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膜厚儀

分析0.1-50微米的單層或多層膜厚可分析CVD、PVD等離子濺射鍍膜等樣品采用球形磨損測試方法可伸縮的測量臂用于大樣品測試采用磁力樣品固定裝置符合VDI 3198方法

XRF-2000韓國Micro Pioneer金屬鍍層測厚儀,膜厚儀

韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業的.可測量各類金屬層、合金層厚度.

可測元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細對焦

高壓：0-50KV(程控)

準直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便的控制品質.

我們的經營理念是:

1．我們以公平的價格提供質量的儀器。

2．對顧客提供的服務和極好的最適合的設備。

3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來的事務。

4．我們的目標和戰略是與企業建立并且連續性的合作伙伴。

ETA-083F/NF/2膜厚儀

主要技術參數

型號 ETA-083F/NF/2

工作原理電磁感應/電渦流

測量范圍 0~1250um

測量精度 ±（3%H±1.5）

顯示精度 0~99.9um：0.1um/100um以上：1um

最小基體 10*10 mm

最小曲率凸5mm；凹25mm

最薄基體 0.5mm

環境溫度 0℃~40℃

相對濕度不超過85%

電源 5號電池2節

機身尺寸 91*55*23mm

自動關機

附件：標準片 5片

基體 2塊（ETA-0832 2塊基體）電池2塊清潔布1塊說明書1份保修卡1張

該公司產品分類：電子天平無鉛數顯焊錫爐洛氏硬度計白度計透光率儀，光電霧度計熱變形維卡軟化點測試儀 Q-LAB紫外光耐氣候試驗機標準光源箱涂層/鍍層測厚儀光澤度計色差儀塑料水份儀影像量測儀二次元破裂強度試驗機跌落試驗機包裝壓縮試驗機鹽霧試驗機/鹽水噴霧試驗機精密烘/箱干燥箱恒溫恒濕試驗機高溫灰化爐/馬弗爐/電阻爐

一體磁性金屬涂層測厚儀/鍍層測厚儀/膜厚儀GT810F

GT810F是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術參數完全符合國家標準。

本儀器是磁性便攜式一體磁性金屬涂層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業必備的儀器。Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。功能：

采用了磁感應測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；操作過程有蜂鳴聲提示；

電池電壓指示：低電壓提示

自動關機測量方法：F 磁感應

技術參數：測量范圍：0~1250um （其他量程可定制）

分辨率：0.1/1

最小曲率半徑: 凸 5mm/ 凹 5mm

最小測量面積：10X10mm

最薄基底：0.4mm

使用環境：溫度：0-40℃ 濕度：10-85%RH

準確度：±（1.5~3%h）或±2um

公制/英制：可轉換

機身尺寸：102mmx66mmx24mm

電源：2節5號電池

重量：99g（含電池）

附件：

標準片4片： 50um 、100um、 250um 、500um（選配：12um、25um）

該公司產品分類：真空度計日本理音日本小野欣銳儀器德國Novi 德國百瑞高臺灣泰仕TES 德國德圖testo 美國雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港希瑪SMART 德國QBL 意大利哈納HANNA 美國聯合系統美國ESC 美國斯德克韓國卡利安株式會社德國喜利得HILTI

XRF-2000韓國Micro Pioneer金屬鍍層測厚儀,膜厚儀

可測元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測量厚度范圍：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細對焦

高壓：0-50KV(程控)

準直器：

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便的控制品質.

我們的經營理念是:

1．我們以公平的價格提供質量的儀器。

2．對顧客提供的服務和極好的最適合的設備。

3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來的事務。

4．我們的目標和戰略是與企業建立并且連續性的合作伙伴。

DCF-900測可賴膜厚儀900系列

測可賴Check-line測厚儀900系列：

概　　述：　　測可賴 Check.line 涂層、鍍層測厚儀可精確快速測量所有金屬底材的涂層、鍍層的厚度。其吸收了的科技為相關的領域提供了一致、高精度的測量結果。

經濟型900系列：　　為快速測定金屬底材上的涂層、鍍層的經濟型測厚儀。900系列分DCF-900（鐵基）和DCN-900（非鐵基）二種型號。

主要特點：　　＊持久、不漂移的校正結果；設定的校正結果可延續很長時間，不受工件的改變而影響測定結果。　　＊的測量結果：具有高度的一致性和重復性。　　＊公英制單位轉換。　　＊可應付薄的底材：最薄的底材可達127μm。　　＊操作不受外磁場的干擾。　　＊測定軟涂層時，連續的讀數可彌補因探頭陷入涂層所產生的誤差。　　＊分辨率為1μm。當數值為小數點的后一位數時，儀器會自動取最接近的整數。　　＊標準板符合NIST標準。　　探頭的技術參數：探頭的直徑Φ10mm。樣板最小直徑Φ17.8mm（0.7”）量程：0-999μm精度：±1μm （0-250μm）；±1% （250-999μm）分辨率：1μm 最薄基材（鐵）： 375μm 最薄基材（非鐵）： 127μm 樣板溫度：-10~60℃ 環境溫度： 0~50℃ 電池： 9伏堿性電池電池壽命：半年（90秒自動關機，每天平均取數80個）接口：無外型尺寸： 145×79×38mm重量： 250g保修期：一年

CMI100測厚儀/膜厚儀/涂層測厚

牛津CMI100測厚儀

深圳：0755-27195123 手機：13902929627

關鍵字：測厚儀，膜厚儀，涂層厚度，CMI 233測厚儀，電鍍測厚，CMI150測厚儀,X射線熒光測厚儀

產品系列：· CMI120磁性測厚儀(膜厚儀) · CMI140渦流測厚儀 (膜厚儀) · CMI150兩用測厚儀 (膜厚儀) · CMI233雙探頭測厚儀(膜厚儀) · CMI243測厚儀(測鐵上鍍鋅、鎳可達到700測厚儀精度) · CMI700測厚儀(膜厚儀) · X射線熒光測厚儀(膜厚儀)

適合范圍:

CMI 120所有的非磁性涂鍍層，例如鋅、鉻、鎘、錫、銅、聚四氟乙烯、環氧樹脂、油漆、粉末涂料和亞鐵基底的搪瓷上的琺瑯。 CMI 140

所有的非導電性涂鍍層，例如陽極電鍍、油漆、琺瑯/瓷釉、粉末涂料或在非亞鐵基底上的環氧化物例如銅、黃銅或鋁。

品牌：OXFORD CMI(英國牛津)

簡介：

□性價比優勢：同類進口產品中具有的價格性能比

□服務優勢：具有最多的服務網點和強大的技術支持

□探頭：配備有世界上秀的檢測探頭

□測量精度：1%或±0.1μm，分辨率：0.01mils(0.25μm)

□測量范圍：磁感應0-120mils(0-3.05mm)；渦流0-40mils(0-1.02mm)

用途：廣泛應用于噴涂電鍍等表層厚度及各種薄膜厚度的測量產品介紹訂購編號：20701 CMI120 / 20702 CMI140

●應用范圍：廣泛應用于所有非磁性涂鍍層和所有非導電性涂鍍層的厚度測定

●測量方法：磁感應或渦流式(CMI 120或CMI 140)

●測量精度：1%或±0.1μm

●測量范圍：磁感應0-120mils(0-3.05mm)；渦流0-40mils(0-1.02mm)

●分辨率：在10mils(254μm)以下，分辨率為0.01mils(0.25μm)；在10mils(254μm)及以上，分辨率為0.1mils(2.5μm)

●適用標準：磁感應式遵守ASTM B499&B530,DIN 50981,ISO 2178 AND BS 5411 part 9&11；渦流式遵守ASTM B244 & B529,DIN 50984,ISO 2360 AND BS 5411 part3

●尺寸及重量：12.7X3.8X2.54 CM；重量：65克（不含電池）

●單位：英制和公制，可轉換

●統計數據顯示：讀取次數，平均值，標準差，值，值，最終值

●接口：紅外線接口，可傳送至打印機（打印機為選配件，推薦使用HP82204B）

●顯示：背光液晶顯示屏

●品牌及產地：英國牛津品牌，美國制造涂層測厚儀/涂鍍層測厚儀是本公司主打銷售產品之一，我們是牛津測厚儀中國一級代理，專業提供涂層測厚儀品牌、涂層測厚儀行情、涂層測厚儀參數、涂層測厚儀應用、涂層測厚儀維修、涂層測厚儀保養、涂層測厚儀報價、涂層測厚儀售后服務等涂層測厚儀各種問題 ========================================天友利標準光源有限公司國際網站:http://www.tayole.com在線銷售:http://www.toyok.cn深圳：0755-27195123 手機：13902929627上海：021-64601150 北京：010-69291666蘇州：0512-82155192 杭州：0571-86726516

數顯膜厚儀

數顯膜厚儀技術參數：

執行標準：GB/T1764-79 　　　　 GB/T134522-92 　　　　 ISO2808-74 測量范圍：0-200μm 測量精度：+/-（0.7μm+3％H）＊H為標準厚度

數顯膜厚儀詳細介紹：

用途：測定鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度試驗技術特征：專用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度測定;機內備有充電電池便于涂裝施工現場應用

7500膜厚儀

QuaNix技術參數
型號	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基體	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探頭形式	一體				一體、分體	無線分體
顯示	LCD數字顯示
測量范圍	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm 0－5000μm	0－5000μm
測量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
顯示精度	1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作溫度	－10 －＋60℃
溫度補償	0－50℃
存儲	－			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900個測量值，999個數據組
數據傳輸	－			RS232打印、電腦
統計功能	－			平均值、最大值、最小值、標準偏差
超限報警	－					上下限
最小基體	10mm×10mm
最小曲率	凸、凹半徑：3mm/25mm		凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
最薄基體	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
電源	5號電池2節		9V堿性電池1節			5號電池2節
重量	110g		130g		150g	130g
尺寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm

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膜厚儀

XRF-2000韓國Micro Pioneer金屬鍍層測厚儀,膜厚儀

ETA-083F/NF/2膜厚儀

一體磁性金屬涂層測厚儀/鍍層測厚儀/膜厚儀GT810F

XRF-2000韓國Micro Pioneer金屬鍍層測厚儀,膜厚儀

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DCF-900測可賴膜厚儀900系列

CMI100測厚儀/膜厚儀/涂層測厚

數顯膜厚儀

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