用途：
該X射線晶體分析儀，主要用于研究物質內部微觀結構。如：單晶定向、檢驗缺陷、物質定性、測定點陣參數、測定殘余應力等。
| 晶體分析儀是利用X射線衍射原理分析物質內部結構的一種大型精密分析器，是多晶體分析的最基本方法。廣泛用于教學、工業、農業國防和科研領域。 DXJ-2000型晶體分析儀高壓控制單元采用單片機控制，并有故障診斷功能，儀器整機性能穩定，主要技術指標如下： |
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| X射線發生器部分 |
| ●額定輸出功率：3kW； ●管電壓：10~60kV 1kV/step； ●管電流：5~80mA 1mA/step； ●管電壓、管電流穩定度：<0.01%； ●有過壓、過流、過功率、無壓、無水、X射線管工作水溫等保護； ●kV、mA升降，光閘開關由微機控制功能。 |
| X射線防護 |
| ●鉛玻璃防護，光閘窗口與防護罩連動，防護罩外射線計量不大于1μSv/h。 |
| X射線管 |
| ●最大額定功率：2kW、焦點尺寸：1×10mm； ●靶材：Cu靶或其他靶材； ●濾波片：Ni或與靶材匹配。 |
| X射線照相機 |
| ●勞厄相機：用微X射線衍射對晶體結構進行分析； ●德拜相機：用X射線衍射對微小微量的樣品進行分析。 |
| 電 源 | AC220V 50HZ 30A |
| 功 率 | 2KW |
| 靶 材 | Cu |
| 管電壓 | 50KV （連續可調） |
| 管電流 | 50mA （連續可調） |
| 制 冷 | 循環水、制冷水箱 |
| 防 護 | 鉛有機玻璃防護罩 |
| 照 相 | |
| 相 機 | 背反射勞厄相機 |
| 照相方式 | 自動定時（） |
| 定時時間 | （ 1 秒～ 9999 秒） |
| 定 向 | |
| 方 式 | 高精度（前置單色器） |
| 測角范圍 | θ 10 °～ 50 °、 2 θ 10 °～ 100 ° |
| 顯示器 | 數字顯示，度、分、秒 |
| 顯示精度 | 1 ″ |
| 光 閘 | 腳踏電磁光閘 |
| 分辨率 | ± 15 ″（優于） |
| 產品概述 |
| 晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80是高性價比的晶振測試系統，采用微處理器技術，實現智能化測量，符合IEC-444標準。測量頻率范圍20KHz-100MHz，附RS-232接口進行數據通信。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業生產和科研使用。 晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80采用π型網絡零相位法實現等精度測量。它測量精度高，速度快；具有串聯諧振頻率、負載諧振頻率、串聯諧振電阻、負載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數測量，可保存5個不同晶振頻率和負載電容參數，負載電容在2-20P范圍內任意編程設置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能運算克服了市場上晶體阻抗計阻抗數值顯示不明顯的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。 |
| 產品特點 |
| 1. 阻抗值、ppm同時顯示 2. 無需人工校對，直接測試多種參數 3. 新技術，符合IEC-444標準，滿足國人需求，可替代進口設備 4. LCD顯示
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| 我們的優勢 |
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| 特性 |
| 1. 中心頻率范圍： 20KHz-100MHz任意設定 2. 負載電容：4-20P 任意設定 3. 負載諧振電阻：1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范圍測量：±300ppm 5. PPm測量精度：< 0.5ppm 6. 時基頻率：16.384M 7. 晶振穩定性：2×10-8 /日 8. 體積：80×235×305（mm） 9. 保修期：三年 |
| 訂購注意事項 |
| 1. 此產品網上訂購，價格不含稅不含運費，承諾質量保證并十五天內包退換，下單即可備貨發貨。 2. 請告知我們待測產品，以方便我們為您正確選型。 3. 如有特殊要求時請在訂購產品時注明。 4. 若已由設計單位選定的型號，請按型號直接向我司銷售部訂購。 5. 當使用的場合非常重要或環境比較復雜時，請您盡量提供設計圖。 6. 如有任何疑問，請隨時致電我們，我們一定會盡心盡力為您提供優質的服務。 |
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