MC016-760CRT雙光束紫外可見分光光度計
MC016-760CRT雙光束紫外可見分光光度計是引進吸收日本島津技術基礎上推出的自動記錄分光光度計。特別適應于實驗室的日常分析和研究工作的需要。
特點：□采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高。 □微機控制、繪圖打印、自動記錄。 □自動轉換光源。 □可容易地獲得者1-4光譜。 □具有自動掃描、時間掃描、波長程序、2入和3入測定、動力學測定、光譜存儲等功能。□能與彩色CRT會話，用菜單形式來選擇。 □光譜掃描和定量測定可同時進行。 □信息存儲容量大，保存方便。 □有功能極強的光譜處理能力。 □可進行到底1-3曲線凝合，及異常點剔除。
技術指標： □波長范圍：190-900nm □透射比度：優于±0.3%（用NBS930濾光片測定） □波長度：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置） □分辨率：優于0.15nm □波長重現性：±0.2nm □離散光：優于0.08%（在220nm處Nal溶液） □波長掃描速度：FAST（高速）、M（中速）、SLOW（低速）以及ACC（累加），內裝曲線不失真的自動消除裝置 □光譜帶寬：0.08-5nm 連續可變，每隔0.1nm用數字設定。
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩定性能好。● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數據及操作參數。● 光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）● 功能極強的光譜處理能力。UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計軟件特點：
● 信息存貯容量大，保存方便。● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數的四則運算、導數運算。● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。● 時間掃描可進行動力學研究。● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數法和系數輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數據供用戶選擇使用。● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數據進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。● 可輕松地將貯存圖譜的參數設置為儀器當前測試條件。● 打印機可進行參數與圖譜打印、參數與圖譜及數據打印、參數與數據打印和工作曲線的打印。
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計技術參數：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置）● 波長重復性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩定性能好。● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數據及操作參數。● 光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）● 功能極強的光譜處理能力。UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計軟件特點：
● 信息存貯容量大，保存方便。● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數的四則運算、導數運算。● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。● 時間掃描可進行動力學研究。● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數法和系數輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數據供用戶選擇使用。● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數據進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。● 可輕松地將貯存圖譜的參數設置為儀器當前測試條件。● 打印機可進行參數與圖譜打印、參數與圖譜及數據打印、參數與數據打印和工作曲線的打印。
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計技術參數：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置）● 波長重復性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩定性能好。● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數據及操作參數。● 光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）● 功能極強的光譜處理能力。UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計軟件特點：
● 信息存貯容量大，保存方便。● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數的四則運算、導數運算。● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。● 時間掃描可進行動力學研究。● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數法和系數輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數據供用戶選擇使用。● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數據進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。● 可輕松地將貯存圖譜的參數設置為儀器當前測試條件。● 打印機可進行參數與圖譜打印、參數與圖譜及數據打印、參數與數據打印和工作曲線的打印。
UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計技術參數：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置）● 波長重復性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
紫外可見分光光度計廠家供應四川地區紫外可見分光光度計型號報價紫外可見分光光度計價格, 提供品質優良的紫外可見分光光度計產品。成都蘇凈儀器長年經營：751GD紫外可見分光光度計、752N紫外可見分光光度計、754N紫外可見分光光度計、755B紫外可見分光光度計、UV759紫外可見分光光度計、UV759S紫外可見分光光度計、UV757紫外可見分光光度計、UV762 UV765 UV765CRT 760CRT紫外可見分光光度計等國內外知名紫外可見分光光度計。
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UV760CRT雙光束紫外可見分光光度計
技術指標：● 測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置）● 波長重復性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
【產品概述】
界面友好、美觀，操作簡單，通過打印機可打印出圖文合的分析報告,并可將圖譜數據或測試數據傳送Execl進行處理，可將圖譜貼至Word中發表，儀器具有波長掃描、時間掃描、定量分析、定波長測試、多波長測試等功能，優異的性能。
【適用范圍】
適合用于醫藥、藥學、生物化學、環境保護、化學工業等實驗室的日常分析和研究工作的需要。
【760CRT雙光束紫外可見分光光度計特點】
★ 采用息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩定性能好。
★ 微機控制，自動記錄，打印機可在張記錄紙上打印出光譜圖、測試數據及操作參數。
★ 光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）
★ 功能強的光譜處理能力。
★ 信息存貯容量大，保存方便。
★ 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數的四則運算、導數運算。
★ 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
★ 時間掃描可進行動力學研究。
★ 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數法和系數輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數據供用戶選擇使用。
★ 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數據進行注釋，對同樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
★ 可輕松地將貯存圖譜的參數設置為儀器當前測試條件。
★ 打印機可進行參數與圖譜打印、參數與圖譜及數據打印、參數與數據打印和工作曲線的打印。
【760CRT雙光束紫外可見分光光度計技術參數】
測光方式：雙光束C-T式光路結構，息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。
波長范圍：190nm～900nm
分辯率：優于0.15nm
光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調
波長大允許誤差：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置）
波長重復性：0.2nm
雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
透射比大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）
透射比重復性：0.2%（T）
掃描速度：快、中、慢
穩定性：≤0.004A/30min
噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
主機尺寸和重量：560mm×480mm×190mm 35Kg
產品名稱：雙光束紫外可見分光光度計
產品型號：760CRT
760CRT雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩定性能好。
微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數據及操作參數。
光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）
功能極強的光譜處理能力。
軟件特點：
信息存貯容量大，保存方便。
軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數的四則運算、導數運算。
圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
時間掃描可進行動力學研究。
定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數法和系數輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數據供用戶選擇使用。
軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數據進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
可輕松地將貯存圖譜的參數設置為儀器當前測試條件。
打印機可進行參數與圖譜打印、參數與圖譜及數據打印、參數與數據打印和工作曲線的打印。
雙光束760CRT紫外可見分光光度計技術指標：
測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。
波長范圍：190nm～900nm
分辯率：優于0.15nm
光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調
波長最大允許誤差：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置）
波長重復性：0.2nm
雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）
透射比重復性：0.2%（T）
掃描速度：快、中、慢
穩定性：≤±0.004A/30min
噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
| 產品型號 | 技術參數 |
| UV759 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190-1100nm，波長準確度：±0.5nm，光譜帶寬：2nm，雜散光≤0.05%T, 比例雙光束結構,全自動操作,LCD顯示（數據）,自動 調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯樣品架，不帶光譜掃描，有USB接口。配置軟件后可與PC通訊,由PC全面操作 |
| UV759S 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190nm-1100nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結構；全自動操作；LCD顯示（數據、圖譜）；具有掃描功能；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能,；自動8聯樣品架；可進行光譜掃描；有USB接口；配置軟件后可與PC通訊 |
| UV757CRT 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：200-1000nm；波長準確度：±0.5nm；光譜帶寬：2nm；全自動操作；LCD顯示（數據）；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能；具有RS232接口；由PC全面操作（附軟件）；自動8聯樣品架， |
| UV757CRT/PC 紫外可見分光光度計 | CRT附電腦、打印機；技術指標同UV757 |
| UV765 紫外可見分光光度計 | 波長范圍：190-1100nm；波長準確度±0.5nm；光譜帶寬：2nm；雜散光≤0.05%T,；比例雙光束結構；全自動操作；LCD顯示（數據、圖譜）；具有掃描功能；自動調“0%T”“100%T”、濃度線性回歸、記憶儲存功能, 自動8聯樣品架；有USB接口,；配置軟件后可可與PC通訊 |
| UV765CRT 紫外可見分光光度計 | 技術指標同UV765；帶反控軟件 |
| UV765PC 紫外可見分光光度計 | 技術指標同UV765；帶電腦（含打印機）、反控軟件、 |
| 760CRT雙光束 紫外可見分光光度計 | 雙光束C-T式光路結構；波長范圍：190-900nm；波長準確度±0.3nm；光譜帶 寬：0.08～5nm連續可調；雜散光≤0.08%T；測光方式：具有波長掃描、時間掃描、定量分析、多波長測定；附品牌電腦、噴墨打印附件 |
主要特點：● 采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩定性能好。● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數據及操作參數。● 光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）● 功能極強的光譜處理能力。
軟件特點：● 信息存貯容量大，保存方便。● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數的四則運算、導數運算。● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。● 時間掃描可進行動力學研究。● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數法和系數輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數據供用戶選擇使用。● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數據進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。● 可輕松地將貯存圖譜的參數設置為儀器當前測試條件。● 打印機可進行參數與圖譜打印、www.jinghua-apc.cm參數與圖譜及數據打印、參數與數據打印和工作曲線的打印。
技術指標：● 測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。● 波長范圍：190nm～900nm● 分辯率：優于0.15nm● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續可調● 波長最大允許誤差：±0.3nm（內裝自動波長校正裝置）● 波長重復性：0.2nm● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）● 透射比最大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）● 透射比重復性：0.2%（T）● 掃描速度：快、中、慢● 穩定性：≤±0.004A/30min● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）