離光譜熒光電子顯微鏡
單位的一個(gè)關(guān)鍵部件是偏移調(diào)整鏡頭系統(tǒng)，這是位于之間的半反射鏡和主雙色鏡，并的示意圖中概述。由于其定位，抵消鏡頭系統(tǒng)是共享的狹縫照明和線圖像形成的。偏移的系統(tǒng)運(yùn)行與電子反饋回路，光學(xué)顯微鏡控制顯微鏡軸向位置，從而使系統(tǒng)能夠創(chuàng)建獨(dú)立的標(biāo)本和玻璃 - 水界面焦平面轉(zhuǎn)向***狹縫圖像的焦點(diǎn)位置。試樣的平面圖像探測(cè)器或目鏡和狹縫圖像是通北京金相顯微鏡顯微鏡過兩個(gè)獨(dú)立的光學(xué)系統(tǒng)的線探測(cè)器。選擇是分離光譜的熒光基團(tuán)，體視顯微鏡顯微鏡價(jià)格上海顯微鏡是一個(gè)很好的機(jī)制以減少串?dāng)_。然而，體視顯微鏡在大多數(shù)情況下，增加光譜分離也減少了重疊積分這在實(shí)踐中通常被轉(zhuǎn)化為能力下降，檢測(cè)的FRET信號(hào)。
“sgyqzxj.com”
GE7電子顯微鏡GE7
“aigo”GE7-SW系列生物數(shù)碼顯微鏡是顯微鏡的一次革新，突破了顯微鏡功能的極限，開創(chuàng)了顯微技術(shù)的新紀(jì)元！通過對(duì)顯微鏡光路的設(shè)計(jì)的改進(jìn)，植入 CMOS 傳感器，通過USB2.0直接將數(shù)字信號(hào)傳輸?shù)诫娔X，通過顯示器真實(shí)的再現(xiàn)圖像。數(shù)碼技術(shù)在顯微鏡中的應(yīng)用，使顯微鏡的應(yīng)用更加廣泛。配套的圖像采集軟件、測(cè)量軟件操作簡(jiǎn)便、功能強(qiáng)大，并提供SDK開發(fā)包。
GE7-SW系列生物數(shù)碼顯微鏡技術(shù)規(guī)格技術(shù)規(guī)格 | GE7-SW1301/3001 | GE7-SW1302/3002 | |
電子目鏡 | 30 度鉸鏈?zhǔn)饺款^ 130 萬(wàn)像素 CMOS 數(shù)碼單目頭/300 萬(wàn)像素 CMOS 數(shù)碼單目頭 | 30 度鉸鏈?zhǔn)饺款^ 130 萬(wàn)像素 CMOS 數(shù)碼單目頭/300 萬(wàn)像素 CMOS 數(shù)碼單目頭 | |
光瞳間距 | 55mm -75mm | ||
目鏡 | WF10X/ 18mm | ||
物鏡 | 消色差物鏡 : 4X,10X,40X(S),100X(S)Oil | 無限遠(yuǎn)物鏡 : 4X 10X 40X (S) 100X (S)Oil | |
平臺(tái) | 雙層移動(dòng)平臺(tái) | ||
平臺(tái)尺寸：125mm×130mm | 平臺(tái)尺寸：180mm×150mm | ||
移動(dòng)范圍：75mm×50mm | |||
聚光鏡 | N. A.1.25 阿貝聚光鏡帶可變光欄和濾色片 | ||
調(diào)焦 | 粗、微動(dòng)同軸調(diào)焦，采用齒輪齒條傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，微動(dòng)格值 0.002mm | ||
集光鏡 | 高亮度固定式照明 | 高亮度柯勒照明 | |
光源 | 鹵素?zé)?6V/20W.AC 85V-230V | 鹵素?zé)?12V/20W.AC 85V-230V | |
亮度可調(diào)節(jié) | |||
圖像采集軟件 | 預(yù)覽、拍照、錄像 | ||
測(cè)量軟件（選配） | 只支持130萬(wàn)標(biāo)準(zhǔn)配置，長(zhǎng)度、圓徑、角度、面積等測(cè)量 | ||
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SSX-550型掃描電子顯微鏡
電子顯微鏡SEM掃描電鏡選擇價(jià)格
日本Hitachi在電子顯微鏡領(lǐng)域一向以引領(lǐng)技術(shù)潮流著稱：1972年發(fā)布全球第一臺(tái)場(chǎng)透射電子微鏡，經(jīng)過30多年的發(fā)展，日立開發(fā)、應(yīng)用了大量的新技術(shù)，例如電子槍多重偏壓、浸沒式(In-lens)、半浸沒式(Semi In-lens)物鏡、E x B式探測(cè)器，電子減速功能等等。推出了一系列性能優(yōu)異、應(yīng)用廣泛的新型號(hào)電鏡，受到了用戶的一致好評(píng)。Hitachi公司除在日本有自己的研法制造中心外，在北美和歐洲也擁有研究開發(fā)中心，在全球六十多個(gè)國(guó)家經(jīng)營(yíng)銷售、技術(shù)支持和提供維修服務(wù)。 Hitachi公司將納米尺度呈獻(xiàn)給研究人員和生產(chǎn)廠商。 在成功推出S-3000系列后，推出新型S-3400N型鎢燈絲SEM，它集成了Hitachi多年開發(fā)的新技術(shù)，例如新型電子槍、大錐角物鏡、5分割半導(dǎo)體式背散射探頭、物鏡光闌自動(dòng)合軸等等，極大地提高設(shè)備的性能和應(yīng)用擴(kuò)展能力、使操作和維護(hù)更加簡(jiǎn)易。 S-4800屬于場(chǎng)發(fā)射SEM，它集成S-4700和S-5200型的優(yōu)點(diǎn)，采用新型E x B式探測(cè)器和電子束減速功能提高了圖像質(zhì)量，特別是低電壓的圖像分辨率；新型的透鏡系統(tǒng)，提供了高分辨模式、高束流模式、大工作距離模式、磁性樣品模式等多種工作模式。 作為掃描電鏡配套的能譜分析儀器，我們供應(yīng)日本Horiba公司或美國(guó)EDAX公司的產(chǎn)品。 S-4800場(chǎng)發(fā)射SEM系統(tǒng)： 1. 分辨率：二次電子（SE）成像：高真空模式：1.0 nm (15KV)、1.4~2.0 nm (1KV)2. 放大倍率：低倍模式20 ～2,000倍；高倍模式100 ～800,800倍 3. 電子槍：冷陰極場(chǎng)發(fā)射電子源，束流1pA–2nA；加速電壓：0.5～30 kV；3級(jí)電磁透射會(huì)聚系統(tǒng) 4. 樣品室可容納樣品左右直徑200 mm，同心樣品臺(tái)，四軸自動(dòng)，可安裝EDS、冷卻臺(tái)附件 5. 移動(dòng)最大范圍：X = 110 mm /Y = 110 mm /Z =1.5~40.0mm /R=360°；傾斜T：范圍不小于-5°～70°(手動(dòng)) 6. 探測(cè)器：二次電子檢測(cè)器、固體背散射電子檢測(cè)器；樣品室 IR-CCD 相機(jī) 7. 圖像掃描：不低于5120×3840像素；圖像顯示1280×960像素
Tergeo EM美國(guó)Tergeo EM等離子清潔儀用于電子顯微鏡
參數(shù)規(guī)格為去除SEM & TEM樣品的碳?xì)湮廴径O(shè)計(jì)。特有的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴(yán)重污染的電子光學(xué)孔徑光闌到各種脆弱易損樣品，如石墨烯、碳納米管、類金剛石碳膜以及多孔碳支持膜銅網(wǎng)上的TEM樣品。石英樣品托板上的孔洞可以安裝標(biāo)準(zhǔn)SEM樣品托。特別設(shè)計(jì)的適配器可以清潔不同廠家的TEM樣品桿。可用于煤的灰化。
特點(diǎn)：
1. 系統(tǒng)具有雙等離子源。浸入式等離子源用于主動(dòng)表面處理、光刻膠蝕刻。遠(yuǎn)程式等離子源用于溫和的污染清除以及脆弱易損樣品的表面活化
2. 13.56MHz高頻射頻發(fā)生器
3. 7英寸觸摸屏控制界面，全自動(dòng)操作
4. 標(biāo)配75W版本，可選150W版本
5. 標(biāo)配2路氣體輸入，可選第三路氣體輸入
6. 可選與FEI、JEOL、HITACHI等TEM樣品桿配套的用適配器
7. AC輸入：通用(110~230V, 50/60Hz)
參數(shù)規(guī)格為去除SEM & TEM樣品的碳?xì)湮廴径O(shè)計(jì)。特有的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴(yán)重污染的電子光學(xué)孔徑光闌到各種脆弱易損樣品，如石墨烯、碳納米管、類金剛石碳膜以及多孔碳支持膜銅網(wǎng)上的TEM樣品。石英樣品托板上的孔洞可以安裝標(biāo)準(zhǔn)SEM樣品托。特別設(shè)計(jì)的適配器可以清潔不同廠家的TEM樣品桿。
特點(diǎn)：
1. 系統(tǒng)具有雙等離子源。浸入式等離子源用于主動(dòng)表面處理、光刻膠蝕刻。遠(yuǎn)程式等離子源用于溫和的污染清除以及脆弱易損樣品的表面活化
2. 13.56MHz高頻射頻發(fā)生器
3. 7英寸觸摸屏控制界面，全自動(dòng)操作
4. 標(biāo)配75W版本，可選150W版本
5. 標(biāo)配2路氣體輸入，可選第三路氣體輸入
6. 可選與FEI、JEOL、HITACHI等TEM樣品桿配套的用適配器
7. AC輸入：通用(110~230V, 50/60Hz)
臺(tái)式掃描電子顯微鏡
IDEA SCIENCE愛迪賽恩公司為您提供的解決方案
Evex憑借NanoAnalysis系統(tǒng)－－－－完整的電子顯微鏡方案－－－－引領(lǐng)顯微鏡的新時(shí)代。Evex NanoAnalysis系統(tǒng)由Evex Mini-SEM，Evex Mini-SEM，EvexQDD的探測(cè)器技術(shù)和Evex NanoAnalysis軟件組成。Mini-SEM是具有高清度，高放大率，高性能的臺(tái)式掃描電子顯微鏡。Mini-SEM結(jié)合了傳統(tǒng)SEM的性能，但在大小，價(jià)格和易操作方面超越了臺(tái)式顯微鏡。運(yùn)用能量分散光譜（EDS/EDX）技術(shù)時(shí)，添加EvexQDD，無液氮高速X射線探測(cè)器和Evex X射線NanoAnalysis軟件（光譜采集模式，圖像采集模式和元素繪圖模式）到其中，可在幾秒內(nèi)分析樣品的元素成分和描繪元素相關(guān)位置。
Evex將該系統(tǒng)設(shè)計(jì)成實(shí)用，易操作且購(gòu)買得起的。幾秒鐘內(nèi)從10X到30000X （120000X數(shù)字變焦）變焦。自動(dòng)聚焦，亮度和對(duì)比度自動(dòng)調(diào)整讓每張圖片都很。
Mini-SEM可用于醫(yī)療保健，儀器科學(xué)，法醫(yī)學(xué)，生命科學(xué)，材料科學(xué)，軍隊(duì)或教育領(lǐng)域。無論何種應(yīng)用，Mini-SEM都是的工具。
Evex NanoAnalysis系統(tǒng)是確認(rèn)一個(gè)樣品的元素成分的最有力的分析工具。將樣品插入測(cè)試室內(nèi)，幾秒內(nèi)就出現(xiàn)圖像。事先瀏覽整個(gè)圖像視野或在某一個(gè)特征上放大。點(diǎn)擊圖像中的一點(diǎn)，收集光譜開始。幾秒內(nèi)通過元素成分確認(rèn)物質(zhì)。接下來，激活任一繪圖功能來確定元素的空間位置，通過使用任何以下繪圖模式來完成：點(diǎn)式，多點(diǎn)式，線掃描，區(qū)域繪圖，變焦繪圖，索引繪圖和痕量感光分析（T.S.A）的索引繪圖。
Evex NanoAnalysis系統(tǒng)的繪圖功能包括索引繪圖（用于圖像的每個(gè)像素的一段光譜）和T.S.A（痕量感光分析），后者能測(cè)定整個(gè)樣品中極微量的物質(zhì)濃度。索引繪圖的最大優(yōu)勢(shì)是它能保存整個(gè)實(shí)驗(yàn)，因此你可以在任何工作地點(diǎn)的任何時(shí)候檢索原始數(shù)據(jù)。
Evex Mini-SEM技術(shù)參數(shù) 放大率： 30,000X（數(shù)字變焦4 -120,000X）加速功率： 1kv – 30kv探測(cè)器： SEI（標(biāo)準(zhǔn)），BEI/EDS（可選）圖像大小： 4096×4096圖像格式： JPG，TIFF，BMP，PNG數(shù)據(jù)顯示： Micron Bar, Magnificaiton, Date, Kv電壓： 110v或220v
無液氮高速X射線探測(cè)器
探測(cè)器窗口 SUTW UTW Be 檢測(cè)限 Be4/B5 C6 Na11 精度 128FWHM @ 5.9kev MN-Ka 1000cps 傳感器尺寸 10mm, 20mm, 30mm 冷卻 Peltier
A – Evex Mini-SEM （掃描電子顯微鏡）B – 電源開頭 & 樣品交換按鈕C – 真空標(biāo)準(zhǔn)Vacuum Level -D – 樣品交換Sample Exchange -- 樣品室大小 - 4x4x4- 樣品大小- 2x2x2- 樣品位置 （X,Y,R）E – 高速無液氮X射線探測(cè)器- 檢測(cè)元素范圍：4 - 92 $$$$ （Be - U） （SSUTW）- 檢測(cè)元素范圍：5 - 92 $$$ （B - U） （SUTW）- 檢測(cè)元素范圍：6 - 92 $$ （C - U） （UTW）- 檢測(cè)元素范圍：11 - 92 $ （Na - U） （TW）F - NanoAnalysis – 軟件G – 光譜采集組件 – 元素組成成分H – 圖像收集組件 – 圖像I – 射線探測(cè)器電源J – 元素繪圖
汾陽(yáng)數(shù)字式電子顯微鏡相機(jī) 掃描電子顯微鏡價(jià)格不二之選
產(chǎn)品描述●規(guī)格: 放大倍數(shù) : 7x~108x, 變焦范圍 : 光學(xué)變焦：7x~27x；數(shù)字變焦：4x●產(chǎn)品特征：·300000像素CMOS·內(nèi)存：2MB數(shù)據(jù)內(nèi)存，存儲(chǔ)能力60張圖片·5種圖像效果模式：正常，灰色，反轉(zhuǎn)，浮雕和雙窗口視圖·雙窗口視圖在原始圖像旁同時(shí)顯示放大圖像·通過USB接口和隨機(jī)提供的軟件在電腦屏幕上實(shí)時(shí)顯示圖像·隨機(jī)提供顯微鏡支架，不用手持就可以查看·標(biāo)準(zhǔn)附件：支架，三塊AAA鎳氫充電電池，100到240VAC(50/60Hz)適配器/充電器，與Windows兼容的電腦軟件,微型USD電纜，清潔布，腕帶·外形尺寸：120mm×56mm×25mm·重量：70g產(chǎn)品圖片
TM-1000日本日立透射掃描電子顯微鏡湖南總代理
產(chǎn)品介紹：
這是一臺(tái)可以放在身邊的，簡(jiǎn)單易用電子顯微鏡。可以獲得倍率較高、景深大的圖像。通過簡(jiǎn)單的操作，即可達(dá)到觀察微觀世界的目的。利用背散射電子觀察圖像，不僅僅可以觀察形貌像，也可以觀察樣品的組成像。
特點(diǎn):
1. 臺(tái)式設(shè)計(jì)，可快速測(cè)試樣品。
2. 像使用數(shù)碼相機(jī)一樣，操作簡(jiǎn)單。
3. 可以對(duì)不導(dǎo)電樣品進(jìn)行無噴涂觀察。
4. 性能介于光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)掃描電鏡之間
放大倍率：20-10，000（×2，×4）
加速電壓：15KV
樣品移動(dòng)范圍：X，Y：15mm
最大樣品厚度：20mm
檢測(cè)器：高靈敏度半導(dǎo)體背散射電子檢測(cè)器
自動(dòng)圖象調(diào)整功能，BMP格式1280＊960，640＊480像素
數(shù)據(jù)顯示微標(biāo)尺，微米值，日期時(shí)間，輸入注釋等
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