塑料薄膜和薄片測厚儀 TSY-35
一、塑料薄膜和薄片測厚儀簡介
薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
二、塑料薄膜和薄片測厚儀技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm量程0-1mm
2、上下測量面為平面時(shí)，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測量面為凸/平面時(shí)，上測量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí)，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N-0.5N之間。
4、測量度
100μm以內(nèi) 度1μm
100μm到250μm度2μm
250μm以上 度3μm
三．塑料薄膜和薄片測厚儀使用方法：
1.測試先把千分表清零，并撥動操縱桿試幾次回零后，再進(jìn)行測試。操作時(shí)輕抬輕放以免損壞測足及儀表。
2．用手指按下操縱桿使測足上抬，將被測物置于工作臺、測足之間。輕放操縱桿，此時(shí)表的讀數(shù)即被測物的厚度，
3.使用完畢后將儀器裝入盒內(nèi)并置于干燥處防止受潮。
一、塑料薄膜和薄片測厚儀簡介
薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
二、塑料薄膜和薄片測厚儀技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm量程0-1mm
2、上下測量面為平面時(shí)，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測量面為凸/平面時(shí)，上測量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí)，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N-0.5N之間。
4、測量度
100μm以內(nèi) 度1μm
100μm到250μm度2μm
250μm以上 度3μm
三．塑料薄膜和薄片測厚儀使用方法：
1.測試先把千分表清零，并撥動操縱桿試幾次回零后，再進(jìn)行測試。操作時(shí)輕抬輕放以免損壞測足及儀表。
2．用手指按下操縱桿使測足上抬，將被測物置于工作臺、測足之間。輕放操縱桿，此時(shí)表的讀數(shù)即被測物的厚度，
3.使用完畢后將儀器裝入盒內(nèi)并置于干燥處防止受潮。
一、塑料薄膜和薄片測厚儀簡介
薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測試，還可適用于紙張、紙板的厚度測試、箔片、硅片、金屬片的厚度測試、紡織材料的厚度測試、固體電絕緣體的厚度測試。
二、塑料薄膜和薄片測厚儀技術(shù)參數(shù)
1、分度值0.001mm量程0-1mm
2、上下測量面為平面時(shí)，測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測量面為凸/平面時(shí)，上測量面的曲率半徑在15-50(mm)時(shí)，其測量面對試樣施加的負(fù)荷為0.1N-0.5N之間。
4、測量度
100μm以內(nèi) 度1μm
100μm到250μm度2μm
250μm以上 度3μm
三．塑料薄膜和薄片測厚儀使用方法：
1.測試先把千分表清零，并撥動操縱桿試幾次回零后，再進(jìn)行測試。操作時(shí)輕抬輕放以免損壞測足及儀表。
2．用手指按下操縱桿使測足上抬，將被測物置于工作臺、測足之間。輕放操縱桿，此時(shí)表的讀數(shù)即被測物的厚度，
3.使用完畢后將儀器裝入盒內(nèi)并置于干燥處防止受潮。