CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析：正比計數探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度 簡單的元素區分：二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優化，測量元素范圍廣： 可預設參數 CMI900 提供800多種預設應用參數/方法 杰出的長期穩定性： 自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩定的結果 簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正 堅固耐用的設計 可以在實驗室或生產線上操作 堅固的工業設計 經行業驗證的技術，在全球銷售量超過3000臺
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利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。
X-Strata鍍層測厚儀是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
無損分析：無需樣品制備
經行業認證的技術和可靠性
操作簡單，只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和精確性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900/920主機的全面自動化控制，
技術參數：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于測厚行業
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領先于世界C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為： 一：手動樣品臺1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI920系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI920可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺可實現測定點自動編程控制。 2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。
3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。