孔徑/隙度分析儀產(chǎn)品及廠家
孔徑比表面積測(cè)定儀ssa-4200樣品分析口為2個(gè)分析口，分析方法：真空靜態(tài)法，高精度十二位體電磁閥控制模塊
更新時(shí)間:2025-12-01
孔徑比表面積測(cè)試儀ssa-4200分析儀，采用真空靜態(tài)法，樣品分析口為2個(gè)，高精度十二位體電磁閥控制模塊
更新時(shí)間:2025-12-01
孔徑比表面積測(cè)定儀ssa-4200采用際通用的等溫物理吸附靜態(tài)容量法，全程計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制，無需人工監(jiān)測(cè)。可同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)樣品的分析，測(cè)試軟件分析模型基于bet多層吸附理論、langmuir單層吸附理論及bjh孔徑等理論自行研發(fā)。儀器可進(jìn)行單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積、bjh中孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積、及平均孔大小等的多種數(shù)據(jù)分析，可滿足多種工況環(huán)境條件下的實(shí)驗(yàn)需求。
更新時(shí)間:2025-12-01
孔徑比表面積測(cè)定儀ssa-4300采用際通用的等溫物理吸附靜態(tài)容量法，全程計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制，無需人工監(jiān)測(cè)。可同時(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的分析，測(cè)試軟件分析模型基于bet多層吸附理論、langmuir單層吸附理論及bjh孔徑等理論自行研發(fā)。儀器可進(jìn)行單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積、bjh中孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積、及平均孔大小等的多種數(shù)據(jù)分析，可滿足多種工況環(huán)境條件下的實(shí)驗(yàn)需求。
更新時(shí)間:2025-12-01
孔徑比表面積檢測(cè)儀ssa-4200采用際通用的等溫物理吸附靜態(tài)容量法，全程計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制，無需人工監(jiān)測(cè)？赏瑫r(shí)進(jìn)行兩個(gè)樣品的分析，測(cè)試軟件分析模型基于bet多層吸附理論、langmuir單層吸附理論及bjh孔徑等理論自行研發(fā)。儀器可進(jìn)行單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積、bjh中孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積、及平均孔大小等的多種數(shù)據(jù)分析，可滿足多種工況環(huán)境條件下的實(shí)驗(yàn)需求。
更新時(shí)間:2025-12-01
孔徑比表面積檢測(cè)儀ssa-4300采用際通用的等溫物理吸附靜態(tài)容量法，全程計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制，無需人工監(jiān)測(cè)？赏瑫r(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的分析，測(cè)試軟件分析模型基于bet多層吸附理論、langmuir單層吸附理論及bjh孔徑等理論自行研發(fā)。儀器可進(jìn)行單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積、bjh中孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積、及平均孔大小等的多種數(shù)據(jù)分析，可滿足多種工況環(huán)境條件下的實(shí)驗(yàn)需求。
更新時(shí)間:2025-12-01
孔容孔隙比表面積分析儀ssa-4200采用際通用的等溫物理吸附靜態(tài)容量法，全程計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制，無需人工監(jiān)測(cè)。可同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)樣品的分析，測(cè)試軟件分析模型基于bet多層吸附理論、langmuir單層吸附理論及bjh孔徑等理論自行研發(fā)。儀器可進(jìn)行單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積、bjh中孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積、及平均孔大小等的多種數(shù)據(jù)分析，可滿足多種工況環(huán)境條件下的實(shí)驗(yàn)需求。
更新時(shí)間:2025-12-01
孔容孔隙比表面積分析儀ssa-4300采用際通用的等溫物理吸附靜態(tài)容量法，全程計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制，無需人工監(jiān)測(cè)？赏瑫r(shí)進(jìn)行三個(gè)樣品的分析，測(cè)試軟件分析模型基于bet多層吸附理論、langmuir單層吸附理論及bjh孔徑等理論自行研發(fā)。儀器可進(jìn)行單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積、bjh中孔、孔分布、孔大小及總孔體積和面積、及平均孔大小等的多種數(shù)據(jù)分析，可滿足多種工況環(huán)境條件下的實(shí)驗(yàn)需求。
更新時(shí)間:2025-12-01
研究石墨的宏觀組織結(jié)構(gòu)性質(zhì)，只知道總氣孔率、開口氣孔率和閉口氣孔率、比孔容積，還不足以解釋系列工藝技術(shù)問題，還應(yīng)知道孔徑的分布狀況？讖椒植际强兹莘e按孔徑大小不同而變化的量。比如說，試塊內(nèi)大孔占多少，它們的孔體積對(duì)全部氣孔的總體積占有比例多大；毛細(xì)孔有多少，它們的孔體積對(duì)全部氣孔的總體積占有比例多大，這些問題都有必要進(jìn)行研究。北京彼奧德電子技術(shù)有限公司ssa-4300利用靜態(tài)容量法準(zhǔn)確測(cè)定石墨材料的孔徑分布及比表面積。
更新時(shí)間:2025-12-01
納米材料大致可分為納米粉末、納米纖維、納米膜、納米塊體等四類。其中納米粉末開發(fā)時(shí)間長(zhǎng)、技術(shù)為成熟，是生產(chǎn)其他三類產(chǎn)品的基礎(chǔ)。
更新時(shí)間:2025-12-01
石灰?guī)r具有良好的加工性、磨光性和很好的膠結(jié)性能，不溶于水，易溶于飽和硫酸，能和種強(qiáng)酸發(fā)生反應(yīng)并形成相應(yīng)的鈣鹽，同時(shí)放出co2。石灰?guī)r煅燒至900℃以上（般為1000~1300℃）時(shí)分解轉(zhuǎn)化為石灰（cao），放出co2。生石灰遇水潮解，立即形成熟石灰[ca(oh)2]，熟石灰溶于水后可調(diào)漿，在空氣中易硬化。
更新時(shí)間:2025-12-01
mfa-140多功能吸附儀是一款可應(yīng)用于微孔領(lǐng)域的高性能、多功能物理吸附分析儀；擁有先進(jìn)的技術(shù)、卓越的品質(zhì)、更全面的理論模型及優(yōu)良的測(cè)試精度，滿足科研、學(xué)術(shù)探討等多方面應(yīng)用需求
更新時(shí)間:2025-12-01
mfa-140多功能吸附儀是一款可應(yīng)用于微孔領(lǐng)域的高性能、多功能物理吸附分析儀；擁有先進(jìn)的技術(shù)、卓越的品質(zhì)、更全面的理論模型及優(yōu)良的測(cè)試精度，滿足科研、學(xué)術(shù)探討等多方面應(yīng)用需求
更新時(shí)間:2025-12-01
ssa-7300系列孔徑及比表面積分析儀是款可應(yīng)用于微孔領(lǐng)域的高性能物理吸附分析儀；擁有更全面的理論模型及優(yōu)良的測(cè)試精度，滿足科研、學(xué)術(shù)探討等多方面應(yīng)用需求
更新時(shí)間:2025-12-01
kubo-x1000是款針對(duì)于微孔領(lǐng)域的高性能物理吸附分析儀；擁有先進(jìn)的技術(shù)、卓越的品質(zhì)、更全面的理論模型及優(yōu)良的測(cè)試精度，滿足科研、學(xué)術(shù)探討等多方面應(yīng)用需求；
更新時(shí)間:2025-12-01
美國(guó)defelsko positest lpd濕海綿針孔檢測(cè)儀操作簡(jiǎn)單、精確, 應(yīng)用非常廣泛的針孔探測(cè)器一系列附件可選, 以滿足您所有的針孔探測(cè)需要，自動(dòng)儀器校準(zhǔn)檢查和低電壓指示。適用于檢測(cè)金屬或混凝土底材上的非導(dǎo)電性涂層。為野外施工設(shè)計(jì)，可用于各種保護(hù)性涂層的質(zhì)量控制和最終檢驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-12-01
英國(guó)elcometer易高266 dc電火花涂層檢漏儀給高壓直流測(cè)試涂層孔隙帶來革命性的變化，檢測(cè)比以往任何時(shí)候都更加安全、更加方便，更加可靠？蓹z測(cè)多種非金屬涂層的凹點(diǎn)、裂縫、破洞、針孔、雜質(zhì)、疵點(diǎn)、氣泡等進(jìn)行精確的檢測(cè)。測(cè)試達(dá)7mm(275mils)厚的涂層孔隙, 是理想管道上涂層和其他保護(hù)涂層的檢測(cè). 這個(gè)檢漏儀具有一個(gè)內(nèi)置電壓計(jì)算器, 確定和設(shè)置基于所述測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和被測(cè)試涂層的厚度正確的測(cè)試
更新時(shí)間:2025-12-01
氣液法法孔徑測(cè)定儀(cfp系列) 能精確測(cè)量出多孔性材料重要的微孔特性。
更新時(shí)間:2025-12-01
中空纖維(中空絲)液液法孔徑分析儀此設(shè)備使用兩種不相溶的潤(rùn)濕液體，以達(dá)到量測(cè)目的。
更新時(shí)間:2025-12-01
中空纖維(中空絲)氣液法孔徑測(cè)定儀(cfp系列) 能精確測(cè)量出多孔性材料重要的微孔特性。
更新時(shí)間:2025-12-01
pmi公司出品的大型樣品孔洞分析儀是屬於毛細(xì)流動(dòng)孔徑儀(capillary flow porometer)的其中一種，專為大型樣品或是巨孔(macropore，孔徑大於50微米)材料所設(shè)計(jì)
更新時(shí)間:2025-12-01
氣液及液液雙測(cè)試法孔徑分析儀是一臺(tái)結(jié)合氣-液法(氣孔計(jì))與液-液法(雙液式孔徑儀)的通孔孔徑分析設(shè)備可測(cè)量所有相關(guān)的流體性能，如狹窄孔徑、平均孔徑、流量孔徑分布、孔數(shù)分布、流體透過率等等。
更新時(shí)間:2025-12-01
pmi的化學(xué)吸附比表面積與微孔徑分析儀是一臺(tái)完全自動(dòng)化的儀器, 用來測(cè)量吸附分離之材料對(duì)各種氣體的吸附及孔結(jié)構(gòu)特性。
更新時(shí)間:2025-12-01
使用精準(zhǔn)的體積量測(cè)儀器，經(jīng)由氣體吸附體積法量測(cè)材料孔洞之物性。將樣品置入一密死循環(huán)境中，在定溫定壓下，量測(cè)氣體因被材料吸附至孔洞內(nèi)而造成的平衡壓力變化，藉而計(jì)算材料孔徑，當(dāng)吸附的氣體分子在材料孔內(nèi)發(fā)生冷凝而成為液體時(shí)，即可計(jì)算其孔體積。
更新時(shí)間:2025-12-01
鋰電池隔膜孔隙度分析儀(水?dāng)D法aquapore)是屬于擠入式孔徑分析儀，使用介質(zhì)為水，藉由水無法潤(rùn)濕疏水材料之原理，將水于不同壓力擠入材料孔隙內(nèi)，用來測(cè)量材料中之非親水性的孔體積、孔徑分布及孔隙率
更新時(shí)間:2025-12-01
壓汞儀是使用非潤(rùn)濕液硬擠入技術(shù)完成量測(cè)工作，由于汞具有高表面張力(470 dyne/mm@20℃)，無法在常溫常壓下潤(rùn)濕材料孔洞，藉由已知公式 p= -(4γl/g cosθ)/d 可知壓力與孔徑之關(guān)系，并以施加汞壓力將汞硬擠入材料內(nèi)部孔，量測(cè)其汞擠入體積，而測(cè)得材料之孔徑。
更新時(shí)間:2025-12-01
中空纖維(中空絲)液液法孔徑分析儀此設(shè)備使用兩種不相溶的潤(rùn)濕液體，以達(dá)到量測(cè)目的。
更新時(shí)間:2025-12-01
氣液法法孔徑測(cè)定儀(cfp系列) 能精確測(cè)量出多孔性材料重要的微孔特性
更新時(shí)間:2025-12-01
pmi電池隔膜通孔孔徑分析儀能精確測(cè)量出多孔性材料重要的微孔特性，如狹窄的孔徑、最大的孔徑、孔徑分布、液體滲透率、氣體滲透率和外表面積。
更新時(shí)間:2025-12-01
使用液體蒸氣壓在毛細(xì)微孔凝聚原理做為檢測(cè)基礎(chǔ)，在定溫操作下改變凝聚壓力，經(jīng)由kelvin equation求得孔徑，進(jìn)而可以分析出小于1納米的孔徑，接著藉由不同凝聚壓力下進(jìn)行蒸氣滲透測(cè)試，可得其孔徑分布，所需測(cè)試壓力僅需15psi，適用于納濾膜材、隔離膜及各種納米級(jí)材料之檢測(cè)分析。
更新時(shí)間:2025-12-01
液液法孔徑分析儀此設(shè)備使用兩種不相溶的潤(rùn)濕液體，以達(dá)到量測(cè)目的。
更新時(shí)間:2025-12-01
多孔性材料通孔孔徑分析儀(pmi 氣孔計(jì), pmi孔隙儀, 氣液法孔隙儀, 多孔性材料孔徑分析儀)能精確測(cè)量出多孔性材料重要的微孔特性，如狹窄的孔徑、最大的孔徑、孔徑分布、液體滲透率、氣體滲透率和外表面積。
更新時(shí)間:2025-12-01
液體擠出式孔隙儀可量測(cè)多孔材料的穿透孔孔體積、孔體積分布、液體滲透率及多層材料之分層孔結(jié)構(gòu)分布，并且不需使用具毒性的汞作為濕潤(rùn)液體，可應(yīng)用于生化技術(shù)、制藥業(yè)、過濾材、食品工業(yè)及環(huán)境工程檢測(cè)，適用于r&d及qc檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-12-01
水?dāng)D式孔隙度分析儀是屬於液體擠入式孔徑分析儀，使用介質(zhì)為水，藉由水無法潤(rùn)濕疏水材料之原理，將水以不同壓力擠入材料孔隙內(nèi)，用來測(cè)量材料中之非親水性的孔體積、孔徑及孔隙率,屬于非破壞性測(cè)試，適用于r&d及qc檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-12-01
水?dāng)D式孔隙度分析儀是屬於液體擠入式孔徑分析儀，使用介質(zhì)為水，藉由水無法潤(rùn)濕疏水材料之原理，將水以不同壓力擠入材料孔隙內(nèi)，用來測(cè)量材料中之非親水性的孔體積、孔徑及孔隙率,屬于非破壞性測(cè)試，適用于r&d及qc檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-12-01
tg-2型土工布孔徑測(cè)定儀(濕篩)適用于所有類型土工布產(chǎn)品孔徑的測(cè)定，其性能符合gb/t17634-1998《土工布及其相關(guān)產(chǎn)品孔徑的測(cè)定—濕篩法》標(biāo)準(zhǔn)對(duì)儀器的要求。
更新時(shí)間:2025-12-01
tg-3型土工布孔徑測(cè)定儀干篩（控制車）適用于用干篩原理測(cè)定單層土工布及其有關(guān)產(chǎn)品特征孔徑的方法，本儀器適用于所有類型的土工布產(chǎn)品。【符合標(biāo)準(zhǔn)】：gb/t 14799，astm d4751，jtg e50-2006公路土工合成材料試驗(yàn)規(guī)程、 t1144，sl/t 235-2012等。
更新時(shí)間:2025-12-01
tg-3型土工布孔徑測(cè)定儀干篩（控制器）適用于用干篩原理測(cè)定單層土工布及其有關(guān)產(chǎn)品特征孔徑的方法，本儀器適用于所有類型的土工布產(chǎn)品。
更新時(shí)間:2025-12-01
autoporev大孔徑分析儀壓汞分析技術(shù)是基于在控制的壓力下將汞壓入孔結(jié)構(gòu)中的方法實(shí)現(xiàn)的。除快速、及分析范圍廣等優(yōu)點(diǎn)外，大孔孔徑分析儀還允許用戶計(jì)算得到眾多樣品特性，例如：孔徑分布、總孔體積、總孔比表面積、中值孔徑及樣品密度（堆積密度
更新時(shí)間:2025-12-01
autoporev藥品孔隙度分析儀 壓汞分析技術(shù)是基于在控制的壓力下將汞壓入孔結(jié)構(gòu)中的方法實(shí)現(xiàn)的。除快速、及分析范圍廣等優(yōu)點(diǎn)外，藥品孔隙度分析儀還允許用戶計(jì)算得到眾多樣品特性，例如：孔徑分布、總孔體積、總孔比表面積、中值孔
更新時(shí)間:2025-12-01
autoporev孔徑分析儀 壓汞分析技術(shù)是基于在控制的壓力下將汞壓入孔結(jié)構(gòu)中的方法實(shí)現(xiàn)的。除快速、及分析范圍廣等優(yōu)點(diǎn)外，孔徑分析儀還允許用戶計(jì)算得到眾多樣品特性，例如：孔徑分布、總孔體積、總孔比表面積、中值孔徑及樣品密度
更新時(shí)間:2025-12-01
波紋管內(nèi)徑測(cè)量?jī)x用于預(yù)應(yīng)力混凝土橋梁用波紋管環(huán)剛度試驗(yàn)內(nèi)徑測(cè)量，滿足交通部《jt/t529-2004預(yù)應(yīng)力混凝土橋梁用塑料波紋管》和《gb/t9647-2003熱塑性塑料管材環(huán)剛度的測(cè)定》的要求。
更新時(shí)間:2025-12-01
波紋管內(nèi)徑測(cè)量?jī)x用于預(yù)應(yīng)力混凝土橋梁用波紋管環(huán)剛度試驗(yàn)內(nèi)徑測(cè)量，滿足交通部《jt/t529-2004預(yù)應(yīng)力混凝土橋梁用塑料波紋管》和《gb/t9647-2003熱塑性塑料管材環(huán)剛度的測(cè)定》的要求。
更新時(shí)間:2025-12-01
最新產(chǎn)品
- 控制器MDX61B0075-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:57:20
- 模塊MDX61B0005-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:56:28
- 控制器MDX61B0370-503-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:55:39
- 控制器MDX61B0014-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:54:46
- 模塊MDX61B0040-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:53:56
- 控制器MDX61B1320-503-4-00工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:51:24
- 觸摸屏MDX61B0220-503-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:49:00
- 觸摸屏MDX61B0014-5A3-4-00工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:47:27
- 觸摸屏MDX61B0008-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:44:50
- 模塊MDX61B0022-5A3-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:44:09
- 觸摸屏MDX61B0750-503-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:43:25
- 觸摸屏MDX61B0014-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:42:32
- 觸摸屏MDX61B0750-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:41:41
- 觸摸屏MDX61B0075-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:39:19
- 控制器MDX61B0550-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:38:33
- 模塊MDX61B0450-503-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:37:40
- 控制器MDX61B0220-503-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:36:55
- 模塊MDX61B0011-5A3-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:35:10
- 觸摸屏MDX61B1320-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:34:28
- 模塊MDX61B0075-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:32:52
- 模塊MDX61B0220-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:32:03
- 觸摸屏MDX61B0450-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:31:13
- 模塊MDX61B0055-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:30:24
- 控制器MDX61B0300-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:29:36
- 控制器MDX61B0450-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:27:56
- 控制器MDX61B0015-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:27:03
- 控制器MDX61B0075-5A3-4-00工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:26:14
- 觸摸屏MDX61B0040-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:24:29
- 控制器MDX61B0040-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:22:46
- 觸摸屏MDX61B0110-5A3-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:22:03