研磨介質球產品及廠家
e型介質損耗測試儀用于現場抗干擾介損測量，或試驗室精密介損測量。儀器為一體化結構，內置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。采用變頻抗干擾和傅立葉變換數字濾波技術，全自動智能化測量，強干擾下測量數據非常穩定。測量結果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機可打印輸出
更新時間:2025-12-01
日立高新離子研磨裝置im4000（hitachi ion milling system im4000 ）具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器！日立高新離子研磨裝置im4000（hitachi ion milling system im4000 ）的混合模式帶有兩種研磨配置：斷面加工：將樣品斷面研磨光滑，便于表面以下結構高分辨成像。
更新時間:2025-12-01
afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環節上提供全自動操作平臺。新開發的高精度掃描器和低噪音3軸感應器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現同一視野的相互觀察分析。
更新時間:2025-12-01
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