿足直徑153 mm，高60 mm的樣品，采用tmp真空系統，節省占地面積和電源功耗。
更新時間:2025-12-01
該顯微鏡采用可變壓力（vp）技術，除了具有高分辨率成像和樣品物性表征特性外，還支持x 射線能譜儀， x射線波譜儀以及電子背散射衍射系統進行各種樣品分析。在可變壓力模式下，操作者可改變樣品室的真空狀態由高真空狀態改為低真空狀態。
更新時間:2025-12-01
* 含水樣品也無需前處理即可在大氣壓下進行sem觀察* 從低真空到大氣壓（數 pa～105 pa），可在大范圍壓力下進行sem觀察* 標準搭載es-corrector（電子束散射校正）圖像改善功能* 在真空模式下，除了通常的sem觀察之外，還可進行edx分析（選配）* 主機采用330 mm寬度的小型設計，實現節省空間和高便利性* 無需等待抽真空時間，快速實現從搭載樣品到觀察圖像
更新時間:2025-12-01
日立高新高畫質的鎢燈絲掃描電鏡su3500, 圖象質量更進一步。通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進科技“獨具匠心”。日立高新鎢燈絲掃描電鏡su3500具有實現了“3kv加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學系統, 可實現實時立體成像的“實時立體觀察功能”
更新時間:2025-12-01
hitachi´s high performance fib-sem provides unparalleled nano-analyses of devices and functional materials !!
更新時間:2025-12-01
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-12-01
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-12-01
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-12-01
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。
更新時間:2025-12-01
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-12-01
、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-12-01
1、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-12-01
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