X-Strata980（X熒光鍍層測厚及痕量元素分析儀）
產品簡介：
X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積
的檢測需求。這款儀器的電制冷固態探測器確保的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，
能更容易地識別、量化和區分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環保要求，
幫助企業降低高昂的產品召回成本和法令執行成本。您可以針對您的應用選擇最合適的分析模型：經驗系
數法、基本參數法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區域進行快速篩選性檢測。一旦識別
出問題區域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規則的樣品，大艙
門使樣品更易放入。
應用:
－－RoHS/WEEE
－－有害元素痕量分析
－－焊料合金成分分析和鍍層厚度測量
－－電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量
－－五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量
－－貴金屬合金分析和牌號鑒定
產品特點:
－－100瓦X射線管
－－25mm2PIN 探測器
－－多準直器配置
－－掃描分析及元素分布成像功能
－－靈活運用多種分析模型
－－清晰顯示樣品合格/不合格
－－超大樣品艙
－－同時分析元素含量和鍍層厚度
技術參數:
－－元素范圍:S（16） to U（92）
－－可測鍍層層數:5 層 （4 層+ 底材）,可同時分析25種元素成份
－－X射線管功率:100W （50kV ａnd 2mA）微焦點鎢靶X射線管
－－探測器:25mm2 PIN 電制冷固態探測器
－－濾波器/準直器:最多可包含5個初級濾波器和4個準直器規格 （0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm Ø）
－－數字脈沖處理器:4096多道數據分析功能;自動數據處理,包括死時間修正
－－電腦/顯示器/系統軟件
Celeron, 1.86 GHz, 40 GbHD, 512Mb RAM, 相同或更高配置
15”LCD, 1024 x 768
MicrosoftTM XP SP2
－－攝像系統:1/2” CMOS-640x480 VGA resolution
－－電源:85~130V or 215~265 V, 頻率47Hz to 63Hz
－－工作環境: 10－40℃、相對濕度小于98%，無冷凝水
－－XYZ軸行程: 203 x 152 x 216 mm （8 x 6 x 8.5”）
－－最大樣品尺寸
305 x 390 mm （12 x 15.4”），樣品高度為 50mm （2”）
305 x 352 mm （12 x 13.9”），樣品高度為 203mm （8”）
－－艙室尺寸: （W x D x H）:584 x 508 x 220mm （23 x 20 x 8.7”）
－－外型尺寸
高765mm （30.1”）
寬 700mm （27.5”）, 840mm （5.5”） with one mouse pad extended
深790mm （31.1”）, 990 mm （39”） with keyboard tray extended
－－重量: 135 kg