測厚儀產品及廠家
涂層測厚儀是一種便攜式測量儀，能快速、無損傷、精密地測量涂、鍍層的厚度；可用于工程現場，也可用于實驗室，是材料保護專業必備的儀器。
更新時間:2025-12-04
應用最廣泛、測量準確，幾乎可以測量所有的基體，無論是鐵基還是非鐵基；并且帶有rs-232c數據連接線、usb數據連接和藍牙傳輸功能；整體式儀器適合單手操作并且測量更加穩定，因為在測量中，大類型探頭的大接觸面具有更好的穩定性，使用戶可以得到一個持續且重復性強的測量結果；分體式提供多種探頭，測量機動性更強。
更新時間:2025-12-04
本儀器適用于石化工業、造船業、汽車制造業、電站、機器制造業中對鍋爐、儲油罐、管道、 管材、 板坯、鍛件、法蘭、船殼、甲板、軌道、機加工零件等的厚度測量和腐蝕測量。 對于大部分能傳播超聲波的材料均可以使用本儀器測厚，如： 金屬、陶瓷、塑料、尼龍、玻璃等。
更新時間:2025-12-04
臺式測厚儀 電子鋁箔測厚儀 壓力測厚儀c640——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-04
紙張厚度測試儀 紙板厚度儀 紙板厚度測試儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-04
紙板厚度測定儀 紙板厚度檢測儀 紙板厚度測量儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
薄片測厚儀 金屬片測厚儀 臺式膜厚儀膜厚計——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
c640硅片測厚儀 薄片厚度測定儀 鋰電隔膜測厚儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
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chy-c2a銅箔測厚儀 銅箔厚度儀 銅箔厚度測試儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
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chy-c2a紙張測厚儀、紙張厚度儀、紙張厚度測定儀，采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
紙板紙張測厚儀 gb/t 6547瓦楞紙板厚度測試儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
chy-c2a藥用鋁箔測厚儀 鋁箔厚度測量儀 藥用鋁箔厚度儀——采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
gb/t 451.3接觸式紙張厚度儀 電子式紙張厚度測定儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
labthink電子紙張測厚儀 臺式紙張厚度儀 紙張厚度測定儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
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鋁箔厚度儀 鋁箔厚度檢測儀 鋁箔厚度測量儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
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c640無紡布測厚儀 織物測厚度儀 紡織品厚度測試儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
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iso 534標準紙板測厚儀 紙張厚度測量儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
c640電池硅片測厚儀 硅片厚度測量儀 薄片厚度檢測儀，是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-04
薄片厚度測試儀 薄膜厚度檢測儀 高精度箔片測厚儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-04
銅箔厚度測定儀 銅箔厚度測量儀 箔片厚度檢測儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
箔片厚度測試儀 箔片厚度測量儀 實驗室測厚儀labthink，chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
臺式測厚儀 金屬片厚度測試儀 金屬片厚度測定儀——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
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接觸式壓力測厚儀 無紡布厚度測試儀 無紡布厚度測量儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-04
薄膜片測厚儀 金屬片厚度檢測儀 金屬片厚度測量儀——c640測厚儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。
更新時間:2025-12-04
美國博曼全自動鍍層膜厚儀原裝進口美國博曼ba-100系列鍍層厚儀：主機美國原裝進口，由美國k alpha公司研制，無損鍍層測厚儀，測量時間短、測量結果精準、報告輸出多樣化、維護成本低廉，擁有變焦系統和多準直器系統，可實現大型扁平狀產品、帶有凹槽的產品的測量的鍍層測厚儀。
更新時間:2025-12-04
菲希爾臺式鍍層測厚儀手持便攜式測量儀膜厚儀手持式便攜x射線熒光儀器為鍍層厚度測量和合金分析而優化3點支撐，保證每次測量時的位置準確帶有winftm軟件的平板電腦wifi和藍牙接口可選的測試箱
更新時間:2025-12-04
gb/t 6672臺式薄膜測厚儀 包裝薄膜厚度測定儀labthink——chy-c2a測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
無紡布厚度測定儀 紡織品厚度檢測儀 紡織品測厚儀（型號c640）采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量
更新時間:2025-12-04
c640橡膠片材測厚儀 實驗室厚度儀 高精度測厚測定儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規范性和準確性。業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
更新時間:2025-12-04
鋅鎳合金鍍層測厚儀鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同） 重復性：可達0.1％ 穩定性：可達0.1％ sdd探測器：分辨率低至135ev
更新時間:2025-12-04
鋅鎳合金鍍層測厚儀鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同） 重復性：可達0.1％ 穩定性：可達0.1％ sdd探測器：分辨率低至135ev
更新時間:2025-12-04
鋅鎳合金鍍層厚度測試儀鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同） 重復性：可達0.1％ 穩定性：可達0.1％ sdd探測器：分辨率低至135ev
更新時間:2025-12-04
天瑞鍍層測厚儀信號檢測電子電路。高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。
更新時間:2025-12-04
天瑞鍍層測厚儀信號檢測電子電路。高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。
更新時間:2025-12-04
國產天瑞鍍層測厚儀高低壓電源。x光管。高度傳感器保護傳感器開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺，探測器和x光管上下可動，實現三維移動。
更新時間:2025-12-04
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