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SJ-301　表面粗度儀178系列SJ-301

三豐編號	規格
178-954A	X軸12.5mm Z軸±150m
標準配件：178-390 檢出器 12AAA686 連接線 178-602 標準片 12AAA688 電池 12AAA216 支持架 357651 Ac變壓器 12AAA217 平面滑橈 270732 記錄線 12AAA218 圓面滑橈

三豐編號	規格
178-033	V型
178-034	滑動
178-035	內徑
178-245A	SJ-201
178-246A	SJ-301
12AAA210	檢出器用延長桿
12AAA303	檢出器用延長線
12AAA841	記憶卡
12AAA876	高耐久記錄紙
264-504A	DP-1VR處理機
936937	1M	信號線
965014	2M

SJ201表面粗度儀SJ201

表面粗度儀SJ201

表面粗度儀SJ301

型號

SJ-201

SJ-301

貨號:	100VAC120VAC230VAC240VAC

178-950K/178-948K＊

178-953K/178-952K＊

178-950A/178-948A＊

178-953A/178-952A＊

178-950D/178-948D＊

178-953D/178-952D＊

178-950E/178-948E＊

178-953E/178-952E＊

平移范圍

12.5MM

測量范圍

300um(±150um)

驅動／檢測元件

探測儀:178-390/178-395＊

測頭:金剛石(測頭半徑:5um/2um＊)

測量力:4mN/0.75mN＊

探測方式:徽感應

評定輪廓

P,R

P,R,DIN4776 profile,Motif

估計參數

Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,R3Z,mr

Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,S,Pc,R3z,mr,δc,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,Lo,R,AR,Rx, A1,A2

取樣長度

0.25,0.8,2.5mm

0.25,0.8,2.5,8mm

顯示

LCD

LCD觸式面板

打印機

——

熱敏線型

放大倍數

——

自動

數據輸出

通過接口輸出

自動

電源

通過適配器／電池可充電

SV-3100S4日本三豐SV-3100S4表面粗度儀

測定範圍: X軸: 100mm
Z軸:800µm.80µm.8µm
真直度:0.5µm/100mm 解析度: X軸: 0.1µm, 0.01µm/800µm Z 軸: 0.001µm/80µm,0.0001µm/8µm
測定力:0.75mN
測針:觸針(鑽石): 圓錐90 尖端曲率半徑: 5µm skid(超硬) 曲率半徑: 40mm
測定速度:驅動速度: 0.02~2 mm/s(7階段) 後退速度:5mm/s 定位速度: 0.1~2 mm/s(搖桿操作時)手動
驅動部移動範圍: Z軸300mm
數值輸出:RS-232C
使用溫度範圍: 15~25℃
電源: AC100~240V
SURFPAK軟體

技術參數X 軸　測量范圍: 100mm 或 200mm　分辨率: 0.05µm　檢測方法: 線性編碼器　驅動速度: 0 - 80mm/s　測量速度: 0.02 - 5mm/s　移動方向: 向后　直線度: （0.05+1L/1000）µm*（0.5µm/200mm: 測量范圍為200mm的型號）　傾角范圍: ±45ºZ2 軸（立柱）　垂直移動: 300mm 或 500mm、動力驅動　分辨率: 1µm　檢測方法: ABSOLUTE 線性編碼器　驅動速度: 0 - 20mm/s檢測器　范圍／分辨率: 800µm / 0.01µm, 80µm / 0.001µm,8µm / 0.0001µm （使用測頭選件時，最大可達2400µm）　檢測方法: 無軌／有軌測量　測力: 4mN 或 0.75mN （低測力型）　測針針尖: 金剛石、90º / 5µmR（60º / 2µmR: 低測力型）　導頭曲率半徑: 40mm　檢測方法: 差動電感式基座尺寸（W x H）: 600 x 450mm 或 1000 x 450mm基座材料: 花崗巖尺寸（W x D x H）: 756 x 482 x 966mm （S4 型）756 x 482 x 1166mm （H4 型）1156 x 482 x 1176mm （W4 型）766 x 482 x 966mm （S8 型）766 x 482 x 1166mm （H8 型）1166 x 482 x 1176mm （W8 型）重量 140kg （S4, S8 型）150kg （H4, H8 型）220kg （W4, W8 型）*L 為驅動長度（mm）評估能力: SURFPAK-SV評估輪廓　P （主輪廓）, R （表面粗糙度輪廓）, WC, WCA, WE, WEA, 　　　DIN4776 輪廓、包絡殘余線、粗糙度 motif、波形 motif評估參數　Ra, Rq, Rz, Ry, Rz（JIS）, Ry（DIN）, Rc, Rp, Rpmax, Rpi, Rv, Rvmax, Rvi,　Rt, Rti, R3z, R3zi, R3y, S, Pc （Ppi）, Sm, HSC, mr, δc, plateau ratio,　mrd, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Δa, Δq, λa, λq, Sk, Ku, Lo, Lr, A1,　A2　粗糙度 motif 參數: Rx, R, AR, SR, SAR, NR, NCRX, CPM　波形 motif 參數: Wte, Wx, W, AW SW, SAW, NW分析圖表　ADC, BAC1, BAC2、功率譜圖、自相關圖、Walsh 功率譜圖、Walsh 自相關圖、傾斜分布圖、局部峰值分布圖、參數分布圖濾波類型 2CR-75%, 2CR-50%, 2CR-75% （相位校正）,　2CR-50% （相位校正）, 高斯-50%截止波長*　λc: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm　fl: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm　fh: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm取樣長度（L）*　0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm取樣長度　傾斜補償、R 平面（曲面）補償、橢圓補償、拋物線補償、　雙曲線補償、二次曲線自動補償、多項式補償、　多項式自動補償* 可在0.025mm 至最大移動長度間指定任意長度。

該公司產品分類：形狀類光學儀器

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