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bc302流動(dòng)測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機(jī)器狀態(tài)檢測儀器，具有振動(dòng)測量和評(píng)價(jià)、軸承狀態(tài)檢測和評(píng)價(jià)功能。流動(dòng)測震儀振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，測量準(zhǔn)確測量速度≥1.5m/s,存 儲(chǔ)溫度-10℃~60℃, 用于振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時(shí)間:2025-12-01
揚(yáng)州捷通供水技術(shù)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實(shí)質(zhì)上是個(gè)精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進(jìn)的集成性上。
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jt－5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路，，在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實(shí)時(shí)漏水靈音，高靈敏主動(dòng)式傳感器，光電無觸點(diǎn)手柄開關(guān)，大容量鋰離子充電電池。
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jt－1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路，高保真高降噪信號(hào)顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機(jī)身。
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jt－sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜，手持即可檢測，可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏，包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時(shí)間:2025-12-01
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術(shù)、現(xiàn)代音頻信號(hào)處理技術(shù)、嵌入式微處理器技術(shù)、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術(shù)等當(dāng)先進(jìn)技術(shù)，其聽音效果清晰、適合復(fù)雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定，是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進(jìn)測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動(dòng)信號(hào)來準(zhǔn)確定位泄漏點(diǎn)的位置。
更新時(shí)間:2025-12-01
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀，主機(jī)體積只有150mm×70mm×116mm大小，重約870克，攜帶操作為輕巧簡便，整體設(shè)計(jì)采用全金屬外殼，堅(jiān)固耐用。
更新時(shí)間:2025-12-01
jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器，也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏，當(dāng)管道內(nèi)流體在壓力下逸出時(shí)，產(chǎn)生噪音能沿管道傳播，或沿埋層介質(zhì)傳播到地面，檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點(diǎn)位置。
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jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路，在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實(shí)時(shí)漏水錄音，高靈敏主動(dòng)式傳感器，光電無觸點(diǎn)手柄開關(guān)，大容量鋰離子充電電池。
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jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點(diǎn)是小巧便攜，手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當(dāng)某處破損泄漏時(shí)，壓力水油氣從管道破損處向處噴射，與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動(dòng)會(huì)引起噴注噪聲，這種聲音隨管道向兩側(cè)和埋設(shè)地面上方路面?zhèn)鞑ィ藭r(shí)用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號(hào)，通過主機(jī)進(jìn)行放大顯示，并有選擇的過濾噪音，獨(dú)立出泄漏聲波，使操作者找到泄漏源
更新時(shí)間:2025-12-01
jt-1a地下管道泄漏檢測儀，是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器，擁有超強(qiáng)的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力，輸出泄漏信號(hào)清晰靈敏，操作界面目了然，可以使您的工作更加輕松，它具有以下主要特點(diǎn)：微處理器數(shù)字經(jīng)線路，高保真高降噪信號(hào)顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機(jī)身。
更新時(shí)間:2025-12-01
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試
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出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時(shí)間:2025-12-01
mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-12-01
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個(gè)測量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測量每條通道的眼圖。
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mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
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硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題
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mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-12-01
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-12-01
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
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mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：
更新時(shí)間:2025-12-01
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-12-01
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
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解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-12-01
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-12-01
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-12-01
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-12-01
gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀： 主要技術(shù)指標(biāo)：*測量范圍：碳（c）0.001%~10.000%(可擴(kuò)至99.999%) 硫（s）0.0005%~0.5000%(可擴(kuò)至99.999%) *分析時(shí)間：25~60s可調(diào)，一般35s*分析誤差：碳優(yōu)于gb/223.69-1997標(biāo)準(zhǔn) 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標(biāo)準(zhǔn) *燃燒功率：小于2.5kva； *工作原理：電弧燃燒，紅外檢測
更新時(shí)間:2025-12-01
加工定制：是類型：指針式電阻測量儀表品牌：yaos堯順型號(hào)：dx200ghd測量范圍：10-5--105ω（mω）電 源：220±10%測試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺 寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180
更新時(shí)間:2025-12-01
陰極保護(hù)監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時(shí)設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-12-01
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-12-01
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時(shí)間:2025-12-01
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2025-12-01
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-12-01
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號(hào)，并開始接收 response。
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電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時(shí)間:2025-12-01
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試
更新時(shí)間:2025-12-01
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時(shí)間:2025-12-01
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 , emmc5 , 上電時(shí)序測試
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-12-01
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-12-01
emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-12-01
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- 模塊MDX61B0005-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:56:28
- 控制器MDX61B0370-503-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:55:39
- 控制器MDX61B0014-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:54:46
- 模塊MDX61B0040-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:53:56
- 控制器MDX61B1320-503-4-00工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:51:24
- 觸摸屏MDX61B0220-503-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:49:00
- 觸摸屏MDX61B0014-5A3-4-00工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:47:27
- 觸摸屏MDX61B0008-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:44:50
- 模塊MDX61B0022-5A3-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:44:09
- 觸摸屏MDX61B0750-503-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:43:25
- 觸摸屏MDX61B0014-5A3-4-0T工業(yè)設(shè)備 2025/12/1 17:42:32
- 觸摸屏MDX61B0750-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:41:41
- 觸摸屏MDX61B0075-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:39:19
- 控制器MDX61B0550-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:38:33
- 模塊MDX61B0450-503-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:37:40
- 控制器MDX61B0220-503-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:36:55
- 模塊MDX61B0011-5A3-4-0T自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:35:10
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- 模塊MDX61B0075-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:32:52
- 模塊MDX61B0220-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:32:03
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- 模塊MDX61B0055-5A3-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:30:24
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- 控制器MDX61B0450-503-4-00自動(dòng)化儀器 2025/12/1 17:27:56