AM2011USB數碼顯微鏡AM2011
NIKON尼康顯微鏡，尼康顯微鏡，NIKON尼康LV150L
| EPIPHOTTME300U是用于觀察金屬組織、涂膜、新型材料、纖維等各種材料的最佳萬能倒置顯微鏡。不僅可以用各種各樣的觀察方法進行觀察、顯微照相，而且還可以進行TV觀察、圖像解析、圖像歸檔等，針對廣泛的用途還配備了內容豐富的擴展性能。
【主要特點】
采用CF&IC光學系統。實現了鮮明、清晰的圖像。內置0.8-2x的2.5倍變焦式中間變倍機構。觀察系統和照相系統可以進行連續變倍。主機內置35mm、大幅照相系統。可通過60%平均測光進行自動曝光。將測微尺、晶粒度板（奧氏體/柵格）插入像平面，可以清晰地成像于照片/觀察中。通過兩端支撐、低重心結構、穩定裝置、防振阻尼器等，增強了穩定性。與本公司以前的產品相比，載物臺下降了71mm，使標本的更換、位置調整變得更加輕松。 | EPIPHOTTME200
EPIPHOTTME200是TME300U的姊妹機型，它也采用了CF&IC光學系統。既保持了同等的基本光學性能，又對功能進行了簡化，實現了優秀性價比。它適合用于以觀察為中心的用語，此外，根據需要，也可以和另外銷售的顯微照相裝置、TV裝置組合使用。
【主要特點】
采用CF&IC光學系統。實現了鮮明、清晰的圖像。將測微尺、晶粒度板（奧氏體/柵格）插入像平面，可以清晰地成像于照片/觀察中。通過兩端支撐、低重心結構、穩定裝置、防振阻尼器等，增強了穩定性。與本公司以前的產品相比，載物臺下降了75mm，使標本的更換、位置調整變得更加輕松。 |
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| MA100MA100 | >是尼康2006年新推出的一款倒置金相顯微鏡。它與金屬/鋼鐵/素材、汽車、電子部件等關聯制造現場直接相關，主要是對金屬材料組織觀察、檢查的小型倒立金屬顯微鏡。 【主要特點】
結構緊湊，操作簡單，起偏器和檢偏器插脫連動只能做明場/簡易偏光觀察，專用載物臺，研磨機的托盤CFI60光學系列，成功實現了高數值孔徑和長工作距離兩立可加裝Nikon 數碼相機系統 |
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| LV100D/LV150 | 【主要特點】 > 專用于金屬表面觀察與照相 > 多種鏡筒選擇，雙眼與三眼。并可調整仰角（ 8－－32 ） > beam splitter 分光設計，可同時連接照相系統與 CCD camera 、 TV 系統 > Nikon 最新 CF/ICOS 高解析力光學系統設計 > 折迭式鏡筒，調整瞳孔距離時，共焦不變 > 采用消色差、消球面差之超低散射高級光學鏡片 > 高對焦精度 1μm 及共焦性 > 可選擇標準鏡筒（視野數 22 ）與超廣角鏡筒（視野數 25 ） > 可選擇全新 CF/CIOS 明視野與干涉相位差鏡頭 > 高精度測微器最小讀取值 0.1μm > 可加裝 Nikon 數碼相機系統 > 底部光源機型 LV100D 可供選擇 > 標準光源為 12V-50W 鹵素燈源 > 光燈及焦距 Luck 功能NIKON尼康NIKON尼康NIKON尼康 |
AFM原子力顯微鏡
原子力顯微鏡
晶體掃描儀(Crystal Scanner TM)是美國PNI公司開發的一種新穎的掃描儀。使用該掃描儀，無需知道更多掃描探針顯微學(SPM)知識的人士便可獲得納米范圍的形貌像。晶體掃描儀的核心是一種新型的無需復雜光路調整(Alignment)過程的力傳感器。它能夠進行納米結構的成像和分析。 使用裝有晶體掃描儀的Nano-R TM原子力顯微鏡(AFM)，工程師和科學工作者無需等候獲得掃描的納米結構圖像，而是直接測量物體的形貌像。公司和研究機構也不用雇傭AFM專家，這樣可為納米技術的研究、發展和工藝控制節省大量的成本。 晶體掃描儀在納米牛頓力測量領域內注入了新的設計理念。將該掃描儀與Nano-R TM型AFM的測試臺和軟件相結合，便可以得到一個新的用戶友好接口的納米成像儀器。尤其是，當配合點和掃描(Point & Scan TM)技術，將大大簡化儀器的操作過程。
原子力顯微鏡
點和掃描技術 點和掃描技術大大減少了傳統系統軟件的復雜性，只要按照屏幕上的操作提示便可完成測試。幾步操作后，實驗人員便可以在計算機屏幕上看到圖像。 點和掃描技術使用標準的納米成像操作步驟。步驟如下：
選擇樣品類型；
將樣品放置于顯微鏡下；
如有必要，更換晶體傳感器(只需幾分鐘)；
選擇要掃描的樣品區域；
成像操作。
上述的納米成像過程同樣可以分析DVD和半導體器件結構以及對納米管、納米粒子和納米晶體進行高分辨的納米成像。 點和掃描技術包括3個方面的創新性：晶體傳感器，測試臺的自動化和軟件。
晶體傳感器
晶體掃描儀里的力傳感器是一種非常小的晶體振蕩器，在其晶體的末端裝有針尖，如圖1和2所示。當探針靠近樣品表面時，其振蕩的振幅將衰減。衰減的幅度取決于探針和樣品之間的作用力。掃描時，使用軟件可以優化振蕩頻率和力的大小。使用時，晶體傳感器無需任何力的調整。 
圖1晶體掃描儀中的石英交叉晶體 圖2晶體傳感器安裝在零插入力模塊上
- 測試臺自動化
的測試臺自動化大大簡化了裝有晶體傳感器的Nano-R TM型AFM的操作過程。結合馬達驅動的光學系統、樣品定位和探針-樣品控制，無需任何手動調整。因此，便可以實現“放置樣品-設定掃描區域-開始掃描”的簡單操作過程。
晶體掃描軟件
晶體掃描軟件(CSS)大大簡化了晶體掃描儀的操作。安裝CSS后，實驗人員便可以從窗口菜單上選擇需要成像的樣品類型。有關樣品類型的信息可存儲在計算機內，需要時可調用。例如，CSS可以使用設置的掃描參數。CSS與測試臺自動化的相結合是一個強有力的工具。舉例來說，當運行CSS時，樣品臺會自動移動到樣品適于成像的位置。CSS也可以將樣品進一步設置成適于視頻光學記錄的位置。 實驗人員必須更換樣品和探針。為了簡化操作過程，幾個視頻系統集成于CSS中。這些配置有利于示意如何更換探針以及放置樣品到成像的位置。軟件接口如圖3所示。 
圖3軟件接口
CSS軟件的算法可用來判斷探針的成像質量和優化掃描參數。對某些特殊的樣品，這些算法的運用可設計成樣品信息文件。
的掃描儀設計 使用移動探針的彎曲壓電掃描儀設計可確保精確測量。這樣，在x-y-z軸和圖像間可測量最小的色度亮度干擾，以表明沒有背底彎曲。 外置的x、y、z軸校準傳感器可監視彎曲掃描儀的動作。這種傳感器在x、y、z軸線性化和校準掃描儀顯得非常必要。這些傳感器對于點和位置測量也很有必要，對于圖像中某個特殊形貌的放大應用也顯得非常必要。晶體掃描儀的技術參數如表1。 表1? 晶體掃描儀的技術參數
| 范圍 | 線性度 | 干擾 | 噪聲 | |||
X-Y | 65 微米 | X-Y-Z | < 1% | XY | < 1% | Vertical < 0.1 nm |
Z | 8 微米 | ZX | < 2% | |||
ZY | < 2% | |||||
與光杠桿傳感器的切換 常規的AFM使用光杠桿(Light Lever)來測量探針與樣品之間的作用力。盡管光杠桿機構較為復雜且需要調光路，但也有一些優點。其主要優點是：可以進行材料敏感模式的測量，如側向力或摩擦力像和相位移成像；另外，還可進行磁力和靜電力成像。 Nano-R TM型AFM測試臺可與光杠桿傳感器兼容。只需幾分鐘便可切換光杠桿傳感器和晶體傳感器。切換安裝后，光杠桿式AFM便可以進行接觸或振蕩模式的形貌像測量。
應用 使用晶體掃描儀的Nano-R TM型AFM可測量各種樣品如工業樣品和需要高分辨成像的納米結構的形貌像。工業樣品包括DVD、顯微鏡頭、紙張、光柵和圖形化的芯片。高分辨成像的納米結構包括晶粒、納米粒子、納米晶體和納米管。圖4示出了一些使用晶體掃描儀的AFM形貌像。 
XSP-8F系列生物顯微鏡
| XSP-8F系列生物顯微鏡 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| -技術參數- | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 總放大倍數：40-1000×機械筒長：160mm 物象共軛距離：195mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 可調齊焦距離消色差物鏡： | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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目鏡：WF10× 線視場ф18mm聚光鏡：N.A.0.65帶五孔光欄 阿貝聚光鏡：N.A.1.25（浸油） 升降范圍：15mm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 雙目瞳距調節范圍：55-75mm粗動調焦范圍：20mm（有粗動限位及粗動手輪打滑保護機構）微動調焦范圍：大于2mm固定載物臺：110×115 mm移動尺移動范圍：60×30 mm 格值：0.1mm人工光源：110V，220V/20W白熾燈泡（客戶可改用110V，220V/6V20W鹵素燈泡可調光亮度，價格另議。） | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
-標準配套-
-包裝-主機：150×245×415mm（長×寬×高）外包裝：215×325×475mm（長×寬×高）（單臺）凈重：5㎏毛重：6.5㎏(單臺)-選購部件-消色差物鏡：20x（彈）、60x（彈）目鏡：WF16x | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
供應云飛TS2009光學顯微鏡及成像設備，光學顯微鏡及成像設備廠家
光學顯微鏡及成像設備
TS2009
TS系列光學顯微鏡及成像設備配有高清晰度生物顯微鏡和高性能的CCD成像器，實現微小物體的逼真再現，實物經顯微鏡成像后，經適配鏡通過高清晰彩色CCD即時顯微圖像送到計算機圖像分析系統或者數碼成像系統。采用1/3英寸CCD（電荷耦合器件）傳感器，380線以上高清AV、TV視頻信號輸出，再配備MCL-Z型CCD適配鏡及視頻采集卡，可實時將動態圖像畫面傳送到監視器或計算機，輔以相應的軟件可以對樣本進行微粒測量和組織結構分析，在科研、農業等領域得到廣泛的應用。
一．顯微鏡主體規格
1、總放大倍率：40X—1600X
2、觀察頭：鉸鏈式雙目觀察筒，帶防霉裝置，傾斜45°，360°旋轉，瞳距48-75mm
3、轉換器：內傾式四孔轉換器，帶防霉裝置
4、大視場目鏡：具有防霉功能，平場10X高眼點目鏡，視場18mm，高眼點觀察，眼點距離21mm
5、物鏡4X/0.1、10X/0.25、40X/0.65（彈簧）、100X/1.25（彈簧、油）
6、明場聚光鏡：阿貝聚光鏡N.A.1.25，配相襯插孔，手輪升降式，的聚光鏡上下可調系統，使聚光鏡能夠精確地與各種倍數的物鏡匹配使用。聚光鏡托架配備聚光鏡中心調節裝置，便于照明系統中心對準，聚光效果更加。聚光鏡孔徑光闌采用與物鏡色圈顏色相同的標記，便于得到高分辨率、高對比度的圖像，即使對顯微鏡設置不熟悉的用戶也可以很快掌握。
7、同軸粗微動調焦：調焦范圍24mm、微調格值0.002mm
8、載物臺：雙層活動平臺132X142mm 移動范圍：75mmX40mm
9、照明系統：內置6V/20W鹵素，亮度可連續調節，倒扣式燈座，更換燈泡方便，110V-240V自適應電源系統，在6V/20W鹵素燈24小時照明的情況下，顯微鏡主機仍然能夠保持較低的溫度不燙手。
10、電源電壓：AC220V（±10%），50HZ
二、攝像頭規格
圖像傳感器 1/2〞CMOS
像素 1280×1024（1.3M Pixel）
像素尺寸 5.2um×5.2um
數字輸出 24-bit（彩色color）
敏感度 1.8v＠550um/lux/s
曝光 物動/自動曝光操作，曝光時間可調（1~500ms）
信噪比 >45db
動態范圍 62db
連接方式 使用標準C接口
輸出方式 即插即用和自動電源控制，通過USB2.0接口供電
尺寸 73×65×36mm 重量 200g
*具有300萬像索的分辨率，提供了高質量的采集圖像，適用于高精度，高分辨率的醫學，教學圖像采集，圖像處理，是顯微鏡觀察的助手；動態實時顯微圖像傳輸
*通過USB2.0接口，即可獲得實時的無壓縮視頻數據和對圖像的捕捉；
*所觀察的圖像與目鏡觀察有極大的視野符合性，可達到90%。
三．配置清單
1．顯微鏡主機一臺
2、動態成像系統：300萬像素數碼攝像頭一個，高速USB2.0數據線一根，顯微圖像分析軟件CD光盤：軟件包括Image Analysis System 10.0顯微圖像分析軟件，Software驅動，安裝及使用說明書等
3．靜態成像系統，數碼相機專用接口及尼康數碼相機一套
4．品牌臺式電腦一臺。
HW-1顯微鏡恒溫載物臺
顯微鏡下可調溫的恒溫板，可調溫度范圍：25℃到 50℃。恒溫板是薄側面（少于10mm），小孔（15mm直徑）, 讓它適用于多數倒置顯微鏡和寬大觀查的立體顯微鏡。它能通過光源自動加熱（或四周加熱）。通過直流電來加熱，所以不會機械振動，不會產生電磁干擾和磁場。 有蓋培養皿或載波片兩者都能放在恒溫板上用。 特點： • 精確和穩定的溫度控制 • 均衡的恒溫板溫度 • 四象限溫度傳感 • 用戶校準 • 通用電源 規格： 表面溫度設置：室溫到50℃ 表面溫度變化：少于0.5℃整個可用表面 顯微鏡平臺尺寸：90×55×10mm 長×寬×高 溫度控制器尺寸：180×130×56 mm 長×寬×高 光孔：15 mm直徑 恒溫板和控制器的重量：1130g 最大燈絲功率：32瓦 電源：220V、50 Hz
KBXSP-8CV顯微鏡及成像設備
1、 廣角目鏡：10X/18mm
2、 德國萊卡物鏡：4X/10X/40X（s）/100X（S、OiL）
3、 總放大倍數：40X-1000X；
布氏顯微鏡，南京硬度計配件
做工精細，精確的布氏測量顯微鏡在市場中被廣泛使用，配備了20X放大倍率的透鏡，手動操作簡便。自帶光源的布氏顯微鏡便于在昏暗環境硬度測試，是您理想的選擇。
HV-1000顯微維氏硬度計 維氏硬度計 顯微硬度計
HV-1000顯微硬度計在機械、光學 、光源上采用獨特的、精密的 設計使壓痕成像更清晰，測量更精確。 本機要配有20倍和40倍物鏡都能參與測 量 ，使測量的范圍更大，應用更廣泛。 數量顯微配置，儀器配有數顯式測量顯微鏡 ，不用查表，也不用插 入壓痕對角線的長度，在液屏上直接能顯示試驗方法試驗 力、壓痕長度、硬度值、試驗力保持時間、測量次 數等。 有可連接數碼相機和 CCD攝像頭的螺紋接口。 在光源上是采用冷顯微維氏硬度計 光源。使 用 壽命10萬小時。 在國內外的同類產品中具有一定的代表性、性。
HV-1000維氏硬度計
黑色金屬、有色金屬、 IC薄片、表面涂層、層壓金屬；
玻璃、陶瓷、瑪瑙、寶石等；炭化層和淬火硬化層的深度及梯度的硬度測試。
試驗力：0.098、0.246、0.49、
0.98、1.96、2.94、4.90維氏硬度計 9.80N（ 10、25、50、100、200、
300、500、1000）gf
維氏硬度計 試驗力加卸載控制： 全自動（加載 /保荷/卸載） 測量范圍：1HV～2967HV
試驗力保荷時間：（5～60）S 測微
鼓輪最小分度值： 0.0625 μm
XY試臺行程范圍：25×25 mm XY試
臺尺寸： 100×100 mm
試件最大高度：70mm 試件最大寬度
：95mm 光源：冷光源
測量顯微鏡放大倍率： 200倍、400倍
電源：110V/220V,60/50Hz
尺寸：（425×245×490）mm 重量：
30Kg
HV-1000數顯顯微維氏硬度計產品附 件及其它：
顯微維氏壓頭 物鏡（20 ×、40× ）
10×數字式測微目鏡
十字試臺 薄片夾持臺 平口夾持臺
細絲夾持臺
水平調節螺釘 水平儀 維氏硬度塊
可選附件:克努普壓頭 硬度塊 金相
試樣切割機
金相試樣鑲嵌機 金相試樣拋光機
HV-1000數顯顯微維氏硬度計CCD圖象處理系統
相關推薦產品全自動維氏硬度計SCHV-2.0自動轉塔顯微維氏硬度計HV-1000Z顯微維氏硬度計 HV-1000 觸摸屏維氏硬度計XHV-1000HVT-1000圖像處理維氏硬度計HVS-1000Z視屏測量顯微硬度計HVS-10數顯維氏硬度計數顯維氏硬度計401-MVDDHV-1000顯微硬度計維氏硬度計 HV-5HVS-1000Z型自動轉塔數顯顯微硬度計數顯顯微維氏硬度計HVS-1000HV-5型小負荷硬度計