LW300MT上海北京LW300MT硅芯片檢查顯微鏡
本儀器廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。觀察目標：大于3 微米小于20微米，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。
二、技術指標
- 鏡筒：B雙目，傾斜30°（本儀器主機含三目攝像接筒裝置）
- 大視野目鏡：WF10Xф18mm
- 長工作距離平場物鏡：PL5X，PL10X，PLL20X，PLL40X（S），PLL80X（S）
- 轉換器：五孔
- 總放大倍數：50X~800X
- 載物臺：三層機械移動，尺寸280×270mm，移動范圍204mm×204mm
- 調焦：粗微動同軸，升降范圍25mm，微動格值0.0007mm，帶鎖緊和限位裝置
- 光源：反射柯勒照明，透反射照明鹵素燈6V20W，亮度可調，反射照明帶起偏振片
正交偏光裝置
芯片檢查顯微鏡
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| 【備 注】： 芯片檢查顯微鏡TX400主要技術參數見下表：
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8XB-PC芯片檢查顯微鏡8XB-PC
芯片檢查顯微鏡技術參數：1.鏡筒：三目，30°傾斜 2.高眼點目鏡：WF10X/Φ25mm 3.無限遠長工作距離物鏡：4X、10X、20X、40X 、100X4.轉換器：五孔 5.工作臺尺寸：310mm×350mm 6.調焦：粗微動同軸，范圍36mm，微動0.002mm 7.光源：垂直照明，鹵素燈12V100W，亮度可調 8.DIC裝置：偏光裝置、明暗場轉換
詳情請參照：www.szwdt.com
LW400LMDT湖南長沙LW400LMDT正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡
本儀器廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。
二、技術指標
- 鏡筒：T三目，30°傾斜
- 高眼點目鏡：WF10X/Φ25mm
- 無限遠長工作距離物鏡：4X、10X、20X、40X
- 轉換器：五孔
- 工作臺尺寸：310mm×350mm
- 調焦：粗微動同軸，范圍36mm，微動0.002mm
- 光源：垂直照明，鹵素燈12V100W，亮度可調
- DIC裝置：偏光裝置、明暗場轉換
LW300MT甘肅蘭州LW300MT硅芯片檢查顯微鏡
本儀器廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。觀察目標：大于3 微米小于20微米，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都能有很好的成像效果。
二、技術指標
- 鏡筒：B雙目，傾斜30°（本儀器主機含三目攝像接筒裝置）
- 大視野目鏡：WF10Xф18mm
- 長工作距離平場物鏡：PL5X，PL10X，PLL20X，PLL40X（S），PLL80X（S）
- 轉換器：五孔
- 總放大倍數：50X~800X
- 載物臺：三層機械移動，尺寸280×270mm，移動范圍204mm×204mm
- 調焦：粗微動同軸，升降范圍25mm，微動格值0.0007mm，帶鎖緊和限位裝置
- 光源：反射柯勒照明，透反射照明鹵素燈6V20W，亮度可調，反射照明帶起偏振片
正交偏光裝置
LW300MT硅芯片檢查顯微鏡LW300MT
| 放大倍數 | 數值孔徑 | 工作距離（mm） | 備注 |
| 5X | 0.12 | 9.70 | |
| 10X | 0.25 | 3.73 | |
| 20X | 0.40 | 7.23 | |
| 40X | 0.60 | 3.04 |
| 放大倍數 | 數值孔徑 | 工作距離（mm） | 備注 |
| 5X | 0.12 | 9.70 | |
| 10X | 0.25 | 3.73 | |
| 20X | 0.40 | 7.23 | |
| 40X | 0.60 | 3.04 |
北京GH/TX400芯片檢查顯微鏡使用方法
芯片檢查顯微鏡 小型光學檢測系統
型號：GH/TX400
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| 北京GH/TX400芯片檢查顯微鏡使用方法【備 注】： 放在倍率：21X－－135X 可擴大倍率：84X－－540X 工作距離：32mm－－275mm 顯示方式：電腦/顯示器/液晶屏/電視機 照明光源：環型光源 標準配置: 大面積萬能工作臺 1 臺 彩色監視器 1 套 照明光源(環形冷光源) 1 套 高清晰彩色攝像機 1 套 高清晰目鏡 1 套 選配:計算機+多功能圖象采集卡,完成圖象的存儲和打印,方便學校,研究機構和企業用來質 量分析,反饋跟蹤,靜態圖象處理,靜態圖像編輯,表面圖像分析,裂痕分析等. | ||||||
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| 【備 注】： 放在倍率：21X－－135X 可擴大倍率：84X－－540X 工作距離：32mm－－275mm 顯示方式：電腦/顯示器/液晶屏/電視機 照明光源：環型光源 標準配置: 大面積萬能工作臺 1 臺 彩色監視器 1 套 照明光源(環形冷光源) 1 套 高清晰彩色攝像機 1 套 高清晰目鏡 1 套 選配:計算機+多功能圖象采集卡,完成圖象的存儲和打印,方便學校,研究機構和企業用來質 量分析,反饋跟蹤,靜態圖象處理,靜態圖像編輯,表面圖像分析,裂痕分析等. | ||||||
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