X射線衍射儀產品及廠家
賽默飛世爾 arl equinox 100 x 射線衍射分析儀使用 x 射線衍射進行無損樣品特性分析的儀器。產品適用于相鑒定、定量、晶體結構分析、rietveld 分析、躍遷相鑒定和薄膜分析。
更新時間:2025-12-01
x射線衍射熒光分析儀配套分體式冷水機 分體式冷水機由室內機和室外機組成，分別安裝在室內和室外，中間通過管路和電線連接起來的冷卻水循環設備，主要是對室內環境溫度，噪音，空間狹小的用戶定制，室
更新時間:2025-12-01
explorer 在眾多分析領域都可發揮優良的性能，例如可以測量混合物質的相態；檢測微觀的結構性質，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應力和晶體取向等。其模塊化設計，更是為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器可以滿足新的分析需求。
更新時間:2025-12-01
europe 是一款臺式的x 射線衍射儀，配備了θ/θ 粉末衍射系統，可對多晶材料進行定性和定量的分析，提供衍射儀的標準配置和其它高級選項，臺式設計很大程度上發揮了儀器的靈活性，同時能提供可靠的分析數據。
更新時間:2025-12-01
apd 2000 pro 為定性和定量的粉末x射線衍射儀。精確電路控制反饋系統，保證x 射線發生器更加穩定；預設高壓和激發電流，并可實現自動斜坡程度上升；細焦點的陶瓷x 射線管具有優良的重現性和穩定性；采用高聚焦單毛細管準直器，高分辨多探測類型探測器。
更新時間:2025-12-01
explorer 在眾多分析領域都可發揮優良的性能，例如可以測量混合物質的相態；檢測微觀的結構性質，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應力和晶體取向等。其模塊化設計，更是為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器可以滿足新的分析需求。
更新時間:2025-12-01
x 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法，而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據 astm e975 的x射線測量近無規結晶取向鋼中殘余奧氏體的標準方法，are x 能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量，同時具有良好的檢出限、精度高、準確度好等優點，并且操作簡單，安全高效。
更新時間:2025-12-01
apd 2000 pro 為定性和定量的粉末x射線衍射儀。精確電路控制反饋系統，保證x 射線發生器更加穩定；預設高壓和激發電流，并可實現自動斜坡程度上升；細焦點的陶瓷x 射線管具有優良的重現性和穩定性；采用高聚焦單毛細管準直器，高分辨多探測類型探測器。
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europe 是一款臺式的x 射線衍射儀，配備了θ/θ 粉末衍射系統，可對多晶材料進行定性和定量的分析，提供衍射儀的標準配置和其它高級選項，臺式設計很大程度上發揮了儀器的靈活性，同時能提供可靠的分析數據。
更新時間:2025-12-01
cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的x射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，鈦白粉行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。采用了新型x光管――第二代陶瓷x光管；新型測角儀――采用dops直接光學定位傳感器精確定位的高精度測角儀，有最優化的控制臺及簡單易操作、功能強大的窗口軟件industry。2010年更推出新的高速衍射儀 cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最新開發出的專門用于工業領域開發與質量控制的x射線衍射儀。
更新時間:2025-12-01
x'pert pro mrd/xl是高級半導體材料的標準裝備，用于： 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應力和織構分析， x'pert pro mrd/ xl 滿足半導體、led、薄膜和高級工業材料的所有高分辨xrd分析需要。xl可以滿足直徑達 300 mm的晶片分析，并有精密的自動晶片裝載選擇；xl成為薄膜生產發展的先進的分析手段，led的業界標準。
更新時間:2025-12-01
empyrean銳影x射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼x’pert 專家系統后，十年一劍，推出的全新x射線衍射儀，是唯一可滿足當前4大類x-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和ct影像x射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發的x光管，最先進的測角儀的、獨特的新樣品臺和嚴格的輻射安全防護。世界上第一個衍射平臺上的三維探測系統， pixcel3d 探測器將使用于這一多功能的x-射線衍射系統上，將面探測技術與ct技術平民化。
更新時間:2025-12-01
儀器簡介： x'pert powder，配置超能陣列探測器，速度與強度的理想組合，滿足各種粉末應用要求，具有無限擴展性。超高頻x射線發生器采用第二代陶瓷x光管專利技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換x光管后無需重新校準路立式測角儀，采用dops直接光學位置編碼專利技術
更新時間:2025-12-01
全球領先的 x 射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的 aeris 臺式 x 射線粉末衍射儀(xrd)。這款新系統的主要優點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、精確地提供被測材料的物相信息。
更新時間:2025-12-01
x射線衍射世界的革新產品，重新定義了多功能x射線衍射儀的概念。新型的 empyrean 銳影是第一款全自動多功能衍射儀，無需任何人工干預即可進行廣泛的測量。
更新時間:2025-12-01
empyrean銳影x射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼x’pert 專家系統后，十年一劍，推出的全新x射線衍射儀，是唯一可滿足當前4大類x-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和ct影像x射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。
更新時間:2025-12-01
x´pert pro mrd/xl是高級半導體材料的標準裝備，用于： 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，
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cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的x射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。
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x射線衍射世界的革新產品，重新定義了多功能x射線衍射儀的概念。新型的 empyrean 銳影是首款全自動多功能衍射儀，無需任何人工干預即可進行廣泛的測量。
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全球領先的 x 射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的 aeris 臺式 x 射線粉末衍射儀(xrd)。這款新系統的主要優點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、精確地提供被測材料的物相信息。
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更新時間:2025-12-01
島津xrd-6100型易操作、多功能、多用途的x射線衍射儀的新時代：它可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-12-01
島津ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析,可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-12-01
島津ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。黃先生 132-- q
更新時間:2025-12-01
島津x射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。q -6154
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-12-01
賽默飛世爾集成 xrd 功能的 thermo scientific arl 9900 xrf 系列是一款高效的多功能 x 射線分析系統，兼具 xrf 和 xrd 技術，用于過程控制。arl 9900 能夠滿足金屬工業極高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的極高分析需求，以及銅業和礦業的極高質量控制需求。 q -6154
更新時間:2025-12-01
x射線衍射儀arl 9900是一款高效的多功能 x 射線分析系統，兼具 xrf 和 xrd 技術，用于過程控制能夠滿足金屬工業極高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的極高分析需求，以及銅業和礦業的極高質量控制需求。 q -6154
更新時間:2025-12-01
集成 xrd 功能的arl 9900 xrf 系列是一款高效的多功能 x 射線分析系統，兼具 xrf 和 xrd 技術，用于過程控制，arl 9900 能夠滿足金屬工業極高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的極高分析需求，以及銅業和礦業的極高質量控制需求。 q -6154
更新時間:2025-12-01
集成 xrd 功能的 thermo scientific arl 9900 xrf 系列是一款高效的多功能 x 射線分析系統，兼具 xrf 和 xrd 技術，用于過程控制，能夠滿足金屬工業極高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的極高分析需求，以及銅業和礦業的極高質量控制需求。 q -6154
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島津x射線衍射儀xrd－6100采用θ/2θ掃描方式,特有的全聚焦彎晶后單色器，具有世界最高的x射線衍射效率，達到50%以上；獨立的x射線光管控制系統,提高光管使用壽命的同時,也降低了操作人員接觸x射線輻照的幾率，達到本質安全防護等級；該機型整體配置技術成熟,穩定性較高,維護費用最低。 q -6154
更新時間:2025-12-01
島津xrd-6100型x射線衍射儀配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定,windows 2000/xp對應的軟件，實現了多任務功能，操作簡便。性價比出色。另外，豐富的選配件滿足各種應用需求。
更新時間:2025-12-01
島津x射線衍射儀分析方法可實現無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結構的表征,如:點陣常數的精密測定,晶粒尺寸和微觀應變計算,宏觀殘余應力測定,結晶度計算等;x射線衍射分析方法是材料微觀結構表征最常規和最有效的方法之一。q -6154
更新時間:2025-12-01
射線管，牛津光管xtf5011維修，x射線管維修，x光管維修，牛津xtf5011，島津用牛津光管，牛津光管，xrf儀器通用牛津光管
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。q -6154
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析. q -6154
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。還可通過峰面積計算進行定量分析，通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
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ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-12-01
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
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最新產品
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- 控制器MDX61B0040-5A3-4-00自動化儀器 2025/12/1 17:22:46