X射線衍射儀產品及廠家
explorer 在眾多分析領域都可發揮優良的性能，例如可以測量混合物質的相態；檢測微觀的結構性質，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應力和晶體取向等。其模塊化設計，更是為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器可以滿足新的分析需求。
更新時間:2025-12-01
europe 是一款臺式的x 射線衍射儀，配備了θ/θ 粉末衍射系統，可對多晶材料進行定性和定量的分析，提供衍射儀的標準配置和其它高級選項，臺式設計很大程度上發揮了儀器的靈活性，同時能提供可靠的分析數據。
更新時間:2025-12-01
apd 2000 pro 為定性和定量的粉末x射線衍射儀。精確電路控制反饋系統，保證x 射線發生器更加穩定；預設高壓和激發電流，并可實現自動斜坡程度上升；細焦點的陶瓷x 射線管具有優良的重現性和穩定性；采用高聚焦單毛細管準直器，高分辨多探測類型探測器。
更新時間:2025-12-01
explorer 在眾多分析領域都可發揮優良的性能，例如可以測量混合物質的相態；檢測微觀的結構性質，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應力和晶體取向等。其模塊化設計，更是為儀器提供了廣闊的升級空間，通過升級儀器可以滿足新的分析需求。
更新時間:2025-12-01
x 射線衍射法是測量鋼體中殘余奧氏體含量的有效方法，而且是能夠測量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法。根據 astm e975 的x射線測量近無規結晶取向鋼中殘余奧氏體的標準方法，are x 能夠很輕松檢測出鋼體中殘余奧氏體的含量，同時具有良好的檢出限、精度高、準確度好等優點，并且操作簡單，安全高效。
更新時間:2025-12-01
apd 2000 pro 為定性和定量的粉末x射線衍射儀。精確電路控制反饋系統，保證x 射線發生器更加穩定；預設高壓和激發電流，并可實現自動斜坡程度上升；細焦點的陶瓷x 射線管具有優良的重現性和穩定性；采用高聚焦單毛細管準直器，高分辨多探測類型探測器。
更新時間:2025-12-01
europe 是一款臺式的x 射線衍射儀，配備了θ/θ 粉末衍射系統，可對多晶材料進行定性和定量的分析，提供衍射儀的標準配置和其它高級選項，臺式設計很大程度上發揮了儀器的靈活性，同時能提供可靠的分析數據。
更新時間:2025-12-01
cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的x射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，鈦白粉行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。采用了新型x光管――第二代陶瓷x光管；新型測角儀――采用dops直接光學定位傳感器精確定位的高精度測角儀，有最優化的控制臺及簡單易操作、功能強大的窗口軟件industry。2010年更推出新的高速衍射儀 cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最新開發出的專門用于工業領域開發與質量控制的x射線衍射儀。
更新時間:2025-12-01
x'pert pro mrd/xl是高級半導體材料的標準裝備，用于： 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應力和織構分析， x'pert pro mrd/ xl 滿足半導體、led、薄膜和高級工業材料的所有高分辨xrd分析需要。xl可以滿足直徑達 300 mm的晶片分析，并有精密的自動晶片裝載選擇；xl成為薄膜生產發展的先進的分析手段，led的業界標準。
更新時間:2025-12-01
empyrean銳影x射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼x’pert 專家系統后，十年一劍，推出的全新x射線衍射儀，是唯一可滿足當前4大類x-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和ct影像x射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發的x光管，最先進的測角儀的、獨特的新樣品臺和嚴格的輻射安全防護。世界上第一個衍射平臺上的三維探測系統， pixcel3d 探測器將使用于這一多功能的x-射線衍射系統上，將面探測技術與ct技術平民化。
更新時間:2025-12-01
儀器簡介： x'pert powder，配置超能陣列探測器，速度與強度的理想組合，滿足各種粉末應用要求，具有無限擴展性。超高頻x射線發生器采用第二代陶瓷x光管專利技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換x光管后無需重新校準路立式測角儀，采用dops直接光學位置編碼專利技術
更新時間:2025-12-01
全球領先的 x 射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的 aeris 臺式 x 射線粉末衍射儀(xrd)。這款新系統的主要優點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、精確地提供被測材料的物相信息。
更新時間:2025-12-01
x射線衍射世界的革新產品，重新定義了多功能x射線衍射儀的概念。新型的 empyrean 銳影是第一款全自動多功能衍射儀，無需任何人工干預即可進行廣泛的測量。
更新時間:2025-12-01
empyrean銳影x射線衍射系統是荷蘭帕納科公司繼x’pert 專家系統后，十年一劍，推出的全新x射線衍射儀，是唯一可滿足當前4大類x-射線分析要求的平臺，即衍射、散射、反射和ct影像x射線分析平臺，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。
更新時間:2025-12-01
x´pert pro mrd/xl是高級半導體材料的標準裝備，用于： 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，
更新時間:2025-12-01
cubix3 x射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)最開發出的專門用于工業領域產品開發，質量控制的x射線衍射儀。廣泛應用于鋁行業，石油化工行業，鋼鐵行業等工業領域。
更新時間:2025-12-01
x射線衍射世界的革新產品，重新定義了多功能x射線衍射儀的概念。新型的 empyrean 銳影是首款全自動多功能衍射儀，無需任何人工干預即可進行廣泛的測量。
更新時間:2025-12-01
全球領先的 x 射線分析儀器和軟件供應商帕納科宣布推出全新的 aeris 臺式 x 射線粉末衍射儀(xrd)。這款新系統的主要優點是易于使用并可為客戶帶來諸多好處，能夠快速、精確地提供被測材料的物相信息。
更新時間:2025-12-01
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