場發射掃描電鏡產品及廠家
jem-f200 場發射透射電子顯微鏡，以節能環保、減排低碳為理念開發的jem-f200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2025-11-21
德國zeiss場發射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時間:2025-11-21
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產品系列憑借其最先進的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標準。
更新時間:2025-11-21
shnti的x-射線薄膜窗能夠實現軟x-射線(如真空紫外線)的最大透射率。主要用于同步輻射x射線透射顯微成像時承載樣品。 x-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀態工作（即薄膜與光束成一定角度）時，也需要較薄的薄膜窗口，便于x射線更好地穿透。
更新時間:2025-11-14
安捷倫8500fe-sem為研究者提供場發射掃描電鏡。這個緊湊、創新的系統優化了低電壓成像，特別是表面高對比度，可以得到一般在更大，更昂貴的場發射顯微鏡才能得到的分辨率。8500安裝使用很方便，不需特別的場地要求，只需一個接線板。設計緊湊，為實驗室中的研究者提供了以前只有傳統場發射電鏡才能得到的性能。8500經過精心設計，可以提供持續，可重復的性能，成本是業界最低的
更新時間:2025-11-14
現有機型su8240,su8230,su8220及su8010重新整合，衍生而成regulus8240、regulus8230、regulus8220、regulus8100。
更新時間:2025-11-14
su7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質圖像，而且還可以同時接收多種信號。此外，它還具備大視野觀察、in-situ觀察等fe-sem的眾多卓越性能。su7000是一臺實現了信息獲取量大化的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。
更新時間:2025-11-14
秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導電樣品、完全防震、性能穩定的特點，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發射電子源臺式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優于 1.5nm
更新時間:2025-11-04
zeiss商業化電鏡的歷史和經驗已超過60年，其技術先進、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應用。zeiss不斷追求、推出新的技術和新的產品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現zeiss電子顯微鏡高價值 和高利用性。
更新時間:2025-11-02
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場發射掃描電鏡。目前歐美地區比較推崇熱場發射電鏡，而日本較熱衷于冷場發射電鏡。該場發射掃描電鏡主要有如下特點：
更新時間:2025-11-02
特點：1. 優秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm2. 日立專利的exb設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能5. 標配有冷指、電子槍內置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成
更新時間:2025-10-27
臺式掃描電鏡 2013年5月7日，日立高新技術公司推出臺式掃描電鏡tm3030。 日立高新生產和銷售的電子顯微鏡廣泛用于各行業的研究和開發、質量管理等，包括納米技術和生物技術領域。臺式顯微鏡目前在全世界范圍內廣泛使用，主要應用領域包括私營企業、政府機關、科學博物館、以及教育機構如大學、學院、小學和初中學校。臺式
更新時間:2025-10-27
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場發射掃描電鏡采用成熟的gemini光學系統設計，分辨率超過0.8nm，為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于一流的eds幾何學設計使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數據。多種探測器的選擇使sigma500/vp可以精準的匹配您的應用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結構、薄膜、涂層和多層的圖像信息。【技術參數】分辨率： 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時間:2025-10-27
可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術的大型掃描電鏡，標配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉，可應對最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機型提高2.5倍*2)的樣品
更新時間:2025-10-27
在以納米技術和生物技術為主的產業領域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-10-27
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續機型開發的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-10-27
日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2025-10-27
日立高新場發射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采用日立高新技術公司全新開發的冷場電子槍，實現超高分辨率下觀察的同時，穩定的束流亦可滿足長時間下的分析需求。在日立高新的新型冷場發射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中，有su8220、su8230、su8240三款機型，于5月20日開始
更新時間:2025-10-27
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬倍穩定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。新的電子槍和電子光學設計提高了低加速電壓性能。
更新時間:2025-10-27
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場發射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經過實地驗證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術以及肖特基熱場發射電子槍技術。
更新時間:2025-10-27
日立高新超高分辨場發射掃描電子顯微鏡su8000系列（hitachi uhr fe-sem su8000 series，su8010，su8020，su8030，su8040）具有共同的卓越功能，諸如超高分辨率技術（1.3nm/1.0kv），信號探測系統范圍廣，可操作性強，便于用戶操作等。
更新時間:2025-10-27
--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質圖像-- 日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時間:2025-10-27
、微電腦液晶顯示屏，可在線實時監測ro水和up水水質2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產水水質進水要求
更新時間:2025-10-27
日立發布的200kv球差校正透射電鏡hf5000，具有高穩定冷場發射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現自動球差校正，haadf-stem分辨率可以達到0.78埃；可配置eds雙探頭，固體角最大可達2.0sr；具備tem、stem，sem和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺經過了重新設計，顯著提升了儀器的性能和穩定性......hf5000將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
更新時間:2025-10-27
日立新一代全數字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產品ruli tem，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。ht7800系列產品有兩個型號ht7800和ht7830。
更新時間:2025-10-27
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能，觀察結束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現更多功能。可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經驗尋找目標位置*1，現在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-10-27
此次推出的su7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據不同的觀察信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。 而且，su7000還配置了可同時6通道顯示界面（前代機型只能同時顯示4通道），進一步升級電鏡控制系統，大幅提高了信號獲取速度，由此實現了樣品的高效率觀察。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時間:2025-10-27
【hitachi】日立高性能鎢燈絲掃描電鏡su3500通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進科技“獨具匠心”。
更新時間:2025-10-27
【hitachi】日立新型熱場發射掃描電鏡su5000高穩定性熱場發射電子槍， 全新的em wizard軟件，無需設置參數即可獲得高質量圖片，高分辨率和強大的分析能力，樣品適用性強：不導電樣品直接觀察（低真空功能，10-300pa）
更新時間:2025-10-27
日立新型鎢燈絲掃描電鏡flexsem1000 ii 體積小、操作簡單、性能強（4nm@20kv）、擴展功能豐富2. 擁有多個探測器（se、bse）3. 擁有低真空功能，不導電和含水樣品直接觀察
更新時間:2025-10-27
日立l型fib-sem-ar三束系統nx9000能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現特定顯微切片的三維結構分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結構，而不是常見的對角構造。
更新時間:2025-10-27
日立高分辨型雙束系統nx5000可以避免樣品損傷，為超薄樣品和復雜的制備提供了新的解決方案，可以滿足納米材料、半導體材料、生物材料等多種樣品的快速、無損、精細加工。
更新時間:2025-10-27
日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡su3900采用超大的樣品倉和多接口設計，適合超大樣品的觀察（直徑300mm）以及多種分析功能的拓展。同
更新時間:2025-10-27
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡su3800采用全新的hexbias偏壓技術，使其低電壓性能大大提升，同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得su3800的觀察能力進一步提升。
更新時間:2025-10-27
日立透射電鏡ht7820 繼承了標準版ht7800高速cmos熒光屏相機設計、全數字化、大集成等優點和創新點，仍然采用第二代雙隙物鏡的設計，設計使用高分辨物鏡，標配lab6燈絲，性能實現突破性提升。
更新時間:2025-10-27
"regulus系列"是日立高新技術的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續機型開發的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-10-27
【hitachi】日立新型臺式掃描電鏡tm4000plus可在樣品倉內加裝光學相機來拍攝照片，以往通過經驗尋找目標位置*1，現在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調整的操作，現在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-10-27
【hitachi】日立120kv透射電鏡ht7800 很好地繼承了日立120kv-tem的基本理念，兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察，可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高分辨兩種模式于一體，可同時滿足軟材料/納米材料類和生命科學類客戶對電鏡的需求。
更新時間:2025-10-27
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