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TP-BS系列有色金屬分析儀器

主要技術參數：

1、測量范圍：（以C、S、Mn、P、Si、Cr、Ni等常見元素為例）C：0.010～6.000% S：0.0030～2.000%Mn：0.010～20.500%P：0.0005～1.0000%Si：0.010～18.000% Cr：0.010～38.000%Ni：0.010～48.000%Mo：0.010～7.00%ΣRE：0.0100～0.500%Mg：0.0100～0.800%Cu：0.010～85.000%Ti：0.010～5.000%如改變測試條件，該范圍可相應擴大。

2、測量精度：符合GB223.3～5-1988、GB223.68～69-1997等標準。

3、主要特點：微機控制、自動化程度高。元素含量數顯直讀。內置比色杯，減少污染。采用的冷光源技術，使儀器更穩定

該公司產品分類：元素分析儀碳硫分析儀器

EX2600MROHS 有害金屬分析儀/ex2600m/ROHS有害物質分析儀

美國JORDAN VALLEY公司RoHS Analyzer熒光光譜儀

美國Jordan Valley 擁有超過30年向全世界眾多客戶提供用于元素含量分析的能量分散型X射線熒光分析

系統 (EDXRF)的豐富經驗。該公司所制造的儀器能夠提供迅速的、無損傷、多元素的成分確定，檢

測精度可達ppm級。激發類型:直接激發采用光學設計,增大激發效率.如激發RoHS指令限制Cd元素時,激發電壓50Kv即可,而偏振光則需要激

發電壓為300Kv,后者價格大約為9萬美金左右檢測器類型:新一代Si PIN檢測器檢測器采用電制冷,使用方便,整機需220v 50HZ電源即可使用.穩定時間只需20分鐘.而.Si(Li)檢測器需

液氮冷卻,操作不方便,有凍傷危險,并每月需要購買液氮,一般在300元左右. Si PIN檢測器與.Si(Li)檢

測器分辨率(分離相鄰譜線的能力)分別為:150ev 140ev,因為RoHS指令中的元素都不是相鄰元素,所以無

任何意義.最大激發電壓:50Kv 4mA最大激發功率：50W能量之調整通常由電壓及電流來決定的,電壓增加將使陰、陽極電場加大，使電子速加大，亦即穿透能力

加大，電流增加將使陰極燈絲產生之電子數目增加，目前全球只有美國JORDAN VALLEY公司能把電流做到

4mA，而其他公司最多只做到2mA而已，如對與Br、Cr元素的測試，激發電流2mA時，檢測限為5ppm，當激

發電流4mA時，檢測限可以做到2ppm。此外，由電壓、電流之能量組合，使激發能量更適合欲分析元素，

而較強能量可增加可測元素范圍。元素分析范圍：Na—U電腦：綜合的數據處理系統標配件：試樣觀測系統彩色CCD監視器抗震實驗：可在機動車上安裝及操作客戶支持及維修服務：在安裝期間由JORDAN VALLEY專家進行詳盡的培訓，香港環球分析測試儀器有限公司作為其國內代理

，并提供用戶應用和技術服務支持，因為我們維修部與其他公司盈利性質維修部不一樣，在保修期間，

其他公司一次維修費用大約2000到3000元左右，是我們的幾倍。

香港環球分析測試儀器有限公司銷售工程師：錢磊電話：021－54259540 13661535228 傳真:021-54259442 郵箱：leoqian@163.com

KDS-3A金屬分析儀

一、KDS-3A金屬分析儀性能特點：金屬分析儀采用智能動態跟蹤和標準曲線非線性回歸等技術，直讀含量，自動打印結果。采用微機技術自動跟蹤檢測，可儲存多條標準曲線，斷電不受影響。標準曲線自動建立，自動判斷檢測誤差，確保數據。采用了的冷光源技術使數據更加穩定。

二、KDS-3A金屬分析儀技術參數：測量范圍（以Mn、P、Si、Cr、Ni、Mo.......為例）： Mn：0.010-15.00% P:0.005-0.500% Cr:0.01-30.00% Si:0.10-5.00% Ni:0.01金屬分析儀-30.00% Mo:0.01-6.00%......（若改變測試方法，可擴大測量元素的種類和含量范圍）測量精度：符合GB223.3-5-1988標準比色時間：約3秒

該公司產品分類：碳硫分析儀多元素分析儀五大元素分析儀硅錳磷分析儀有色金屬分析儀鋅合金分析儀高頻紅外碳硫儀化驗室設備碳硫聯測分析儀鉻鎳鉬銅測定儀鑄造用分析儀器爐前快速分析儀光譜分析儀金相顯微鏡便攜式看譜儀(鏡) 金屬元素分析儀合金分析儀爐前鐵水分析儀鐵合金分析儀碳硫儀

EDX3000BROHS指令有害金屬分析儀器

◎無損樣品,前處理簡單 ◎能分析出塑料中含有的1PPm的鎘 ◎直觀的分析界面 ◎自動編制附帶合格與否判定結果的分析表一、技術指標 X熒光光譜儀ROHS指令檢測主要技術指標 1.檢測儀器SkyrayEDX3000B 2.樣品室尺寸：A型400＊500＊300MM B型1000＊1000＊300MM 3.測量時間：200秒 4.高壓：25-50KV 5.管流：50--1000uA 6.計數率：1300-8000Cps 7.ROHS指令有害元素分析儀檢出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br達1PPM 8.電致冷硅針半導體探測器 9.加強金屬元素感度分析 10.分析范圍：１ppm--99.99% 11.測量元素：歐盟ＲＯＨＳ有害微量元素Cd/Pb/Cr/Hg/Br，其中對ＰＢＢ、ＰＢＤＥ只能測其Ｂr總量，對六價鉻只能測其Cr的總量，通過有償服務可以增加鍍層膜厚分析軟件與其相關標樣可以擴展測到從鉀到軸等７３種元素二、主要配置主要部件： - 主機壹臺，含下列主要部件： •X光管：使用壽命大于5千小時 •探測器：電制冷半導體探測器；分辨率：170±10電子伏特 •放大電路； •高壓系統：從25KV～50KV，1毫安 •樣品腔：開放式大樣品腔（1000mm＊1000mm＊300mm） •計數率：1300-8000計數率/秒 •ROHS分析軟件測塑料中ROHS指令及金屬中ROHS指令的軟件。三、應用領域 § 化學工業無機有機制品、化學纖維、催化劑、涂料、顏料、藥品、化妝品、洗滌劑、橡膠、調色劑等 § 陶瓷、水泥、水泥原料、熟料、石灰石、粘土、玻璃、耐火材料、巖石等 § 電子磁性材料半導體、磁光盤、磁性材料、電池、線路板、電容器等 § 農業、食品土壤、肥料、植物、食品等 § 鋼鐵生鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、爐渣、鐵礦石、鐵合金、表面處理鋼板、電鍍液、鑄造砂等 § 環境工廠廢水、海水、河水、大氣粉塵、工業廢物等 § 石油、煤炭石油、重油、潤滑油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等 § 紙張、紙漿涂布紙、滑石、調色劑、墨水等 § 有色金屬銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等

聯系人：郁光照　電話：０７６９－２２３０５４１６(手機13790221005)

X-謝線鍍層測厚及金屬分析儀/螢光X線膜厚計

FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及XDLM@—C4是采用數學計算方法來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣可以測量。它還采用獨一的焦距距離計算辦法(DCM)，操作員現在可以隨時改變焦距測量，對一些形狀復雜的工件尤其方便。FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括：特大及槽口式的測量箱、向下投射式X—射線，方便對位測量、軟件在視窗98下操作、可在同一屏幕清楚顯示測量讀數及工件的位置。

Fischerscop@X—RAY System XDL@一B及XDLM@一C4的設計是專門測量金屬鍍層厚度的儀器，它是采用WinFTMV．3的軟件，計算方面用了的FP(FUrldamental Parameter)、DCM(Distance Con“olled Measurement)及強大的電腦功能， X—RAY XDL —B及XDLM —C4已經可以在不使用標準片調校儀器之下，一樣可以進行測量。應用方面:罩性金屬鍍層厚度測量，例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au； Sn等合金(兩樣金屬元素)鍍層厚度測量，例如： SnPb； ZnNi；及NiP(無電浸鎳)在Fe上等合金(三檬金屬元素)鍍層厚度測量，例交口： AuCuCd在Ni上等雙鍍層厚度測量，例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黃銅上等雙鍍層厚度測量(其中一層是合金層)，例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青銅上等三鍍層，例如： Cr／Ni／Cu在塑膠或在鐵上金屬成份分析，最多可以分析四種金屬元素規格:主機——高650mmx闊570mmx深740mrn；重55kg測量箱一高300mmx闊460mmx深500mmXDL@—B：圓形準值器一中0．3mmXDLM@—C4：4倜準值器一中0．1 mm；中O，2mm；中0．3mm及0．05X0．3mmX一射線向下投射主機上有直接測量鍵可調校X一射線管高壓： 30kV，40kV或50kV彩色顯示測量位置，焦距距離計算辦法(DCM)最大焦距調節為80mm外置式電腦(Pentium或同級)及VGA彩色屏幕可選配自動或手動的測量臺

Niton XRF Xlt797z手持式塑料及有害金屬分析儀

塑料模式: 1８種標準元素塑料樣品中包括的元素: 氯、鈦、釩、鉻、鐵、銅、鋅、硒、砷、溴、鎘、錫、銻、汞、鉛、鉍、金、鎳。合金模式: 2６種標準元素合金、焊料以及金屬制品中的元素: 鈦、釩、鉻⒚獺⑻⒛�、钴、镍、铜、锌、硒、锆、钶z㈩�、钯、银、镉、铞棦锡、锑、铪、钽、铂、金、铅、顧� .

手持式Niton 塑料與合金分析儀在進行檢測方面應用具有： ·快速，直觀：通常使用100秒的檢測時間就可達到ROHS法令的要求·無損不破壞：由于采用X熒光能量色散原理，不需要取樣及破壞待測樣品·操作簡便: 并且不需要專門使用專業檢測人員,普通QA員工經過1天左右培訓后就能熟練操作該儀器。

X射線重金屬分析儀

歐盟限制使用有害物質條例(RoHS)將在2006年7月1日正式實施。RoHS條例嚴格控制電子與電氣產品中的Pb、Hg、Cd、Cr6+、和Br(PBB 和PBDE)含量。
為了確保產品符合RoHS條例，生產商和供貨商，甚至產品回收商都必須對所有電子部件進行驗證。手持式XRF分析儀是針對RoHS條例的測試工具。
牛津儀器發布了新型號的X-Met3000TXR手持式XRF光譜儀——采用X射線管作為激發源；輕便、快捷；可實現快速、的RoHS條例篩選分析；專門為測量塑料、焊料和印刷線路板中的重金屬含量而設計。
牛津儀器的手持式X-Met3000TXR是一款使用方便、安全的無損分析工具，針對RoHS條例對塑料和其它電子部件進行篩選性分析。X-Met可實現對所有受限制元素(Pb、Cd、Hg、Cr及Br)的定量分析。
僅需使用一臺X-Met3000TXR便可實現對不同材料的分析：電纜、PCB、零部件、塑料外殼、焊料、緊固件等。同時，X-Met也是便捷的現場質量控制工具，實現其它各種元素的分析，比如焊料中的Ag、Cu、Bi……；塑料中的Cl、Ti、Ca、Zn……
使用X-Met進行RoHS篩選性分析，可馬上獲得分析結果，避免了常規試驗室分析的結果延遲�？煽焖俚墨@得結果，因此可對大量的樣品進行分析。測量結果可簡單地通過無線連接傳輸到PC中，以便進行進一步的檢查和生成分析報告。
應用范圍： RoHS – WEEE – 無鉛化 – ElV – 包裝材料產品信息：使用一臺儀器實現對RoHS條例的篩選性分析。

· 零部件、連接器、PCB中的Pb含量

·焊料中的Pb, Cu, Fe, Ag, Bi

·聚合材料中的Br, Pb, Hg, 和Cd

·框架和緊固件中的涂層，如Cr

· 其他材料中的Cr, Pb, Cd, Hg, Br和其他感興趣的元素

HXS-3C供應HXS-3C型微機有色金屬分析儀

主要技術參數：l 分析方法：光電比色分析法 l 測量精度：符合GB223.3~5-88標準。

主要特點：l 儀器有鋁合金分析儀、銅合金分析儀二種。l 可分析鋁合金中：硅、銅、鐵、鎂、鈦、錳、鉻、鎳等元素。銅合金中：鐵、鉻、錳、硅、銅等元素。l 采用微機控制及數據處理，可儲存12條曲線，并可進行曲線修正，具有斷電數據保護等功能。 l 測量結果數顯直讀，自動打印。l HXS-4C型微機有色金屬分析儀，可分析鋁合金和銅合金中元素

9600原子發射ICP光譜儀重金屬分析ICP光譜儀微量元素分析ICP光譜儀

詳細說明：

一、應用范圍（可分析周期表中所有金屬元素和部分非金屬元素）

1．鋼鐵及其合金的分析：包括碳素鋼、鑄鐵、合金鋼、高純鐵、鐵合金等。

2．有色金屬及其合金的分析：包括有色金屬及其合金、稀有金屬及其合金、貴金屬、稀土元素及其化合物。

3．水質樣品的分析：包括飲用水、地表水、礦泉水、高純水及廢水等。

4．環境樣品的分析：包括固體廢物、土壤、粉煤灰、大氣飄塵等。

5．地礦樣品的分析：包括地質樣品、礦石及礦物等。

6．動植物及生化樣品的分析：包括植物、中藥及動物組織、生物化學樣品等。

7．核工業產品的分析：包括核燃料、核材料等。

8．食品及飲料的分析：包括食品、飲料等。

9．化學化工產品的分析：包括化學試劑化工產品無機材料化妝品油類等。

二、主要技術參數

射頻發生器（RF）(1) 電路類型：電感反饋式自激振蕩電路，全自動點火，全自動化控制，所有功能實現電腦設置(點火、熄火、功率等參數設置)；實時功率控制；自動匹配調諧；光室恒溫；自動峰位校正；蠕動泵進樣，泵速連續可調；針對不同樣品有多種進樣系統可以選擇(普通進樣系統、耐高鹽進樣系統、耐氫氟酸進樣系統)；防紫外線輻射、防高頻輻射觀察玻璃，使操作更安全。

同軸電纜輸出，匹配調諧，取功率反饋，進行閉環自動控制。(2) 工作頻率：40.68MHZ±0.05% (3) 頻率穩定性：<0.1% (4) 輸出功率：800－1200w (5) 輸出功率穩定性：≤0.3% (6) 電磁場泄漏射強度：距機身30cm 電場強度E：<2V/m，磁場強度H：<0.2A 進樣裝置:(1) 輸出工作線圈內徑25mm，3匝 (2) 炬管：三同心Fassel型，外徑20mm的石英炬管 (3) 同軸型噴霧器外徑6mm (4) 雙筒形霧室外徑35mm (5) 氬氣流計規格和載氣壓力表規格： ①、等離子體流量計（100-1000）L/h ；(1.6-16L/min) ②、輔助氣流量計（10-100）L/h ；(0.16-1.66L/min) ③、載氣流量計（10-100）L/h ；(0.16-1.66L/min) ④、載氣穩壓閥（0-0.4MPa）

測光裝置:(1) 光電倍增管規格： R212UH (2) 光電倍增管負高壓：200-1000V ，穩定性<0.05% (3) 光電倍增管電流測量范圍：10^-12 -10^-4A (4) 信號采集為V/F交換：1mV對應100Hz

分光器:(1) 光路: Czerny- Turner (2) 焦距: 1000mm (3) 光柵規格：離子刻蝕全息光柵，刻線密度3600線/mm，

刻線面積: 80×110mm，線色散率倒數：0.26nm (4) 波長范圍：190-500nm (5) 分辨率: ≤0.008nm (6) 掃描波長范圍3600線/mm 掃描波長范圍：190-500nm(7) 步進電機驅動小步距：0.0005nm (8) 入射狹縫：20µm 出射狹縫：25µm(9) 發射鏡規格：（78 × 105 × 16）mm (10) 透鏡ф30，1：1成像

三、檢測元素及其檢出限：

四、產品特點

1.分析速度快一分鐘快分析15個元素以上

2.精密度高相對標準偏差RSD≤1.5%

3.穩定性好相對標準偏差RSD≤2.0%

4.檢出限低 μg∕L

5.分析元素多可對70多種元素進行定量分析

6.操作便捷 Windows運行環境功能齊全

7.全自動點火氣路智能控制，實現軟件點火，更方便

8.安全有冷卻水保護、氬氣保護、滅弧保護更安全

采用多重屏蔽和良好的接地，使儀器輻射小于2V/m (JJG768-2005規定小于

10V/m)。更好地操作者的安全。

該公司產品分類：水質分析儀/多參數水質分析儀光譜儀 ICP光譜儀

SHB-3W型有色金屬分析儀

主要特點： ◆ 采用微機控制及數據處理，可進行曲線修正，具有斷電數據保護等功能�！� 測量結果數顯直讀，自動打印。

該公司產品分類：碳硅分析儀爐前鐵水分析儀高頻紅外碳硫分析儀電弧紅外碳硫分析儀鐵水分析儀鑄造化驗儀器爐前分析爐前鐵水分析儀碳硫分析儀元素分析儀紅外碳硫分析儀測溫儀爐前化驗金相圖像分析爐前鐵水分析儀

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