XR-306X射線熒光能譜儀，熒光X-Rey射線鍍層測量儀
SEA5100采用Si Li半導體檢測器，使之測量分辨率大大提高，彌補了用比例計數管檢測時有些元素難以區分的不足，配備有小型準直器,不僅可以進行元素分析，也可測量鍍層厚度,與薄膜FP法配合使用時,可以不使用標準樣品，就可以進行元素分析及鍍層測量。標準配備有Windows2000中文操作界面，采用檢量線法和FP法，測量數據與Word和Excel鏈接，自動生成報告和數據處理，2個準直器可自動切換，工作臺3維電動，可編程進行自動測量
利用微小的X射線束流來進行微小的異物分析雖然從微小的異物得到的信號量不隨照射異物的X射線束流大小而改變，但是從底材得到信號隨著束流的減小而減小，相對來說，從異物得到的信號跟底材的比增強。于是，微小的X射線束流在進行微小的異物和樣品時，發揮著重要的作用。
方便簡單的多點分析和成像利用多彩的掃描方法，自動的測量樣品的表面，簡單明了的表示出2維或者3維的元素分布，膜厚組成分布等的成像。
鮮明的樣品畫像和定性分析對比表示通過光亮的照明和倍率切換，可以得到擴大90倍的畫像，可以清楚的觀察到微小的部分，通過鼠標和操縱桿，可以自由自在的移動樣品，利用標有準直器尺寸的十字線，來不斷的確認和調整需要分析部分的位置。通過電鍍部分和材質的能諳對比，確認曲線重合部分的元素的同時，正確的設定測量條件。
自動完成分析報告分析測量結束后，點擊輸出報告的按鍵，便自動的啟動報告編輯軟件。自動的表示出測量條件，樣品圖像，能譜，X射線強度，分析數據等。以此為基礎進行編輯，可以簡單的完成數據詳細、具有說服力的分析報告。
XULFISCHER電鍍鍍層測量儀
FISCHER電鍍鍍層測量儀采用全新數學計算方法和最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算,創新的高科技X-射線技術的支持，可對膜層厚度，進行非破壞式的測量，符合國際標準來進行非破壞及不接觸的測量。 電鍍鍍層測量儀除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多至4層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.采用模組形式設計，可以有很多種不同的配置，例如：不同設置的XY軸及Z軸，及一些特大的測量室，來滿足特大的種品及一些高低位相差比較大的測量室。電鍍鍍層測量儀主要用于防氧化保護金屬鍍層的厚度測量及一些在五金件中裝飾性電鍍層，如鉻層及鎳層在銅材上的厚度測量。 
FVXR-1比利時IRM測厚儀 射線鍍層測量儀FVXR-1X
CM710e 非接觸式近紅外線測量儀 單級燒結 多級燒結 焦粉 紅外線光學水份儀
PERMAGNAG 燒結裝置控制儀 燒結磁性測量
PERMEAMETER 燒結裝置控制儀 原料混合透氣性測量
T100 光學測厚儀 中心線測量，基本型 連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬）
T100-Dual 光學測厚儀 雙測量頭C型架一體控制 連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬）
T100-P 光學測厚儀 斷面、楔度、凸度 連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬）
T100-HP 光學測厚儀 中心線測量，高級型 連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬）
T100-3P 光學測厚儀 重型楔度和凸度測量（中心線+2個可調邊部測量頭） 連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬）
TVXR-2 X射線 高能測厚儀 熱軋、冷軋、處理線 中心測量 基本型
TVXR-2P X射線 高能測厚儀 熱軋、冷軋、處理線 掃描測量
TVXR-2 2F X射線 高能測厚儀 熱軋、冷軋、處理線 雙測量頭 雙C型架+單一控制器
TVXR-2 2F/P X射線 高能測厚儀 熱軋、冷軋、處理線 雙測量頭 中心點固定+掃描測量
TVXR-1 X射線 中能測厚儀 熱軋、冷軋、處理線 中心測量 基本型
TVXR-1P X射線 中能測厚儀 熱軋、冷軋、處理線 掃描測量
TVXR-1 2F X射線 中能測厚儀 熱軋、冷軋、處理線 雙測量頭 雙C型架+單一控制器
TVXR-1 2F/P X射線 中能測厚儀 熱軋、冷軋、處理線 雙測量頭 中心點固定+掃描測量
THAM-2 LS 伽瑪射線 測厚儀 冷軋 熱軋 處理線 Am241 低速
THAM-2 HS 伽瑪射線 測厚儀 冷軋 熱軋 處理線 Am241 高速 低噪聲
THAM-2 2F 伽瑪射線 測厚儀 冷軋 熱軋 處理線 雙測量頭 雙C型架+單一控制器
FVXR-1/O Zn X射線 鍍層測量儀 鍍鋅線 鍍錫 鍍銅 鍍鎳 鍍鋅線 O型架
FVXR-1/S Zn X射線 鍍層測量儀 鍍鋅線 鍍錫 鍍銅 鍍鎳 鍍鋅線 分離架
FVXR-1/O Zn/Al X射線 鍍層測量儀 鍍鋅線 鍍錫 鍍銅 鍍鎳 鍍鋅線（鋅/鋁） O型架
FVXR-1/O Sn X射線 鍍層測量儀 鍍鋅線 鍍錫 鍍銅 鍍鎳 鍍錫線 O型架
FVXR-1/O Zn ICON X射線 鍍層測量儀 鍍鋅線 鍍錫 鍍銅 鍍鎳 鍍鋅線 O型架 鍍鋅退火鐵含量測量
FVXR-1/O Zn HR X射線 鍍層測量儀 鍍鋅線 鍍錫 鍍銅 鍍鎳 鍍鋅線 O型架 鍍鋅單向皺紋測量
FVXR-1/O Cu/Ni X射線 鍍層測量儀 鍍鋅線 鍍錫 鍍銅 鍍鎳 鍍銅 鍍鎳 O型架
W10x2 光學測寬儀（邊部測量）連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬） 基本側寬型
W10x3 WS 光學測寬儀（邊部測量）連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬） 側寬儀+傾斜度測量
W10x3 C 光學測寬儀（邊部測量）連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬） 鐮刀彎測量儀
W10x4 xl 光學測寬儀（邊部測量）連鑄 加熱爐 熱軋初軋 厚板（鋼鐵、鋁、其他金屬） 測寬儀+傾斜度測量+鐮刀彎測量+長度
W100 光學測寬儀（上部測量）熱軋初軋 精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 熱軋
W100-P 光學測寬儀（上部測量）熱軋初軋 精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 厚板
W100-A 光學測寬儀（上部測量）熱軋初軋 精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 冷軋和處理線
W100-PSG 光學測寬儀（上部測量）熱軋初軋 精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 測寬儀帶有形狀識別（頭尾最佳輪廓，鐮刀彎和長度）
W100-CSOT 光學測寬儀（上部測量）熱軋初軋 精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 測寬儀帶有最佳剪切識別及剪切點設定
ROMETER F300 光學平直度儀 熱軋精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 3點測量，可移動寬度匹配三角法
ROMETER F200 光學平直度儀 熱軋精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 1、2、3點測量，固定和可移動三角法
ROMETER F100 光學平直度儀 熱軋精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 1、2、3點測量，固定三角法
ROMETER FQC-1 光學平直度儀 熱軋精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 用于質量檢測的平直度測量（熱軋）
ROMETER FQC-2 光學平直度儀 熱軋精軋 卷取 爐卷軋機 厚板 冷軋 處理線 用于質量檢測的平直度測量（厚板）
IG710S 非接觸式近紅外測量儀 處理線 掃描式光學涂層測量儀，用于測量水質，有機和可溶性涂布及聚合物
SR710S 非接觸式近紅外測量儀 處理線 掃描式光學涂層測量儀，用于測量清晰的輕色素簿有機漆料涂布，膠粘劑涂料。鋼材或鋁材上蠟，簿水質涂料。
北京中達信泰科技有限公司聯系人：李麗靜熱線： 400-660-7133郵件： sales@zdxtkj.com網址： www.zhongdaxintai.com
涂層測厚儀MP20電鍍層測量儀
涂層測厚儀MP20電鍍層測量儀
涂層測厚儀MP20電鍍層測量儀特點
HELMUT FISCHER公司提供了多種不同的便攜式儀器，可以滿足每個客戶的需要。
DUALSCOPE®儀器系列具有允許操作者選擇磁感應法或渦流法測量涂層厚度的能力。可以測量鋼上的涂鍍層厚度，也可以測量非鐵金屬上的涂鍍層厚度。
DUALSCOPE®MP20 | DUALSCOPE®MP40 | |
| 非鐵金屬上的油漆、陽極氧化層、瓷漆或塑料涂層 |  | |
| 鋁上的陽極氧化層 | | |
| 鋼或鐵上的儀器、 瓷漆或塑料涂層 | | |
| 鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層 | | |
| 數據儲存 | | |
| 統計計算 | | |
| 打印口/RS232 接口 | | |
| 可更換插入式智慧型探頭 | | |
| 測量范圍（μm）[mils] | 取決于探頭 | 取決于探頭 |
| 電源 | 電池 | 交流電或電池 |
| 重量[g] | 230 | 230 |
| 規格 (高x寬x深mm)[高x寬x深"] | 160x80x30[4.25x2.6x1.2] | 160x80x30[4.25x2.6x1.2] |
DUALSCOPE®MP20使用電磁感應和渦流兩種測試方法。提供了對于既要在鐵磁材料又要在非鐵材料上測量，并且不需要文件硬拷貝的應用需求的經濟解決方案。儀器能自動地識別被測材料并選擇適合的測試方法。DUALSCOPE®MP20 配備有一個獨特的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數，測量次數，統計數據，Cp和 Cpk，產品規格限制超出，日期，時間，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數據和操作員提示。DUALSCOPE®MP20允許操作者根據不同的應用情況更換大量可供選擇的Fischer智慧型測量探頭。這種無約束的互換探頭的能力允許操作者僅僅通過簡單的探頭更換就能適應各種的測量情況。DUALSCOPE®MP20理想的適合于測量：
- 非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。
- 油漆、臘克和合成涂層在在鐵或鋼上。
- 非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上
- 鋁的陽極氧化層
- 一步測量鋼材上鍍鋅再鍍油漆的鍍層系統（雙鍍層）中各自的厚度。
DUALSCOPE®MP40是在MP20基礎上增加了數據采集功能。存儲容量多達1,000數據組的10,000個測量數據，帶動態存儲分配能力。100個測量應用的內存可用于存儲校準和相關的測量數據。
涂層測厚儀DUALSCOPE® MP40電鍍層測量儀
涂層測厚儀DUALSCOPE® MP40電鍍層測量儀
涂層測厚儀DUALSCOPE® MP40電鍍層測量儀特點
HELMUT FISCHER公司提供了多種不同的便攜式儀器，可以滿足每個客戶的需要。
DUALSCOPE®儀器系列具有允許操作者選擇磁感應法或渦流法測量涂層厚度的能力。可以測量鋼上的涂鍍層厚度，也可以測量非鐵金屬上的涂鍍層厚度。
DUALSCOPE®MP20 | DUALSCOPE®MP40 | |
| 非鐵金屬上的油漆、陽極氧化層、瓷漆或塑料涂層 |  | |
| 鋁上的陽極氧化層 | | |
| 鋼或鐵上的儀器、 瓷漆或塑料涂層 | | |
| 鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層 | | |
| 數據儲存 | | |
| 統計計算 | | |
| 打印口/RS232 接口 | | |
| 可更換插入式智慧型探頭 | | |
| 測量范圍（μm）[mils] | 取決于探頭 | 取決于探頭 |
| 電源 | 電池 | 交流電或電池 |
| 重量[g] | 230 | 230 |
| 規格 (高x寬x深mm)[高x寬x深"] | 160x80x30[4.25x2.6x1.2] | 160x80x30[4.25x2.6x1.2] |
DUALSCOPE®MP20使用電磁感應和渦流兩種測試方法。提供了對于既要在鐵磁材料又要在非鐵材料上測量，并且不需要文件硬拷貝的應用需求的經濟解決方案。儀器能自動地識別被測材料并選擇適合的測試方法。DUALSCOPE®MP20 配備有一個獨特的和便于讀取的60 x 30 mm （2.4" x 1.2"）液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡便，包括單個測量讀數，測量次數，統計數據，Cp和 Cpk，產品規格限制超出，日期，時間，以及顯示操作模式和設置的圖標和符號，2行文本各16個字母或可自由選擇的符號以用于顯示數據和操作員提示。DUALSCOPE®MP20允許操作者根據不同的應用情況更換大量可供選擇的Fischer智慧型測量探頭。這種無約束的互換探頭的能力允許操作者僅僅通過簡單的探頭更換就能適應各種的測量情況。DUALSCOPE®MP40理想的適合于測量：
- 非鐵金屬鍍層（例如：鉻，銅，鋅等）在鐵或鋼上。
- 油漆、臘克和合成涂層在在鐵或鋼上。
- 非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上
- 鋁的陽極氧化層
- 一步測量鋼材上鍍鋅再鍍油漆的鍍層系統（雙鍍層）中各自的厚度。
DUALSCOPE®MP40是在MP20基礎上增加了數據采集功能。存儲容量多達1,000數據組的10,000個測量數據，帶動態存儲分配能力。100個測量應用的內存可用于存儲校準和相關的測量數據。
CM8826F實物CM8826F膜厚計鍍層測量儀CM-8826F 正品蘭泰
CM8826F鐵基涂層測厚儀
（分體化傳感器涂層測厚儀）
產品特點及技術參數：
◆功能： 測量導磁物體上的非導磁涂層和非磁性金屬基體上的非導電覆蓋層的厚度
◆測量方法：F 磁感應 NF 渦流
◆測量范圍：0-1250um/0-50mil （標準量程）
◆最小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
◆分辨率：0.1/1
◆最小測量面積：6mm
◆最薄基底：0.3mm
◆自動關機
◆使用環境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
◆準確度：±（1-3%n）或±2um
◆公制/英制：可選擇
◆電源：4節7號電池
◆電池電壓指示：低電壓提示
◆外形尺寸：126X65X27mm
重量：81g（不含電池）
可選附件:
1、RS-232 或聯機線及軟件
2、可定制量程（大量程傳感器）可選:0-200um to 18000um
應用：
用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
CM8826F特價實物CM8826F膜厚計鍍層測量儀CM-8826F 正品蘭泰
CM8826F鐵基涂層測厚儀
（分體化傳感器涂層測厚儀）
產品特點及技術參數：
◆功能： 測量導磁物體上的非導磁涂層和非磁性金屬基體上的非導電覆蓋層的厚度
◆測量方法：F 磁感應 NF 渦流
◆測量范圍：0-1250um/0-50mil （標準量程）
◆最小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
◆分辨率：0.1/1
◆最小測量面積：6mm
◆最薄基底：0.3mm
◆自動關機
◆使用環境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
◆準確度：±（1-3%n）或±2um
◆公制/英制：可選擇
◆電源：4節7號電池
◆電池電壓指示：低電壓提示
◆外形尺寸：126X65X27mm
重量：81g（不含電池）
可選附件:
1、RS-232 或聯機線及軟件
2、可定制量程（大量程傳感器）可選:0-200um to 18000um
應用：
用磁性傳感器測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
BX610-7500涂鍍層檢測儀 手持式涂鍍層測量儀 數顯涂鍍層檢測儀
產品名稱:涂鍍層檢測儀 手持式涂鍍層測量儀 數顯涂鍍層檢測儀產品型號:BX610-75001.只需調零、無需校準 2.Fe/NFe、Fe、NFe多種探頭可選 3.一體化、分體自由組合 4.自動開關機 5.可配多種探頭 6.可存儲3900組數據（BX610-7500記憶型） QuaNix技術參數 型 號BX610- 4200 BX610-4500 BX610-1200 BX610-1500 BX610-7500 keyless 基 體 Fe Fe/NFe Fe Fe/NFe Fe、NFe、Fe/NFe Fe/NFe 探頭形式 一體 一體、分體 無線分體 顯 示 LCD數字顯示 測量范圍 0－3000μm Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm 0－2000μm 0－5000μm 0－2000μm 0－5000μm 0－5000μm 測量精度 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3% 顯示精度 1μm 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm 工作溫度 －10 － ＋60℃ 溫度補償 0－50℃ 存 儲 － BX610-1500M型 BX610-7500M型 keylessM型 3900個測量值，999個數據組 數據傳輸 － RS232打印、電腦 統計功能 － 平均值、大值、小值、標準偏差 超限報警 － 上下限 小基體 10mm×10mm 小曲率 凸、凹半徑：3mm/25mm 凸半徑：5mm，凹半徑：25mm 薄基體 Fe：0.2mm，NFe：0.05mm 電 源 5號電池2節 9V堿性電池1節 5號電池2節 重 量 110g 130g 150g 130g 尺 寸 110×60×27mm 166×64×34mm 110×60×24mm 110×62×22mm
BX610-8500涂鍍層檢測儀 涂鍍層測量儲存儀 數顯涂鍍層測量儀
產品名稱:涂鍍層檢測儀 涂鍍層測量儲存儀 數顯涂鍍層測量儀產品型號:BX610-8500BX610-8500主機 基 體 Fe、NFe、FeNFe 探頭形式 一體、 分體 顯 示 LCD液 晶 顯 示 測量范圍 0－2000μm 0－5000μm 測量精度 0－2000μm： ≤±2％ 2000－5000μm：≤±3％ 小基體 Fe：20mm×20mm NFe：20mm×20mm 薄基體 Fe：0.2mm NFe：0.05mm 小曲率 凸半徑：5mm 凹半徑：30mm 統計功能 平均值，大值，小值，標準偏差 儲存溫度 －10℃ －－－ 60℃ 菜單語言 可預置3種語言 單位顯示 μm/mil（公/英制） 溫度補償范圍 0℃ －－－ 60℃ 電 源 2節1.5V干電池 重 量 120g（含電池及探頭） 顯示功能 可以翻轉顯示屏幕所顯示的讀數 顯示精度 0.01μm 0－9.99μm 菜單語言 可預置3種語言 存儲功能 13000個讀數，999個數據組 數據傳輸 RS232數據無線傳輸，在無障礙空間內遠傳輸范圍可達到10m 尺 寸 124mm×67mm×33mm
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