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XPR-500C偏光熔點儀（熱臺）

一、儀器的主要用途和特點 XPR-500型透射偏光熔點測定儀（熱臺）是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等專業最常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等總多研究方向。偏光顯微熔點測定儀XPR-500系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等總多研究領域的當前領先技術，多年研究開發的結果，在國內享有絕對領先.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

二、儀器的主要技術指標

1.顯微鏡技術參數:

名稱	規格
總放大倍數：	40X－－-630X
無應力消色差物鏡	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65
	63X/0.85
目鏡	WF10X/18mm
	10X網格目鏡
	10X刻度目鏡
	10X分劃目鏡
試片	石膏1λ試片
	云母1/4λ試片
	石英楔子試片
測微尺	0.01mm
濾色片	藍色
聚光鏡	N.A.1.25帶可變光欄搖擺式聚光鏡
集光鏡	高亮度固定式照明
載物臺	360度旋轉
移動尺	移動范圍30mm×40mm
鏡筒	45度平拉式三目觀察
光源	鹵素燈（6V/30W.AC 85V-230V）亮度可調

2.熔點儀技術參數:

熱臺組成	性能
顯微精密控溫儀	在 20倍物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定， 30段溫度編程，循環操作，能反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數
顯微加熱平臺	可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1 • 起始溫度室溫 • 工作區加熱使用面積至少 1X1厘米 • 工作區溫度梯度不超過 ± 0.1 • 透光區域 2mm以上，可調 • 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2 • 熱臺可以隨載物臺移動在加熱狀態下可使用 20倍物鏡
注意：熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）

三、系統數字性

XPR-500C型偏光熔點儀系統是將精銳的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、尖端的計算機成像技術和精密的溫控技術地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在計算機上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。

四、系統組成

1、偏光顯微鏡XP-500　　　　　　　　　 2、電腦適配鏡 3、彩色攝像器機 4、A/D轉換器（圖形采集設備） 5、熱臺 6、計算機（選購）

五、選購部分

1.偏光分析軟件

2.200萬像素彩色成像器,300萬像素彩色成像器,400萬像素彩色成像器

該公司產品分類：摩擦磨損試驗機鑲嵌機、鑲樣機其它工業過程控制其它表面測試硬度計顯微圖像分析系統切割機拋光機、磨拋機、磨樣機內窺鏡/工業內窺鏡熒光顯微鏡 CCD相機/影像CCD 偏光顯微鏡生物顯微鏡金相顯微鏡其他試驗機工具顯微鏡、測量顯微鏡立體顯微鏡、體視顯微鏡

XPR-500D偏光熔點儀（熱臺)

一、儀器的主要用途和特點 XPR-500型透射偏光熔點測定儀（熱臺）是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等專業最常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工領域，適用于研究物體的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等總多研究方向。偏光顯微熔點測定儀XPR-500系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等總多研究領域的當前領先技術，多年研究開發的結果，在國內享有絕對領先.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

二、儀器的主要技術指標

1.顯微鏡技術參數：

名稱	規格
總放大倍數：	40X－－-630X
無應力消色差物鏡	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65
	63X/0.85
目鏡	WF10X/18mm
	10X網格目鏡
	10X刻度目鏡
	10X分劃目鏡
試片	石膏1λ試片
	云母1/4λ試片
	石英楔子試片
測微尺	0.01mm
濾色片	藍色
聚光鏡	N.A.1.25帶可變光欄搖擺式聚光鏡
集光鏡	高亮度固定式照明
載物臺	360度旋轉
移動尺	移動范圍30mm×40mm
鏡筒	45度平拉式三目觀察
光源	鹵素燈（6V/30W.AC 85V-230V）亮度可調

2.熔點儀技術參數:

熱臺組成	性能
顯微精密控溫儀	在20倍物鏡下工作溫度可達到300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定， 30段溫度編程，循環操作，能反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數
顯微加熱平臺	可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1 • 起始溫度室溫 • 工作區加熱使用面積至少 1X1厘米 • 工作區溫度梯度不超過 ± 0.1 • 透光區域 2mm以上，可調 • 顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2 • 熱臺可以隨載物臺移動在加熱狀態下可使用 20倍物鏡
注意：熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）

三、系統數字性

XPR-500D型偏光熔點儀系統是將精銳的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、尖端的數碼成像技術和精密的溫控技術地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在數碼相機上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或沖印偏光圖片。

四、系統組成

1、偏光顯微鏡XP-500　　　　　　　　　 2、數碼適配鏡 3、彩色數碼相機 4、熱臺

五、選購部分

1.偏光分析軟件

該公司產品分類：摩擦磨損試驗機鑲嵌機、鑲樣機其它工業過程控制其它表面測試硬度計顯微圖像分析系統切割機拋光機、磨拋機、磨樣機內窺鏡/工業內窺鏡熒光顯微鏡 CCD相機/影像CCD 偏光顯微鏡生物顯微鏡金相顯微鏡其他試驗機工具顯微鏡、測量顯微鏡立體顯微鏡、體視顯微鏡

XPR-201偏光顯微鏡、偏光熔點儀、偏光熱臺等光學儀器

XPR-201型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等專業最常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。測溫范圍室溫--300OC 測量精度 ±0.5OC 最小分度值 0.1OC 測試量〈 0.1mg 控溫方式微電腦/手動控制，自動P、I、D調節顯示方式四倍LED數碼管打印定時、即時打印電源交流 220V/50HZ 使用環境溫度：0-40OC 濕度〈 85%

BW17-XPR-300D透反射偏光熔點儀透射偏光熔點測定儀

一、儀器的主要用途和特點

　　BW17-XPR-300D型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等專業常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。本系統廣泛應用于高分子材料、聚合物材料等化工域，適用于研究物體的結晶相態分析、共混相態分布、粒子分散性及尺寸測量、結晶動力學的過程記錄分析、液晶分析、織態結構分析、熔解狀態記錄觀察分析等總多研究方向。偏光顯微熔點測定儀XPR-300系統匯集了光電、模式識別、精密加工、圖象學、自動控制、模量學等總多研究域的當前先技術，多年研究開發的結果，在國內享有對先.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

二、儀器的主要技術指標

1.顯微鏡技術參數:

名稱	規格
總放大倍數：	40X－－-630X
無應力消色差物鏡	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65 彈簧
	63X/0.85 彈簧
目鏡	10X 十字目鏡
目鏡	10X 分劃目鏡
試片	石膏 1λ 試片
	云母 1/4λ 試片
	石英楔子試片
測微尺	0.01mm
濾色片	藍色
帶座目鏡網絡尺
移動尺	移動范圍 30mm×40mm
鏡筒	三目觀察

2.熔點儀技術參數:

臺組成	性能
顯微精密控溫儀	在 20倍物鏡下工作溫度可達到高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定， 30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度 ± 0.3 ℃、記憶點讀數
顯微加平臺	可以隨載物臺移動、工作區加面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1 · 起始溫度室溫 ·工作區加使用面積至少 1X1厘米 ·工作區溫度梯度不超過 ± 0.1 ·透光區域 2mm以上，可調 ·顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2 ·臺可以隨載物臺移動在加狀態下高可使用 20倍物鏡
注意：熔點測定（溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的物鏡25X、40X的物鏡）

三、系統的擴展性

　 XPR-300C型偏光熔點儀系統是將精銳的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、尖端的計算機成像技術和精密的溫控技術地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在計算機上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像，并對偏光圖譜進行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。

四、系統組成

1、偏光顯微鏡XP-300　　　　　　　　　 2、數碼適配鏡 3、彩色數碼相機(canon) 4、臺

五、選購部分

1. 偏光分析軟件

該公司產品分類：顯微鏡系列復合氣體檢測儀可燃氣體檢測儀/探測儀甲烷檢測儀有毒氣體檢測儀酒精測試儀垃圾場氣體檢測空氣質量檢測儀熏蒸氣體檢測儀氣體檢測報警儀氫氣氣體檢測報氧氣檢測儀測氡儀干燥箱系列培養箱系列振蕩器系列攪拌器系列水浴鍋系列離心機系列粉碎機系列

X8C北京偏光熔點儀

一，用途：

偏光熔點儀是專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料科學而研制。偏光熔點儀與光學或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察紀錄其溶化、升華、結晶過程中的狀態和各種變化。偏光熔點儀并采用人性化“傻瓜”設計，自動化程度高，操作簡單，技術先進，性能優秀，結構新穎可靠

二，偏光熔點儀技術指標：

1，輸入電源：交流220V±10% 45—60Hz；

2，功率：75W；

3，溫度范圍：室溫—400℃；

4，熱臺外體最高溫度：熱體400℃（室溫25℃時≤70℃）；

5，工作方式：連續；

6，測量精度：全范圍≤±0.5%；

7，系統波動度：±1℃；

8，最大升溫速度：室溫—100℃≤40秒；

9，最慢升溫速度達400℃時間：4小時；

10，可設置升溫速度范圍：0.5—36秒/℃；

11，即刻恒溫響應時間：≤0.01秒；

三，偏光熔點儀產品特性

1，獨特的實體無縫隙熱體結構：導熱快，溫度均勻一致，熱源無氧化，壽命長久，體積小，功率大，能耗低，升溫迅速，能耐受長時間高溫連續不間斷工作。

2，獨特的熱力學隔離設計：高﹑低溫區有效隔離，高溫載物臺高達400℃時，其外體可安全握持不燙手，且無需水冷！

3，直流低電壓加熱：安全﹑無輻射。

4，人性化“傻瓜”設計：液晶觸摸習設計，使用操作極為方便。

5，環境自適應模糊邏輯控制模式，整定迅捷，精度極高，波動度微小，能適應惡劣環境，即使強陣風吹佛載物臺，系統也能實現高精度有效控制。

北京譽朗諾科技有限公司

Http://www.bjylnkj.com

電話：

該公司產品分類：尼康顯微鏡呼吸機顯微鏡附件顯微熔點儀紫外分析儀床單位消毒器紫外線消毒車紫外線殺菌燈紫外線燈管奧林巴斯顯微鏡凝膠成像系統電泳光密度掃描儀菌落計數器

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