測厚儀產品及廠家
針式測厚儀是我廠根據用戶的要求自主研發的新一代產品，之前，礦物棉及其制品的厚度檢測都是用其他儀器代替，我公司的這一研發成果，填補了這一空白，是檢測數據更準確，操作起來更加方便和簡單，針式測厚儀根據gbt5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》標準設計的，適用于礦物棉及其制品的厚度測量。syl-d針式測厚儀
更新時間:2025-12-02
syl-e型板式測厚儀的研發成功，是滄州智晟試驗儀器廠在厚度測量儀器方面的又一貢獻，這款厚度儀的出世，標準著礦物棉的厚度測量更加精細化，各個指標的檢測更加明晰化，實驗效果更加準確。本厚度儀適用于由礦物棉制成的板、帶厚度的測量。該測厚儀是依據gb/t5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》設計制造的。具有結構簡單、操作方便、測量范圍大等特點。
更新時間:2025-12-02
電子萬能試驗機 xh適用于金屬、非金屬、泡沫板材、保溫材料、、 、編織物、紙張、布匹防水卷材及小截面金細絲等制品進行拉伸、壓縮、彎曲、剪切、剝離、撕裂、等試驗，具有造型美觀，性能穩定，使用方便等優點。
更新時間:2025-12-02
ø 測量范圍：0.05～75μmø 可以測量70種以上的鍍層/基體組合ø 可以測量平面、曲面上的鍍層ø 可以測量小零件、導線、線狀零件ø 預置10種金屬的測量參數：cr鉻、ni鑷、cu銅、黃銅、zn鋅、ag銀、sn錫、pb鉛、cd鎘、au金ø 用戶可另設8種金屬的測量參數ø 測量面積：0.25/4/8mm2ø 存儲：2000個讀數和統計值ø 統計功能：平均值、標準偏差、變異系數、最大、最小、讀數個數
更新時間:2025-12-02
針式測厚儀是滄州美特斯儀器有限公司根據用戶的要求自主研發的新一代產品，之前，礦物棉及其制品的厚度檢測都是用其他儀器代替，我公司的這一研發成果，填補了這一空白，是檢測數據更準確，操作起來更加方便和簡單，針式測厚儀根據gbt5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》標準設計的，適用于礦物棉及其制品的厚度測量。
更新時間:2025-12-02
一、礦物棉板式測厚儀的研發成功，是滄州美特斯儀器有限公司在厚度測量儀器方面的又一貢獻，這款厚度儀的出世，標志著礦物棉的厚度測量更加精細化，各個指標的檢測更加明晰化，實驗效果更加準確。本厚度儀適用于由礦物棉制成的板、帶厚度的測量。該測厚儀是依據gb/t5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》設計制造的。具有結構簡單、操作方便、測量范圍大等特點。
更新時間:2025-12-02
塑料薄膜和薄片測厚儀型號為tsy-35型。適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
更新時間:2025-12-02
針式測厚儀根據gb/t 5480-2008 《礦物棉及其制品試驗方法》標準設計的，適用于礦物棉及其制品的厚度測量。使用方法： 將被測試樣平整放在硬質平板上，松開測針底部的擰緊螺母，將儀器輕放在被測試樣上，慢慢將測針插入被測試樣中，直至底部，看刻度尺指針滑塊平行處所指厚度，即為被測試樣厚度。
更新時間:2025-12-02
礦物棉板式測厚儀適用于由礦物棉制成的板、帶厚度的測量。該測厚儀是依據gb/t5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》設計制造的。具有結構簡單、操作方便、測量范圍大等特點。
更新時間:2025-12-02
數顯針式測厚儀根據gbt5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》標準設計的，適用于礦物棉及其制品的厚度測量。使用方法：將被測試樣平整放在硬質平板上，松開測針底部的擰緊螺母，將儀器輕放在被測試樣上，慢慢將測針插入被測試樣中，直至底部，看刻度尺指針滑塊平行處所指厚度，即為被測試樣厚度。
更新時間:2025-12-02
針式測厚儀適用于礦物棉及其制品的厚度測量。檢測數據準確，操作方便、簡單。依據gbt5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》標準設計的。
更新時間:2025-12-02
板式測厚儀是依據gb/t5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》設計制造的。本厚度儀適用于由礦物棉制成的板、帶厚度的測量。
更新時間:2025-12-02
產 品 說 明 概述： 即放即測；10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量； 可無標樣測量；通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！ 主要特點： 1.通過自動定位功能提高操作性 測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大 提高樣品定位的操作性。
更新時間:2025-12-02
1.即放即測！2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！ 3.可無標樣測量！4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！
更新時間:2025-12-02
c640硅片測厚儀 薄片厚度測定儀 鋰電隔膜測厚儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-01
紙張厚度測試儀 紙板厚度儀 紙板厚度測試儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-01
labthink電子紙張測厚儀 臺式紙張厚度儀 紙張厚度測定儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-01
接觸式壓力測厚儀 無紡布厚度測試儀 無紡布厚度測量儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-01
chy-c2a藥用鋁箔測厚儀 鋁箔厚度測量儀 藥用鋁箔厚度儀——采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
x-strata920xrf ，鍍層測厚儀，若不足一微米在您的鍍層測量業務成敗中舉足輕重，電子或金屬表面處理， x-strata920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。山東總代：青島浩正科儀智能技術有限公司 hzzn-qd 15-2。53，20。13-71
更新時間:2025-12-01
gb/t 6672臺式薄膜測厚儀 包裝薄膜厚度測定儀labthink——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
臺式測厚儀 電子鋁箔測厚儀 壓力測厚儀c640——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-01
c640無紡布測厚儀 織物測厚度儀 紡織品厚度測試儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
更新時間:2025-12-01
c640橡膠片材測厚儀 實驗室厚度儀 高精度測厚測定儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
無紡布厚度測定儀 紡織品厚度檢測儀 紡織品測厚儀（型號c640）采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
更新時間:2025-12-01
鋁箔厚度儀 鋁箔厚度檢測儀 鋁箔厚度測量儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
gb/t 451.3接觸式紙張厚度儀 電子式紙張厚度測定儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
紙板厚度測定儀 紙板厚度檢測儀 紙板厚度測量儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
薄片測厚儀 金屬片測厚儀 臺式膜厚儀膜厚計——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
chy-c2a銅箔測厚儀 銅箔厚度儀 銅箔厚度測試儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
chy-c2a紙張測厚儀、紙張厚度儀、紙張厚度測定儀，采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
紙板紙張測厚儀 gb/t 6547瓦楞紙板厚度測試儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-01
thick 8000智能型自動鍍層測厚儀是天瑞集多年的經驗，專門針對鍍層厚度測量而精心設計的款新型儀器，精密的三維移動平臺、的圖像識別，及大面積高分辨率的探測器，能夠的測出汽車涂層。
更新時間:2025-12-01
thick 800a是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的款儀器，可自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在汽車涂覆層測厚中可謂大展身手。
更新時間:2025-12-01
江浙滬金手指鍍層厚度測厚儀是一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統的鍍層測厚設備，不僅在常規的傳統電鍍上表現geng加顯現，geng能hen好地滿足半導體、芯片及pcb等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。
更新時間:2025-12-01
天瑞鍍層測厚儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統。
更新時間:2025-12-01
天瑞晶元鍍層厚度測厚儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統。
更新時間:2025-12-01
半導體器件鍍層厚度測量儀器對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統。
更新時間:2025-12-01
江蘇天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統。
更新時間:2025-12-01
五金衛浴鍍層厚度測量儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統。
更新時間:2025-12-01
天瑞儀器pcb板鍍層厚度測試儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統。
更新時間:2025-12-01
天瑞儀器電鍍廠用鍍層厚度膜厚儀對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦jingzhun分析，manzu半導體、芯片及pcb等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的x軸y軸z軸的三維移動，雙激光定位和baohu系統。
更新時間:2025-12-01
多導毛細聚焦鍍層測厚儀采用多導毛細管x射線光學系統，對于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。
更新時間:2025-12-01
功能性多導毛細聚焦鍍層測厚儀采用多導毛細管x射線光學系統，對于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。
更新時間:2025-12-01
表面無損厚度測厚儀,鍍層厚度膜厚儀是天瑞儀器集30多年x熒光膜厚測量技術，研發的一款x射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。儀器采用多導毛細管x射線光學系統，對于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。
更新時間:2025-12-01
半導體功能性鍍層測厚儀是天瑞儀器集30多年x熒光膜厚測量技術，研發的一款x射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。儀器采用多導毛細管x射線光學系統，對于微米尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。
更新時間:2025-12-01
晶圓金屬鍍膜膜厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術，研發的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，zi動化的 x/y/z 軸的三維移動，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。
更新時間:2025-12-01
晶圓鍍鎳銀錫膜厚儀edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測量技術，研發的一款quan xin上照式x射線熒光分析儀，該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭，zi動化的 x/y/z 軸的三維移動，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。
更新時間:2025-12-01
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- 模塊MDX61B0005-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:56:28
- 控制器MDX61B0370-503-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:55:39
- 控制器MDX61B0014-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:54:46
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- 控制器MDX61B1320-503-4-00工業設備 2025/12/1 17:51:24
- 觸摸屏MDX61B0220-503-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:49:00
- 觸摸屏MDX61B0014-5A3-4-00工業設備 2025/12/1 17:47:27
- 觸摸屏MDX61B0008-5A3-4-0T工業設備 2025/12/1 17:44:50
- 模塊MDX61B0022-5A3-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:44:09
- 觸摸屏MDX61B0750-503-4-0T工業設備 2025/12/1 17:43:25
- 觸摸屏MDX61B0014-5A3-4-0T工業設備 2025/12/1 17:42:32
- 觸摸屏MDX61B0750-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:41:41
- 觸摸屏MDX61B0075-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:39:19
- 控制器MDX61B0550-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:38:33
- 模塊MDX61B0450-503-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:37:40
- 控制器MDX61B0220-503-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:36:55
- 模塊MDX61B0011-5A3-4-0T自動化儀器 2025/12/1 17:35:10
- 觸摸屏MDX61B1320-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:34:28
- 模塊MDX61B0075-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:32:52
- 模塊MDX61B0220-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:32:03
- 觸摸屏MDX61B0450-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:31:13
- 模塊MDX61B0055-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:30:24
- 控制器MDX61B0300-503-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:29:36
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